技術(shù)編號：11992442
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種電子顯微鏡，例如，涉及一種與測定電子射線的測定裝置有關(guān)的、根據(jù)透過觀察對象物的電子射線來分析對象物的組成、構(gòu)造的系統(tǒng)。背景技術(shù)在電子顯微鏡觀察中，對觀察對象物的組成、構(gòu)造進(jìn)行分析的需求很多。如非專利文獻(xiàn)1和2所示，該電子顯微鏡中的分析手法包括：能量分散型X射線分析(非專利文獻(xiàn)1，pp393-395)、利用電子射線能量損耗分光法的分析(非專利文獻(xiàn)1，pp380-384)、利用電子射線衍射法(非專利文獻(xiàn)1，pp25-26)的分析。并且，利用電子射線衍射法的分析包括：如非專利文獻(xiàn)1(pp...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。