技術(shù)編號：11618442
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于熒光顯微鏡成像領(lǐng)域，具體涉及一種新型全內(nèi)反射熒光顯微鏡入射深度的標(biāo)定裝置及標(biāo)定方法。背景技術(shù)全內(nèi)反射熒光顯微鏡(totalinternalreflectionfluorescencemicroscopy,TIRFM)是近年來新興的一種光學(xué)成像技術(shù)，該技術(shù)利用全內(nèi)反射時(shí)產(chǎn)生的隱失波來激發(fā)熒光分子，以觀察熒光標(biāo)記樣品在靠近交界面的極薄區(qū)域。由于隱失波場存在能量在軸向上呈指數(shù)衰減的特性，使得可觀察區(qū)域的動(dòng)態(tài)范圍通常在200nm以下，有效地控制了激發(fā)體積，大大降低了背景光噪聲干擾，因此具有其它...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。