技術編號:11406931
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及一種可調(diào)節(jié)高度的掃描電鏡樣品臺,屬于掃描電鏡耗材領域。背景技術掃描電子顯微鏡簡稱掃描電鏡,是一種利用電子束轟擊樣品,收集樣品表面信號從而成像的電子光學儀器。由于其具有制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高、景深大等特點,現(xiàn)已經(jīng)被廣泛地應用于材料、化學、生物、微電子等多領域的研究和工業(yè)生產(chǎn)。在掃描電鏡測試過程中,在形貌分析時,要求電子束與觀察的表面垂直,目前商用的掃描電鏡樣品臺功能單一,樣品的高度無法調(diào)節(jié),對樣品的形狀和厚度有限制,測試效率低,極大的限制了材料微觀表征的效果。發(fā)明...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。