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自動(dòng)化測(cè)試裝置及方法

文檔序號(hào):8942992閱讀:892來源:國(guó)知局
自動(dòng)化測(cè)試裝置及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及通信技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種自動(dòng)化測(cè)試裝置及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著軟件行業(yè)的發(fā)展,對(duì)軟件質(zhì)量的要求越來越高,因此,對(duì)軟件測(cè)試的要求也要求越來越高。軟件測(cè)試是利用測(cè)試工具按照測(cè)試方案和用例對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行功能和性能測(cè)試,對(duì)測(cè)試出現(xiàn)的問題進(jìn)行分析和評(píng)估,以確保開發(fā)的產(chǎn)品適合需求。
[0003]目前,在對(duì)網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試的過程中,通常需要測(cè)試人員掌握腳本語(yǔ)言,然后按照腳本語(yǔ)言的語(yǔ)法要求進(jìn)行測(cè)試腳本的編碼與調(diào)試,由于編寫自動(dòng)化測(cè)試腳本需要掌握很多特定的函數(shù)、命令和參數(shù),且在每一次軟件測(cè)試時(shí)都需要根據(jù)測(cè)試用例編寫對(duì)應(yīng)的自動(dòng)化測(cè)試腳本,導(dǎo)致這種自動(dòng)化測(cè)試方法對(duì)測(cè)試人員的能力要求比較高,提高了學(xué)習(xí)成本。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種自動(dòng)化測(cè)試裝置及方法,旨在解決自動(dòng)化測(cè)試過程中學(xué)習(xí)成本高的技術(shù)問題。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供的一種自動(dòng)化測(cè)試裝置,所述自動(dòng)化測(cè)試裝置包括:
[0006]獲取模塊,用于在接收到終端發(fā)送的測(cè)試請(qǐng)求時(shí),獲取所述測(cè)試請(qǐng)求對(duì)應(yīng)的待測(cè)試項(xiàng)目以及所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試權(quán)限;
[0007]第一發(fā)送模塊,用于基于所述測(cè)試權(quán)限發(fā)送所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試設(shè)計(jì)界面至所述終端,以供用戶基于終端顯示的測(cè)試設(shè)計(jì)界面輸入所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試信息,其中,所述測(cè)試信息包括所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試數(shù)據(jù)及元素定位信息;
[0008]運(yùn)行模塊,用于在接收到所述終端發(fā)送的測(cè)試信息時(shí),基于所述測(cè)試信息運(yùn)行所述待測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本;
[0009]第二發(fā)送模塊,用于在所述測(cè)試腳本運(yùn)行完成時(shí),發(fā)送所述測(cè)試腳本的運(yùn)行結(jié)果至所述終端。
[0010]優(yōu)選地,所述運(yùn)行模塊包括:
[0011]確定單元,用于在接收到所述終端發(fā)送的測(cè)試信息時(shí),確定所述待測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本是否為定時(shí)測(cè)試的測(cè)試腳本;
[0012]運(yùn)行單元,用于在所述測(cè)試腳本為定時(shí)測(cè)試的測(cè)試腳本時(shí),定時(shí)運(yùn)行所述測(cè)試腳本。
[0013]優(yōu)選地,所述自動(dòng)化測(cè)試裝置還包括:
[0014]生成模塊,用于在接收到終端發(fā)送的所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試報(bào)告獲取請(qǐng)求時(shí),基于所述運(yùn)行結(jié)果生成所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試報(bào)告,并將所述測(cè)試報(bào)告發(fā)送至所述終端。
[0015]優(yōu)選地,所述自動(dòng)化測(cè)試裝置還包括:
[0016]存儲(chǔ)模塊,用于在接收到所述終端發(fā)送的測(cè)試信息時(shí),存儲(chǔ)所述測(cè)試信息。
[0017]優(yōu)選地,所述第一發(fā)送模塊包括:
