技術(shù)編號(hào)：12448776
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及納米材料制備與表征領(lǐng)域，涉及一種干法制作二維材料TEM樣品的方法。背景技術(shù)二維材料是指電子僅可在兩個(gè)維度的非納米尺度（1-100nm）上自由運(yùn)動(dòng)（平面運(yùn)動(dòng)）的材料，如納米薄膜、超晶格、量子阱。以石墨烯、二硫化鉬為代表的二維層狀材料展現(xiàn)了極其豐富的光、電、磁性及催化活性,在新能源、新材料、電子器件等方面具有廣泛的應(yīng)用前景。透射電子顯微鏡（TEM）是研究包括二硫化鉬在內(nèi)的納米材料一種有效工具，其分辨率比光學(xué)顯微鏡高的很多，可以達(dá)到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬(wàn)～百萬(wàn)倍。TEM樣品制備在...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。