技術編號：11771866
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種礦物樣品片的制備方法。背景技術原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope，AFM)，是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結構的分析儀器。它的主要如下功能：1)表面形貌的表征：通過檢測探針-樣品作用力獲得樣品表面的三維形貌，可通過三維圖像對樣品表面的粗糙度、顆粒度、平均梯度、孔結構等性能進行分析；還可通過小范圍表面圖像分析還可得到表面物質(zhì)的晶形結構、聚集狀態(tài)、分子的結構、面積和表面積及體積等性能。2)表面物化屬性的表征：在探針接近甚至壓入樣品表面又隨后離開的過程...
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