技術(shù)編號(hào)：12780646
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于測(cè)控系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種嵌入式測(cè)試存儲(chǔ)系統(tǒng)。背景技術(shù)隨著微電子技術(shù)和半導(dǎo)體工業(yè)的不斷創(chuàng)新和發(fā)展，VLSI電路集成度和工藝水平不斷提高，深亞微米工藝已經(jīng)走向成熟，使得在單芯片上完成系統(tǒng)級(jí)整合成為可能，從而實(shí)現(xiàn)片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)SoC(SystemonChip)。同時(shí)在計(jì)算機(jī)硬件性能大幅提升，高性能EDA工具的不斷開(kāi)發(fā)的前提下，基于IP核復(fù)用技術(shù)的SoC設(shè)計(jì)在電子行業(yè)中迅速推廣，降低了產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)成本和周期，極大的提高了設(shè)計(jì)效率。目前，測(cè)試存儲(chǔ)系統(tǒng)仍采用“主板+存儲(chǔ)器+顯示屏+測(cè)試...
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該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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