法器120以及低通濾波器122。類比乘法器120接收輸出電壓信號Vout，以與參考電壓信號Vref相乘，產(chǎn)生乘積電壓信號Vm。低通濾波器122進(jìn)一步對乘積電壓信號Vm進(jìn)行濾波，以濾除交流成份并產(chǎn)生直流偏移電壓信號Vdc。
[0028]在一個(gè)實(shí)施例中，待測相位Θ是輸出電壓信號Vout的電壓與電流間的相位差，并由產(chǎn)生輸出電壓信號Vout的待測模塊2中的電路決定。舉例來說，當(dāng)待測模塊2包含相并聯(lián)的電容及電阻所形成的容阻電路時(shí)，電阻將決定整體阻抗的實(shí)部，而電容將決定整體阻抗的虛部。電阻相對電容愈大時(shí)將使輸出電壓信號Vout的待測相位Θ愈小，而電阻相對電容愈小時(shí)將使輸出電壓信號Vout的待測相位Θ愈大。
[0029]在一個(gè)實(shí)施例中，輸出電壓信號Vout的待測相位Θ是位于O度至90度的范圍內(nèi)，其中O度為相位最小值，90度為相位最大值。當(dāng)電阻相對電容愈大時(shí)將使輸出電壓信號Vout的待測相位Θ愈接近O度，而電阻相對電容愈小時(shí)將使輸出電壓信號Vout的待測相位Θ愈接近90度。
[0030]其中，當(dāng)參考電壓信號Vref的相位為O度時(shí)，和輸出電壓信號Vout相乘產(chǎn)生的直流偏移電壓信號Vdc將為輸出電壓信號Vout的實(shí)部。而當(dāng)參考電壓信號Vref的相位為90度時(shí)，和輸出電壓信號Vout相乘產(chǎn)生的直流偏移電壓信號Vdc將為輸出電壓信號Vout的虛部。
[0031]處理模塊14將從類比乘法模塊12接收直流偏移電壓信號Vdc。在一個(gè)實(shí)施例中，相位檢測裝置I可包含類比數(shù)位轉(zhuǎn)換模塊16 (在圖1以ADC標(biāo)識)，以將直流偏移電壓信號Vdc由類比形式轉(zhuǎn)為數(shù)位形式。因此，處理模塊14將接收到數(shù)位形式的直流偏移電壓信號Vdc0
[0032]處理模塊14進(jìn)一步根據(jù)直流偏移電壓信號Vdc以及參考電壓信號Vref計(jì)算待測相位Θ。在一個(gè)實(shí)施例中，當(dāng)待測相位為Θ，所檢測的實(shí)部為Real且虛部為Imag時(shí)，待測相位Θ將可以下式表示:
[0033]Θ = tan-1 (Imag/Real)
[0034]處理模塊14進(jìn)一步判斷待測相位Θ是否與相位最小值以及相位最大值其中之一的差值小于臨界值。
[0035]在一個(gè)實(shí)施例中，當(dāng)處理模塊14判斷待測相位Θ并未與相位最小值及相位最大值其中之一的差值小于臨界值時(shí)，表示此待測相位Θ不容易受到進(jìn)行檢測的元件如類比乘法模塊12及/或類比數(shù)位轉(zhuǎn)換模塊16包含的元件所影響，所測得的相位值較精準(zhǔn)。處理模塊14將直接以此階段測得的待測相位Θ作為檢測結(jié)果。
[0036]在一個(gè)實(shí)施例中，以上述相位最小值為O度以及相位最大值為90度為例，此臨界值可為10度。因此，當(dāng)待測相位Θ在不小于10度及不大于80度時(shí)，處理模塊14將直接以此階段測得的待測相位Θ作為檢測結(jié)果。在另一個(gè)實(shí)施例中，此臨界值可為20度。因此，當(dāng)待測相位Θ在不小于20度及不大于70度時(shí)，處理模塊14將直接以此階段測得的待測相位Θ作為檢測結(jié)果。
[0037]然而，當(dāng)處理模塊14判斷待測相位Θ與相位最小值及相位最大值其中之一的差值小于臨界值時(shí)，表示此待測相位Θ容易受到進(jìn)行檢測的元件如類比乘法模塊12包含的元件所影響，精確度將大幅下降。
[0038]此時(shí)，處理模塊14控制信號產(chǎn)生模塊10對驅(qū)動(dòng)電壓信號Vdrive進(jìn)行相位偏移。待測模塊2將根據(jù)相位偏移后的驅(qū)動(dòng)電壓信號Vdrive’，使原本的輸出電壓信號Vout的待測相位Θ根據(jù)相位偏移量△ Θ偏移至相位最小值以及相位最大值間的中間范圍。
[0039]在一個(gè)實(shí)施例中，中間范圍為相位最小值以及相位最大值間的相位中間值的正負(fù)十度的范圍。以上述相位最小值為O度以及相位最大值為90度為例，其相位中間值將為45度。因此，中間范圍將為45度的正負(fù)十度。也即，輸出電壓信號Vout的待測相位Θ根據(jù)相位偏移量A Θ偏移至45度的正負(fù)十度的范圍內(nèi)，即35度至55度之間。
