技術(shù)編號(hào)：11727406
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及晶體微觀結(jié)構(gòu)的表征方法技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種分析掃描式勞厄衍射圖譜，對(duì)掃描式勞厄衍射圖譜中衍射峰進(jìn)行標(biāo)定的同時(shí)獲得掃描式勞厄衍射實(shí)驗(yàn)掃描區(qū)域的晶/相界分部信息的方法。背景技術(shù)材料的微觀結(jié)構(gòu)對(duì)材料的力學(xué)性能有顯著的影響，從而影響材料的服役使用。因此對(duì)材料的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征對(duì)研究材料的力學(xué)行為、失效機(jī)制從而改進(jìn)相關(guān)材料的材料加工工藝等具有重要意義?，F(xiàn)對(duì)材料微觀結(jié)構(gòu)的常用表征方法有光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM)、電子背散射衍射(EBSD)，傳統(tǒng)的X射線衍射(X...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。