技術(shù)編號(hào)：11284360
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電磁推射膛內(nèi)速度測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種磁探針陣列裝置、電磁推射速度測(cè)量裝置及方法。背景技術(shù)彈丸的速度和位移的測(cè)量是常規(guī)武器重要的測(cè)試項(xiàng)目之一，電磁推射速度和位移的測(cè)試主要集中在膛內(nèi)和出口，與常規(guī)武器內(nèi)彈道測(cè)試不同，在電磁推射中可結(jié)合其機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)安裝各種各樣的傳感器用于測(cè)試。在電磁推射內(nèi)彈道測(cè)量中，B探針是一種常用的測(cè)量傳感器，又叫做磁探針，B探針可作為區(qū)截裝置，安裝在電磁推射裝置內(nèi)，當(dāng)電樞經(jīng)過的時(shí)候，會(huì)產(chǎn)出感應(yīng)電壓，在相鄰兩個(gè)磁探針之間的距離已知的情況下，通過測(cè)量產(chǎn)生感應(yīng)電壓之間...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。