技術(shù)編號(hào):11825735
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光學(xué)元件制備技術(shù),具體涉及一種基于表面等離子基元的全斯托克斯矢量偏振器的設(shè)計(jì)與制作。背景技術(shù)近年來(lái),隨著偏振技術(shù)的不斷發(fā)展,其在目標(biāo)識(shí)別與探測(cè)方面發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。有菲涅爾公式可知,當(dāng)物體在發(fā)射、反射、散射以及透射電磁波的過(guò)程中,會(huì)產(chǎn)生與自身特性相關(guān)的特定偏振信息。不同物體,甚至不同狀態(tài)的相同物體的偏振信息都會(huì)存在差別。偏振探測(cè)可以提供比傳統(tǒng)強(qiáng)度探測(cè)和光譜探測(cè)更多的關(guān)于目標(biāo)的信息。偏振成像技術(shù)成為傳統(tǒng)強(qiáng)度成像和光譜成像之外的第三種成像技術(shù),逐漸引起各國(guó)研究者越來(lái)越多的關(guān)注。偏振成...
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