技術(shù)編號：11515840
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于納米半導體材料領域，具體涉及一種測量微量物質(zhì)的方法。背景技術(shù)微量物質(zhì)檢測技術(shù)對工程裝備、環(huán)境安全、反恐活動及科學研究等十分重要。例如，在高功率固體激光裝置中，微量的有機污染物就能嚴重影響光學元件性能，甚至引發(fā)光學元件的激光損傷，因此需要在線監(jiān)測納克量級的污染物；環(huán)境安全和反恐活動往往需要現(xiàn)場、實時、快速地檢測有毒、易燃、易爆等危險的微量物質(zhì)，以便進行數(shù)據(jù)的精確分析、預先采取預防措施，防患于未然。隨著檢測技術(shù)和設備的進步，檢測的精度和靈敏度得到很大的提升，例如，利用高分辨透射電子顯微鏡，...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。