技術(shù)編號：12033532
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于集成電路芯片的測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及應(yīng)用于高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器芯片的自動測試平臺及測試方法。背景技術(shù)高速ADC芯片(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)被廣泛應(yīng)用在雷達(dá)﹑光通訊、軟件無線電和移動通信等領(lǐng)域。隨著ADC芯片的轉(zhuǎn)換速率和采樣精度的不斷提高，產(chǎn)品量產(chǎn)后大量芯片的測試任務(wù)繁重并且非常重要，也對現(xiàn)有的測試系統(tǒng)提出更高的要求；測試任務(wù)包括測試ADC芯片的各種特性參數(shù)：靜態(tài)特性、動態(tài)特性、數(shù)據(jù)\時鐘輸出端特性及電源功耗特性等?，F(xiàn)在芯片制造領(lǐng)域的芯片量產(chǎn)測試是采用以測試機(jī)臺為主的測試方案，如ATE設(shè)備(Automa...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。