[0040]類比乘法模塊12接收相位偏移后的輸出電壓信號Vout’，以與及該參考電壓信號以進(jìn)行相乘，產(chǎn)生相位偏移后的直流偏移電壓信號Vdc’。如前所述，類比乘法模塊12中的類比乘法器120將接收輸出電壓信號Vout’，以與參考電壓信號Vref相乘產(chǎn)生乘積電壓信號Vm’后，由低通濾波器122進(jìn)一步對乘積電壓信號Vm’進(jìn)行濾波并產(chǎn)生直流偏移電壓信號 Vdc?ο
[0041]處理模塊14根據(jù)相位偏移后的直流偏移電壓信號Vdc’、參考電壓信號Vref以及相位偏移量△ Θ計(jì)算待測相位Θ。在一個(gè)實(shí)施例中，在一個(gè)實(shí)施例中，當(dāng)待測相位為Θ，所檢測的實(shí)部為Real且虛部為Imag，且相位偏移量為△ Θ時(shí)，待測相位Θ將可以下式表示:
[0042]Θ = tan-1 (Imag/Real) - Δ θ
[0043]在一個(gè)實(shí)施例中，以上述相位最小值為O度以及相位最大值為90度為例，此臨界值可為10度。因此，當(dāng)待測相位Θ在小于10度及大于80度時(shí)，處理模塊14將控制信號產(chǎn)生模塊10對驅(qū)動(dòng)電壓信號Vdrive進(jìn)行相位偏移，并以相位偏移后的檢測作為檢測結(jié)果。在另一個(gè)實(shí)施例中，此臨界值可為20度。因此，當(dāng)待測相位Θ在小于20度及大于70度時(shí)，處理模塊14將控制信號產(chǎn)生模塊10對驅(qū)動(dòng)電壓信號Vdrive進(jìn)行相位偏移，并以相位偏移后的檢測作為檢測結(jié)果。
[0044]請參照圖2。圖2為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中，輸出電壓信號Vout及Vout’的示意圖。其中，輸出電壓信號Vout在實(shí)部軸上的分量為其實(shí)部Real，在虛部軸上的分量為其虛部 Imag0
[0045]如圖2所示，在本實(shí)施例中，由于輸出電壓信號Vout的實(shí)部Real遠(yuǎn)大于虛部Imag而使得待測相位Θ過于接近O度。因此，通過上述的相位偏移機(jī)制，將可產(chǎn)生具有相位偏移量Δ Θ的輸出電壓信號Vout’。此時(shí)，相位偏移后的輸出電壓信號Vout’的相位Θ+Δ Θ將不容易受到進(jìn)行檢測的元件如類比乘法模塊12包含的元件所影響，而可先測得相位Θ+Δ Θ后，再減去相位偏移量△ Θ獲得待測相位Θ。
[0046]因此，本發(fā)明的相位檢測裝置I可先通過檢測判斷待測相位Θ的大小后，進(jìn)一步在待測相位Θ過于接近相位最小值或相位最大值時(shí)，對具有待測相位Θ的輸出電壓信號進(jìn)行相位偏移，以獲得還精確的檢測結(jié)果。
[0047]請參照圖3。圖3為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中，一種測試系統(tǒng)3的方塊圖。測試系統(tǒng)3包含:治具30、多通道切換器32以及相位檢測裝置I。
[0048]本實(shí)施例中，治具30電性連接于待測模塊2。而相位檢測裝置I則通過電性連接于治具30的多通道切換器32以及治具30傳送驅(qū)動(dòng)電壓信號Vdrive及Vdrive’至待測模塊2，以及從待測模塊2接收輸出電壓信號Vout及Vout’。
[0049]請參照圖4。圖4為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中，一種相位檢測方法400的流程圖。相位檢測方法400可應(yīng)用于如圖1所示的相位檢測裝置I中。相位檢測方法400包含下列步驟。
[0050]在步驟401，通過信號產(chǎn)生模塊10產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)電壓信號Vdrive至待測模塊2，使待測模塊2產(chǎn)生具有待測相位Θ的輸出電壓信號Vout。
[0051]在步驟402，通過類比乘法模塊12接收輸出電壓信號Vout，以與參考電壓信號Vref進(jìn)行相乘，產(chǎn)生直流偏移電壓信號Vdc。
[0052]在步驟403，通過處理模塊14根據(jù)直流偏移電壓信號Vdc以及參考電壓信號Vref計(jì)算待測相位，以于步驟404判斷待測相位Θ是否與相位最小值以及相位最大值其中之一的差值小于臨界值。
[0053]當(dāng)待測相位與相位最小值以及相位最大值其中之一的差值不小于臨界值，處理模塊14于步驟405判斷此待測相位Θ為精確。