技術(shù)編號：11774893
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于缺陷檢測中的漏磁仿真技術(shù)領(lǐng)域，更為具體地講，涉及一種基于環(huán)電流的漏磁仿真方法。背景技術(shù)目前，缺陷檢測中的漏磁仿真方法主要分為基于磁偶極子模型的解析法和求解麥克斯韋方程的有限元數(shù)值計算法，但兩種方法均存在一定的局限性?；诖排紭O子模型的解析方法忽略了磁荷分布、缺陷形狀參數(shù)和鐵磁性材料的非線性磁化，不適用于時變磁場和復(fù)雜缺陷。而求解麥克斯韋方程的有限元數(shù)值計算法，不能得到漏磁信號和缺陷形狀的函數(shù)關(guān)系，計算過程需要耗費相當(dāng)大的計算資源和時間。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提出一...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
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