技術(shù)編號：12593047
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及科研用試驗(yàn)臺(tái)，特別涉及一種實(shí)驗(yàn)檢測臺(tái)及檢測方法。背景技術(shù)在科研的日常實(shí)驗(yàn)中，對實(shí)驗(yàn)樣品，特別是針對載片等片狀樣品的檢測對實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響非常重要，現(xiàn)有的片狀載體上的樣品檢測收到環(huán)境影響很大，測試環(huán)境中的溫度、濕度及灰塵等環(huán)境需要嚴(yán)格控制在同一標(biāo)準(zhǔn)下，現(xiàn)有的檢測設(shè)備對這些參數(shù)的控制并無法達(dá)到更高的要求，特別的，現(xiàn)有的檢測設(shè)備在對片狀載體上的樣品的檢測受設(shè)備影響較大，檢測設(shè)備的檢測空間有限，導(dǎo)致需要將每個(gè)載片放入到檢測空間中進(jìn)行檢測再取走，對于實(shí)驗(yàn)室巨大的測試實(shí)驗(yàn)來講是一個(gè)效率制約的瓶頸。發(fā)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。