技術(shù)編號：11322400
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本技術(shù)發(fā)明是一種針對射頻類產(chǎn)品在使用ATE(自動測試設備)進行CP測試時，對其進行校準的一種方法。背景技術(shù)眾所周知，射頻信號傳輸時需要傳輸線路能完好地阻抗匹配，這樣才能減少信號的反射。但ATE在對CP射頻產(chǎn)品進行測試時，由測試機發(fā)送的射頻信號會經(jīng)過測試轉(zhuǎn)接板、探針卡傳輸?shù)叫酒斎攵?，在此過程中，測試機內(nèi)部的信號源到信號輸出端口、轉(zhuǎn)接板以及探針卡上的走線阻抗匹配不理想、轉(zhuǎn)接板與測試機信號輸出端口的連接、轉(zhuǎn)接板與探針卡的連接，探針與芯片引腳(pad)的接觸均存在寄生的電容電感，這些必然造成射頻信號不...
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