[0018]發(fā)送單元,用于在服務(wù)器中存在所述測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試信息時(shí),基于所述測(cè)試權(quán)限發(fā)送包括所述測(cè)試信息的測(cè)試修改界面至所述終端,以供用戶基于終端顯示的測(cè)試修改界面修改所述測(cè)試信息的測(cè)試數(shù)據(jù)及元素定位信息;
[0019]更新單元,用于在接收到終端發(fā)送的修改后的測(cè)試數(shù)據(jù)及元素定位信息時(shí),基于修改后的測(cè)試數(shù)據(jù)及元素定位信息更新所述測(cè)試信息;
[0020]所述運(yùn)行模塊還用于基于更新后的測(cè)試信息運(yùn)行所述待測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本。
[0021 ] 此外,為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提供一種自動(dòng)化測(cè)試方法,所述自動(dòng)化測(cè)試方法包括以下步驟:
[0022]在接收到終端發(fā)送的測(cè)試請(qǐng)求時(shí),確定所述測(cè)試請(qǐng)求對(duì)應(yīng)的待測(cè)試項(xiàng)目以及所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試權(quán)限;
[0023]基于所述測(cè)試權(quán)限發(fā)送所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試設(shè)計(jì)界面至所述終端,以供用戶基于終端顯示的測(cè)試設(shè)計(jì)界面輸入所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試信息,其中,所述測(cè)試信息包括所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試數(shù)據(jù)及元素定位信息;
[0024]在接收到所述終端發(fā)送的測(cè)試信息時(shí),基于所述測(cè)試信息運(yùn)行所述待測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本;
[0025]在所述測(cè)試腳本運(yùn)行完成時(shí),發(fā)送所述測(cè)試腳本的運(yùn)行結(jié)果至所述終端。
[0026]優(yōu)選地,在接收到所述終端發(fā)送的測(cè)試信息時(shí),基于所述測(cè)試信息運(yùn)行所述待測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本的步驟包括:
[0027]在接收到所述終端發(fā)送的測(cè)試信息時(shí),確定所述待測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本是否為定時(shí)測(cè)試的測(cè)試腳本;
[0028]在測(cè)試腳本為定時(shí)測(cè)試的測(cè)試腳本時(shí),定時(shí)運(yùn)行所述測(cè)試腳本。
[0029]優(yōu)選地,在接收到所述終端發(fā)送的測(cè)試信息時(shí),基于所述測(cè)試信息運(yùn)行所述待測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本的步驟之后,所述自動(dòng)化測(cè)試方法還包括:
[0030]在接收到終端發(fā)送的所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試報(bào)告獲取請(qǐng)求時(shí),基于所述運(yùn)行結(jié)果生成所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試報(bào)告,并將所述測(cè)試報(bào)告發(fā)送至所述終端。
[0031]優(yōu)選地,基于所述測(cè)試權(quán)限發(fā)送所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試設(shè)計(jì)界面至所述終端,以供用戶基于終端顯示的測(cè)試設(shè)計(jì)界面輸入所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試信息的步驟之后,所述自動(dòng)化測(cè)試方法還包括:
[0032]在接收到所述終端發(fā)送的測(cè)試信息時(shí),存儲(chǔ)所述測(cè)試信息。
[0033]優(yōu)選地,基于所述測(cè)試權(quán)限發(fā)送所述待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試設(shè)計(jì)界面至所述終端,以供用戶基于終端顯示的測(cè)試設(shè)計(jì)界面輸入所述待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試信息的步驟包括:
[0034]在服務(wù)器中存在所述測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試信息時(shí),基于所述測(cè)試權(quán)限發(fā)送包括所述測(cè)試信息的測(cè)試修改界面至所述終端,以供用戶基于終端顯示的測(cè)試修改界面修改所述測(cè)試信息的測(cè)試數(shù)據(jù)及元素定位信息;
[0035]在接收到終端發(fā)送的修改后的測(cè)試數(shù)據(jù)及元素定位信息時(shí),基于修改后的測(cè)試數(shù)據(jù)及元素定位信息更新所述測(cè)試信息;
