技術(shù)編號：11705668
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及電學領(lǐng)域，尤其涉及一種負載檢測電路。背景技術(shù)負載測試(Loadtesting)，通過測試系統(tǒng)在資源超負荷情況下的表現(xiàn)，以發(fā)現(xiàn)設(shè)計上的錯誤或驗證系統(tǒng)的負載能力?，F(xiàn)有負載檢測的電路存在以下不足：不能檢測非常小的電流且檢測成本高。實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種負載檢測電路，從而解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的前述問題。為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型所述負載檢測電路，所述電路包括電源、接口、NMOS晶體管Q2和運算放大器；所述接口正極與所述電源連接，所述接口的負極分別與所述運算放大器的正極、N...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。