技術(shù)編號：12735831
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于檢測裝置，尤其涉及晶片電阻檢測與切割裝置。背景技術(shù)電子市場發(fā)展迅速，電子被動元件如晶片電阻發(fā)展已成高品質(zhì)、微型化，在晶片電阻檢測與切割流程中，傳統(tǒng)的由原來的人工用顯微鏡通過肉眼來檢測晶片電阻的外觀及缺陷，但人工檢測有諸多的缺點(diǎn)，一方面人的肉眼在長時間觀察后會產(chǎn)生疲勞，從而導(dǎo)致晶片電阻品質(zhì)不穩(wěn)定、生產(chǎn)效率低下、被檢晶片電阻外觀精度不夠；另一方面會導(dǎo)致產(chǎn)品浪費(fèi)較多，如果晶片電阻中有檢出一顆不良產(chǎn)品，則會連同當(dāng)顆的一整列都放棄不要。晶片電阻的外觀及缺陷檢測在整個制程中非常關(guān)健，如缺陷檢測無法...
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