[0036]在接收到所述終端發(fā)送的測(cè)試信息時(shí),基于所述測(cè)試信息運(yùn)行所述待測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本包括:基于更新后的測(cè)試信息運(yùn)行所述待測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本。
[0037]本發(fā)明通過在接收到終端發(fā)送的測(cè)試請(qǐng)求時(shí),獲取測(cè)試請(qǐng)求對(duì)應(yīng)的待測(cè)試項(xiàng)目以及待測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試權(quán)限,接著基于測(cè)試權(quán)限發(fā)送待測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試設(shè)計(jì)界面至所述終端,然后在接收到終端發(fā)送的測(cè)試信息時(shí),在接收到終端發(fā)送的測(cè)試信息時(shí),基于測(cè)試信息運(yùn)行待測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試權(quán)限對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本,最后發(fā)送測(cè)試腳本的運(yùn)行結(jié)果至所述終端,實(shí)現(xiàn)了根據(jù)測(cè)試請(qǐng)求進(jìn)行待測(cè)試項(xiàng)目的自動(dòng)化測(cè)試,使得測(cè)試人員只需要進(jìn)行測(cè)試用例的簡(jiǎn)單設(shè)計(jì)而無需進(jìn)行測(cè)試腳本的編碼即可實(shí)現(xiàn)待測(cè)試項(xiàng)目的自動(dòng)化測(cè)試,降低了對(duì)測(cè)試人員能力的要求,減少了學(xué)習(xí)成本,進(jìn)一步地,本實(shí)施例根據(jù)測(cè)試請(qǐng)求對(duì)應(yīng)的測(cè)試權(quán)限進(jìn)行相應(yīng)的自動(dòng)化測(cè)試,使得同一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目可以同時(shí)進(jìn)行多種測(cè)試,提高了測(cè)試的效率。
【附圖說明】
[0038]圖1為本發(fā)明實(shí)施例自動(dòng)化測(cè)試裝置所涉及的硬件架構(gòu)示意圖;
[0039]圖2為本發(fā)明自動(dòng)化測(cè)試裝置第一實(shí)施例的功能模塊示意圖;
[0040]圖3為本發(fā)明自動(dòng)化測(cè)試裝置第二實(shí)施例的功能模塊示意圖;
[0041]圖4為本發(fā)明自動(dòng)化測(cè)試裝置第三實(shí)施例的功能模塊示意圖;
[0042]圖5為圖2中運(yùn)行模塊的細(xì)化功能模塊示意圖;
[0043]圖6為圖2中第一發(fā)送模塊的細(xì)化功能模塊示意圖;
[0044]圖7為本發(fā)明自動(dòng)化測(cè)試方法第一實(shí)施例的流程示意圖;
[0045]圖8為本發(fā)明自動(dòng)化測(cè)試方法第二實(shí)施例的流程示意圖;
[0046]圖9為本發(fā)明運(yùn)行測(cè)試腳本的步驟的細(xì)化流程示意圖;
[0047]圖10為本發(fā)明發(fā)送測(cè)試設(shè)計(jì)界面的步驟的細(xì)化流程示意圖。
[0048]本發(fā)明目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例,參照附圖做進(jìn)一步說明。
【具體實(shí)施方式】
[0049]應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。
[0050]其中,本實(shí)施例自動(dòng)化測(cè)試裝置可以承載于PC端,也可以承載于平板電腦等可以使用測(cè)試軟件的電子終端。該自動(dòng)化測(cè)試裝置所涉及的硬件架構(gòu)可以如圖1所示。
[0051]圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例自動(dòng)化測(cè)試裝置所涉及的硬件架構(gòu)。如圖1所示,所述自動(dòng)化測(cè)試裝置所涉及的硬件包括:處理器1001,例如CPU,網(wǎng)絡(luò)接口 1004,用戶接口 1003,存儲(chǔ)器1005,通信總線1002。其中,通信總線1002用于實(shí)現(xiàn)該自動(dòng)化測(cè)試裝置中各組成部件之間的連接通信。用戶接口 1003可以包括顯示屏(Display)、鍵盤(Keyboard)、鼠標(biāo)等組件,用于接收用戶輸入的信息,并將接收的信息發(fā)送至處理器1005進(jìn)行處理??蛇x用戶接口 1003還可以包括標(biāo)準(zhǔn)的有線接口、無線接口。網(wǎng)絡(luò)接口 1004可選的可以包括標(biāo)準(zhǔn)的有線接口、無線接口(如W1-FI接口)。存儲(chǔ)器1005可以是高速RAM存儲(chǔ)器,也可以是穩(wěn)定的存儲(chǔ)器(non-volatile memory),例如磁盤存
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