技術(shù)編號：12194885
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及芯片測試裝置，尤其涉及一種可適配于多種不同尺寸的芯片的芯片測試裝置。背景技術(shù)隨著電子科技的發(fā)展，各式各樣的芯片不斷地被開發(fā)出來，開發(fā)出來的芯片通常需經(jīng)過電性測試，以確定其功能是否正常。圖1a、1b及1c表示現(xiàn)有的芯片測試裝置，用于檢測芯片。現(xiàn)有的芯片測試裝置主要包括一個框體10、多數(shù)個連接器20，一個蓋體30以及一個外框40。在外框40中形成一容納空間42，框體10安裝于容納空間42并通過將蓋板30鎖固于外框40而使框體10定位于容納空間42。在框體10中形成多數(shù)個容置孔12，每個...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。