技術(shù)編號：12126359
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于電阻抗層析成像(ElectricalImpedanceTomography，EIT)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種基于深度學(xué)習(xí)的電阻抗層析成像方法。背景技術(shù)電學(xué)層析成像技術(shù)(ElectricalTomography，ET)是自上世紀(jì)80年代后期出現(xiàn)的一種新的基于電特性敏感機理的過程層析成像技術(shù)，它的物理基礎(chǔ)是不同的媒質(zhì)具有不同的電特性(電導(dǎo)率/介電系數(shù)/復(fù)導(dǎo)納/磁導(dǎo)率)，通過判斷敏感場內(nèi)物體的電特性分布便可推知該場中媒質(zhì)的分布情況。電學(xué)層析成像技術(shù)在多相流及生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用前景，可以實...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。