技術(shù)編號：11118243
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及芯片加工設(shè)備，尤其是SOT外形集成電路芯片測試分選裝置。背景技術(shù)隨著微型集成電路芯片應(yīng)用領(lǐng)域的擴(kuò)大，芯片種類的增多，對芯片的檢測也成為一項重要工作，由于微型芯片（SOT外形集成電路芯片）的體積很小，給自動化測試工作時的傳送、定位造成一定困難，直接影響了芯片檢測效率，如何設(shè)計良好的自動化檢測設(shè)備以解決這些問題，是一個研究方向。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提出SOT外形集成電路芯片測試分選裝置，針對微小型芯片進(jìn)行優(yōu)化，能高效地對微型芯片進(jìn)行檢測。本發(fā)明采用以下技術(shù)方案。SOT外形集成電路芯片測試分選裝置...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。