技術(shù)編號：11315121
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型屬于三維測量，尤其屬于三維測量平臺。背景技術(shù)三維重建是逆向工程的一部分，是逆向工程工藝流程中的首要環(huán)節(jié)，三維數(shù)據(jù)測量是測量設(shè)備通過特定的數(shù)字化方法將物體表面形狀轉(zhuǎn)換成空間幾何坐標(biāo)點，進而生成逆向建模所需數(shù)據(jù)的過程。依據(jù)測量設(shè)備與待測物體表面是否接觸，逆向工程三維表面測量技術(shù)可以劃分為接觸式和非接觸式兩種類型。接觸式測量方法的優(yōu)缺點:優(yōu)點:(1)測量技術(shù)成熟，精度高，一般可達到微米級，數(shù)據(jù)具有較高的準確性；(2)可以測量深孔等光學(xué)盲區(qū)；(3)不受待測表面的粗糙度、色澤、紋理、反光等特征影...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。