技術(shù)編號(hào)：12451065
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于銅離子檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種基于錳摻雜硫化鎘量子點(diǎn)檢測(cè)銅離子的方法。背景技術(shù)在過去幾十年的時(shí)間里，由于半導(dǎo)體納米粒子(QDs)具有窄的發(fā)射光譜、連續(xù)的吸收光譜、量子尺寸效應(yīng)、較強(qiáng)的熒光性質(zhì)以及完美的抗光漂白性等獨(dú)特的光學(xué)和電學(xué)性質(zhì)，因而得到廣泛的關(guān)注。而這些性質(zhì)又主要源于量子點(diǎn)比較大的比表面積以及量子限域效應(yīng)。量子點(diǎn)在生物以及醫(yī)藥上已經(jīng)表現(xiàn)出了很大的應(yīng)用前景，它可以用于傳感器、探針、光學(xué)成像、細(xì)胞分離以及進(jìn)行疾病的診斷等。同其它的量子點(diǎn)相比，CdSQDs具有更大的帶隙能譜以及更小的...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。