技術(shù)編號(hào)：11590707
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)仿真技術(shù)，尤其涉及一種存儲(chǔ)單元單粒子翻轉(zhuǎn)功能傳播率的計(jì)算方法及裝置。背景技術(shù)隨著半導(dǎo)體技術(shù)的迅猛發(fā)展，器件的特征尺寸和工作電壓越來越小，相應(yīng)地在宇宙空間中，數(shù)字集成電路抗單粒子效應(yīng)的臨界電荷也越來越小，單粒子效應(yīng)越來越明顯。存儲(chǔ)單元的單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)是數(shù)字集成電路中單粒子事件的主要來源之一，將使得電路運(yùn)行的正常功能發(fā)生錯(cuò)誤，從而威脅空間飛行器的安全?，F(xiàn)有的地面模擬空間單粒子效應(yīng)主要通過在重離子加速器上進(jìn)行單粒子輻射試驗(yàn)，由于在重離子加速器上進(jìn)行單粒子試驗(yàn)需要在真空、輻射等特...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請(qǐng)注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。