用于提取在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號的概念的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供用于提取在被測器件(124)與自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的信號的印刷電路板(100)。印刷電路板(100)包括多個第一端子(102)、多個第二端子(104)、多條傳輸線路(106)以及提取電路(108)。提取電路(108)電耦接到多條傳輸線路(106)中的一條傳輸線路并且被配置為提取通過該條傳輸線路(106)在被測器件(124)與自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的信號以便提供提取的信號(110)，其中提取電路(108)包括電阻器(112)或電阻器網(wǎng)絡(luò)，其中由于印刷電路板的存在而附加在通過該條傳輸線路在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號上的損耗小于6dB。
【專利說明】用于提取在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號的概念
[0001]說明書
[0002]本發(fā)明的實施例涉及用于提取在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號的概念。本發(fā)明的一些實施例涉及一種探測在被測器件與自動測試設(shè)備引腳電子通道之間發(fā)射和接收的信號的方法。
[0003]如DDR4(DDR4 =雙倍數(shù)據(jù)速率類型四)之類的高速內(nèi)存應(yīng)用可以使用自動測試設(shè)備(ATE) 10來表征和測試。在初始表征步驟中，使用如圖1a中所示的外部儀器30能夠大大有助于測試工程師測量在自動測試設(shè)備10與被測器件(DUT) 20之間進(jìn)行交換的信號。此設(shè)置的挑戰(zhàn)在于確保在探測點(diǎn)40處，信號完整性足夠良好以便以高保真度測量在自動測試設(shè)備10與被測器件20之間進(jìn)行交換的信號。同時，保證探測設(shè)置確實對被測器件20與自動測試設(shè)備10之間的信號完整性具有最小影響并且以此方式衰減來自自動測試設(shè)備10或被測器件20的信號也是重要的。然而，非常難以建立對被測器件20與自動測試設(shè)備10引腳電子之間的信號完整性具有最小影響的探測點(diǎn)40。
[0004]先前的解決方案包括探測到如圖1b中所示的自動測試設(shè)備測試夾具印刷電路板(PCB) 50上的被測器件20球柵陣列(BGA)的非背鉆通孔(non-backdrilled vias)的背部。這種方法對于高速應(yīng)用存在顯著問題，因為通孔樁60對信號完整性具有顯著影響并且無法移除探測電路。
[0005]此外，探測跡線和電路可以在被測器件20測試夾具PCB上實現(xiàn)，但是它們難以被移除，這意味著它們將始終對被測器件20到自動測試設(shè)備10性能有影響。它們還需要精心設(shè)計以為高速應(yīng)用提供良好的信號完整性。
[0006]因此，本發(fā)明的目的在于提供一種用于提取在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號的改進(jìn)的概念。
[0007]此目標(biāo)通過根據(jù)權(quán)利要求1的印刷電路板、根據(jù)權(quán)利要求18的自動測試設(shè)備系統(tǒng)、根據(jù)權(quán)利要求19的方法以及根據(jù)權(quán)利要求20的計算機(jī)程序來解決的。
[0008]本發(fā)明的實施例提供一種用于提取在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號的印刷電路板。該印刷電路板包括多個第一端子、多個第二端子、多條傳輸線路以及提取電路。多個第一端子被配置為接觸被測器件的套接口的端子。多個第二端子被配置為接觸自動測試設(shè)備的測試夾具的端子，測試夾具的端子適合于接觸被測器件的套接口的端子。多條傳輸線路被配置為連接多個第一端子和多個第二端子。提取電路電耦接到多條傳輸線路中的一條傳輸線路并且被配置為提取通過一條傳輸線路在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號以便提供提取的信號，其中由于印刷電路板的存在而附加在通過一條傳輸線路在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號上的損耗小于6dB。
[0009]在實施例中，包括多個第一端子和多個第二端子的印刷電路板可以被布置在被測器件與自動測試設(shè)備之間，以使得多個第一端子接觸被測器件的套接口的端子并且多個第二端子接觸自動測試設(shè)備的測試夾具的端子。印刷電路板包括連接多個第一端子和多個第二端子的多條傳輸線路，其中提取電路電耦接到多條傳輸線路中的一條傳輸線路并且被配置為提取通過該條傳輸線路在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號。提取電路包括電阻器或電阻器網(wǎng)絡(luò)，其中由于存在印刷電路板而附加在通過該條傳輸線路在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號上的損耗小于6dB。
