技術(shù)編號：11777966
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于信號稀疏采樣技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種脈沖流信號FRI稀疏采樣中采樣核的核函數(shù)構(gòu)建方法及硬件電路實(shí)現(xiàn)。背景技術(shù)有限新息率(FiniteRateofInnovation，F(xiàn)RI)采樣理論是一種新型稀疏采樣方法，由Vetterli等人于2002年提出。該采樣理論以遠(yuǎn)低于奈奎斯特采樣頻率的速率對FRI信號進(jìn)行稀疏采樣，并可精確重構(gòu)原信號。該方法在提出之初，從理論上解決了狄拉克流信號、微分狄拉克流、非均勻樣條以及分段多項(xiàng)式這四類非帶限信號的稀疏采樣問題，只要按信號的新息率對其進(jìn)行稀疏采樣，再通過譜...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。