技術(shù)編號：11322329
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及測試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種相位測量系統(tǒng)，還涉及一種相位測量方法。背景技術(shù)隨著科技水平的進(jìn)步，對于同頻信號之間的相位關(guān)系也越來越關(guān)注，且對于精度要求較高，已有相位測量方案需要分兩步進(jìn)行，先進(jìn)行“周期測量”，測量兩個信號的周期，然后再進(jìn)行“時間間隔測量”，測量兩個信號之間的時間差，然后按照公式計算得到相位。已有測量方案中，在進(jìn)行周期和時間間隔測量時，需要對硬件電路進(jìn)行切換，且兩個測量不能同時進(jìn)行，會造成較大的測量誤差，即兩次測量結(jié)果是在不同的硬件狀態(tài)下(信號傳輸路徑的時間延遲、遲滯窗的變化...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。