[0010]本發(fā)明的其他實施例提供一種包括被測器件、自動測試設(shè)備和印刷電路板的自動測試設(shè)備系統(tǒng)。被測器件包括具有端子的封裝集成電路。自動測試設(shè)備包括具有端子的測試夾具和套接口，這些端子適合于接觸封裝的被測器件的端子。印刷電路板包括多個第一端子、多個第二端子、多條傳輸線路以及提取電路。多個第一端子被配置為接觸被測器件的套接口的端子。多個第二端子被配置為接觸自動測試設(shè)備的測試夾具的端子，測試夾具的端子適合于接觸被測器件的套接口的端子。多條傳輸線路被配置為連接多個第一端子和多個第二端子。提取電路電耦接到多條傳輸線路中的一條傳輸線路并且被配置以提取通過一條傳輸線路在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號以便提供提取的信號，其中提取電路包括電阻器或電阻器網(wǎng)絡(luò)，其中由于印刷電路板的存在而附加在通過一條傳輸線路在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號上的損耗小于6dB。印刷電路板被布置在被測器件的套接口與自動測試設(shè)備的測試夾具之間，以使得多個第一端子接觸被測器件的套接口的端子并且多個第二端子接觸自動測試設(shè)備的測試夾具的端子。
[0011]本發(fā)明的其他實施例提供一種通過印刷電路板提取在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號的方法。印刷電路板包括多個第一端子、多個第二端子、多條傳輸線路以及提取電路。多個第一端子被配置為接觸被測器件的套接口的端子。多個第二端子被配置為接觸自動測試設(shè)備的測試夾具的端子，測試夾具的端子適合于接觸被測器件的套接口的端子。多條傳輸線路被配置為連接多個第一端子和多個第二端子。提取電路電耦接到多條傳輸線路中的一條傳輸線路并且被配置以提取通過一條傳輸線路在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號以便提供提取的信號，其中提取電路包括電阻器或電阻器網(wǎng)絡(luò)，其中附加在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號上的損耗小于6dB。該方法包括將印刷電路板布置在被測器件的套接口與自動測試設(shè)備的測試夾具之間的步驟，以使得多個第一端子接觸被測器件的套接口的端子并且多個第二端子接觸自動測試設(shè)備的測試夾具的端子。
[0012]本文參照附圖描述了本發(fā)明的實施例。
[0013]圖1a示出了包括被測器件、自動測試設(shè)備和被測器件與自動測試設(shè)備之間的探測點(diǎn)的常見自動測試設(shè)備系統(tǒng)的框圖。
[0014]圖1b示出了包括被測器件、自動測試設(shè)備和被測器件與自動測試設(shè)備之間的探測點(diǎn)的常見自動測試設(shè)備系統(tǒng)的框圖。
[0015]圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板的框圖。
[0016]圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的自動測試設(shè)備系統(tǒng)的框圖。
[0017]圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的被測器件和印刷電路板的框圖。
[0018]圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板的頂部的說明性視圖。
[0019]圖6a示出了根據(jù)本發(fā)明的實現(xiàn)示例的用于高阻抗探測方法的探測墊的實現(xiàn)示例的說明性視圖。
[0020]圖6b示出了根據(jù)本發(fā)明的實現(xiàn)示例的用于同軸型探測方法的探測墊的實現(xiàn)示例的說明性視圖。[0021]圖7示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的使用單個電阻器的可能探測實現(xiàn)方式的系統(tǒng)級視圖的框圖。
[0022]圖8示出了圖7中所示的自動測試設(shè)備系統(tǒng)的框圖。
[0023]圖9a示出了模擬圖7和圖8中所示的自動測試設(shè)備系統(tǒng)的示意圖。
[0024]圖9b示出了通過圖9a中所示的模擬自動測試設(shè)備系統(tǒng)的示意圖獲得的圖解模擬結(jié)果。
[0025]圖1Oa示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板的頂部信號層和參考接地面的實現(xiàn)示例的說明性視圖。
[0026]圖1Ob示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板的頂部信號層和參考接地面的實現(xiàn)示例的說明性視圖。
[0027]圖11示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的使用電阻器網(wǎng)絡(luò)的可能探測實現(xiàn)方式的系統(tǒng)級視圖的框圖。
[0028]圖12示出了圖11中所示的自動測試設(shè)備系統(tǒng)的框圖。
[0029]圖13a不出了I旲擬圖11和圖12中所不的自動測試設(shè)備系統(tǒng)的不意圖。
[0030]圖13b示出了通過圖13a中所示的模擬自動測試設(shè)備系統(tǒng)的示意圖獲得的圖解模擬結(jié)果。
[0031]圖14a示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板的頂部信號層和參考接地面的實現(xiàn)示例的說明性視圖。
[0032]圖14b示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板的頂部信號層和參考接地面的實現(xiàn)示例的說明性視圖。
