技術(shù)編號(hào)：11573591
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明大體涉及領(lǐng)域信號(hào)處理技術(shù)，尤其涉及一種用于計(jì)算機(jī)斷層掃描中的散射校正的信號(hào)處理方法及成像系統(tǒng)。背景技術(shù)非侵入式成像技術(shù)，例如計(jì)算機(jī)斷層掃描(ComputedTomography，CT)，允許物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖像在無(wú)需對(duì)物體執(zhí)行侵入式過程的情況下即可得到。在CT成像系統(tǒng)中，X射線測(cè)量值中的散射信號(hào)可能會(huì)導(dǎo)致陰影偽影，降低圖像解析度以及其他劣化圖像質(zhì)量的偽影。同時(shí)，來自物體的散射信號(hào)是來自CT成像系統(tǒng)的重構(gòu)圖像中的定量測(cè)量值的偏移的主要來源之一。因此，有必要降低或消除來自待測(cè)量物體的散射的影響...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。