技術編號：11322500
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種X射線探測器，尤其涉及一種基于硅基光電探測器的硬X射線探測器。背景技術X射線在醫(yī)學診斷、無損檢測和安全檢查等領域具有重要的技術價值，在科研、生產(chǎn)、生活等許多領域得到了廣泛應用；硬X射線由于其穿透深度更深，在工業(yè)及醫(yī)療方面使用廣泛；現(xiàn)有的硬X射線探測器大多采用基于CsI、CdWO4等閃爍晶體的光子轉(zhuǎn)換原理來實現(xiàn)探測，目前，還沒有采用硅基探測器實現(xiàn)硬X射線直接探測成像的報導；基于閃爍晶體的硬X射線探測器在對硬X射線進行探測時，需要先通過光子轉(zhuǎn)換過程將X光子轉(zhuǎn)換為可見光子或者紫外光子，然...
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