技術(shù)編號:11531165
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。平均電壓帶檢測以及用于調(diào)整ASIC中電壓的用途背景技術(shù)本申請涉及確定并調(diào)整集成電路(諸如非易失性存儲器控制器)上的核操作電壓的技術(shù)/非易失性存儲器設(shè)備的控制器電路頻繁地具有電壓調(diào)節(jié)器。所述調(diào)節(jié)器的電壓電平取決于工藝。在晶片分類過程中,針對適當?shù)碾妷弘娖絹頊y試每個裸片上的每個電壓調(diào)節(jié)器,并且所述調(diào)節(jié)器被微調(diào)以便提供所需的電壓電平。微調(diào)的值則可存儲在電路上的一次性可編程存儲器中。下一次,當裸片被上電時,可讀取存儲在一次性可編程存儲器中的值,并且將調(diào)節(jié)器的電壓電平升高/降至期望的水平。還可針對ASIC...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼,用于學(xué)習原理,如您想要源代碼請勿下載。