技術(shù)編號：11913550
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于掃描隧道譜測試裝置技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種固態(tài)勢壘接觸式恒力反饋超穩(wěn)定掃描隧道譜測試方法。背景技術(shù)由STM發(fā)展而來的掃描隧道譜學（STS）越來越發(fā)揮出巨大的作用，如i-v譜、di/dv譜、d2i/dv2譜、i-z譜或i-t譜的測量，在振動態(tài)、電子態(tài)和輸運等性質(zhì)的檢測方面。但STS譜測試存在干擾因素多、穩(wěn)定性差與可重復(fù)性差的問題，一直困擾著STS的發(fā)展。導(dǎo)致并不是每個能實現(xiàn)原子分辨率STM圖像的小組可以做STS測試，極大阻礙了納米科技的發(fā)展。目前，STS測試難以保證勢壘寬度的長期穩(wěn)定性，主...
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