技術(shù)編號(hào):12511779
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開內(nèi)容總體涉及電連接器,更具體地,涉及一種具有可旋轉(zhuǎn)柱塞的電探針以及相關(guān)的制造方法。背景技術(shù)在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中,作為生產(chǎn)過(guò)程的一部分,測(cè)試系統(tǒng)被用來(lái)測(cè)試和驗(yàn)證集成電路(IC)芯片。該測(cè)試系統(tǒng)通常包括一個(gè)用于接收IC芯片的插座(socket)主體、一個(gè)用于測(cè)試該IC芯片的印制電路板(PCB)以及一個(gè)用于提供IC芯片與PCB之間的電連接的電連接器。該電連接器可以包括定位在插座主體內(nèi)部的多個(gè)電探針。每個(gè)電探針可以包括一對(duì)柱塞以及一個(gè)布置在該對(duì)柱塞之間的彈簧。所述柱塞和該彈簧可以被接收在一個(gè)殼體(...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。