技術(shù)編號(hào):11951114
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于精密計(jì)量與計(jì)算機(jī)應(yīng)用領(lǐng)域,具有涉及一種基于最小實(shí)體狀態(tài)的同軸度評定方法,可用于被測圓柱體有尺寸要求、其軸線的同軸度公差有最小實(shí)體要求并且其基準(zhǔn)要素有尺寸要求和最小實(shí)體要求的圓柱形幾何產(chǎn)品的同軸度誤差合格性檢測和評定,并為加工工藝的改進(jìn)提供指導(dǎo)。背景技術(shù)尺寸誤差、形位誤差(形狀誤差和位置誤差的簡稱)直接影響產(chǎn)品質(zhì)量、裝配及其使用壽命,準(zhǔn)確地計(jì)算零件誤差,具有重要的意義。尺寸公差(公差即誤差的允許范圍)和形位公差之間的關(guān)系稱為公差原則,其中,最小實(shí)體要求是體現(xiàn)零件可裝配性的一種公差原則。國...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
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