技術(shù)編號：11341898
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及晶硅電池片檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種晶硅電池片光衰測試裝置。背景技術(shù)在晶硅電池片的生產(chǎn)過程中需要用標(biāo)準(zhǔn)電池對功率分選設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)，晶硅電池片存在光致衰減，輸出功率隨著光照不斷發(fā)生較大幅度的下降，但隨后趨于穩(wěn)定。導(dǎo)致這一現(xiàn)象發(fā)生的主要原因是光照或電流注入導(dǎo)致硅片中的硼和氧形成硼氧復(fù)合體，降低了少子壽命。光致衰減使晶硅電池片標(biāo)稱功率和實(shí)際功率不符，影響所標(biāo)設(shè)備的性能，最終導(dǎo)致批量生產(chǎn)的晶硅電池片功率的失真。解決晶硅電池片光致衰減制作穩(wěn)定的電池標(biāo)準(zhǔn)片對晶硅電池片及晶硅組件起著重要作用...
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