技術(shù)編號：12466304
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及元素測定，特別是涉及一種基于全反射X射線熒光分析的元素檢測方法。背景技術(shù)全反射X射線熒光光譜(TXRF)儀以其測試精度高、攜帶方便等優(yōu)點目前正被現(xiàn)場應(yīng)急測試領(lǐng)域越來越廣泛的應(yīng)用。TXRF儀的激發(fā)原理與普通XRF儀的激發(fā)原理不同，其要求X射線在空氣中或真空中以低于臨界角的角度掠射過樣品測試平臺的表面，消除原級X射線在反射體上相干或不相干的散射現(xiàn)象，使散射本底降低，提高檢出下限?；谏鲜龅娜瓷湓?，在利用TXRF儀測試土壤或污水樣品中的元素，尤其是痕量元素時，樣品制膜的厚度、面積及均勻度...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。