[0033]圖14c示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板的底部信號層和參考接地面的實現(xiàn)示例的說明性視圖。
[0034]圖15示出了圖11和圖12中所示的自動測試設(shè)備系統(tǒng)的等效電路。
[0035]具有同樣或相同功能性的同樣或相同元件在以下描述中由同樣或相同參考標(biāo)號表不。
[0036]在以下描述中，闡述多個細(xì)節(jié)以提供對本發(fā)明的實施例的更透徹的說明。然而，對本領(lǐng)域技術(shù)人員將顯而易見的是，本發(fā)明的實施例可以在沒有這些具體細(xì)節(jié)的情況下實施。在其他實例中，熟知結(jié)構(gòu)和器件是以框圖形式示出而非詳細(xì)示出，以避免模糊本發(fā)明的實施例。此外，除非另有明確表明，下文描述的不同實施例的特征可以彼此組合。
[0037]圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的印刷電路板100的框圖。印刷電路板100包括多個第一端子102、多個第二端子104、多條傳輸線路106以及提取電路108。多個第一端子102被配置為接觸被測器件的套接口(socket)的端子。多個第二端子104被配置為接觸自動測試設(shè)備的測試夾具的端子，自動測試設(shè)備的測試夾具的端子適合于接觸被測器件的套接口的端子。多條傳輸線路106被配置為連接多個第一端子102和多個第二端子104。提取電路108電耦接到多條傳輸線路106中的一條傳輸線路并且被配置為提取通過一條傳輸線路106在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號以便提供提取的信號110。提取電路108包括電阻器(112)或電阻器網(wǎng)絡(luò)，其中由于存在印刷電路板(100)而附加在通過一條傳輸線路在被測器件(124)與自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的信號上的損耗小于 6dB (或 ldB、3dB 或 IOdB)。[0038]在實施例中，提取電路108的電阻器112或電阻器網(wǎng)絡(luò)能夠適合于一條傳輸線路106的阻抗，以使得通過一條傳輸線路106在被測器件124與自動測試設(shè)備122之間進(jìn)行交換的信號的損耗小于10dB。例如，電阻器網(wǎng)絡(luò)能夠被設(shè)計為降低甚至最小化傳輸線路106上的附加插入損耗。此外，提取電路(108)能夠包括被設(shè)計為降低對通過ATE引腳電子與DUT(124)之間的信號路徑(106)在被測器件(124)與自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的信號的完整性的影響的電阻器或電阻器網(wǎng)絡(luò)。
[0039]換言之，圖2示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板100的框圖。印刷電路板100包括多個第一端子102、多個第二端子104、多條傳輸線路106以及提取電路108。多個第一端子102被配置為接觸被測器件的套接口的端子。多個第二端子104被配置為接觸自動測試設(shè)備的測試夾具的端子，自動測試設(shè)備的測試夾具的端子適合于接觸被測器件的套接口的端子。多條傳輸線路106被配置為連接多個第一端子102和多個第二端子104。提取電路108電耦接到多條傳輸線路106中的一條傳輸線路并且被配置為提取通過一條傳輸線路106在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號以提供提取的信號110。提取電路108包括適合于一條傳輸線路106的阻抗的電阻器112,以使得由于存在印刷電路板100而導(dǎo)致的通過一條傳輸線路106在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號的損耗小于 6dB。
[0040]在實施例中，印刷電路板100可以布置(或嵌入，或插入)在被測器件與自動測試設(shè)備之間，以使得多個第一端子102接觸被測器件的套接口的端子并且多個第二端子104接觸自動測試設(shè)備的測試夾具的端子。為了提取在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號，印刷電路板100包括電耦接到多條傳輸線路106中的一條傳輸線路的提取電路108。提取電路108包括為了降低對通過一條傳輸線路106在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號的完整性的影響而進(jìn)行設(shè)計的電阻器網(wǎng)絡(luò)112。
[0041]在一些實施例中，由于印刷電路板100的阻抗不連續(xù)，從而通過一條傳輸線路106在被測器件124與自動測試設(shè)備122之間進(jìn)行交換的信號的插入損耗能夠小于6dB(或ldB、3dB、7dB或10dB)。換言之，本發(fā)明的實施例提供將ATE與DUT之間的插入損耗降低(甚至最小化)到小于6dB的單個電阻器或電阻器網(wǎng)絡(luò)。
[0042]此外，由于存在印刷電路板，從而通過一條傳輸線路106在被測器件124與自動測試設(shè)備122之間進(jìn)行交換的信號的回波損耗(return loss)能夠小于-1OdB (或-20dB、-30dB、-40dB或_50dB)。換言之，本發(fā)明的實施例提供將ATE和探測電路的DUT端口中的回波損耗降低(甚至最小化)到小于_20dB(或-1OdB或-50dB)的單個電阻器或電阻器網(wǎng)絡(luò)。
[0043]此外，提取電路108可以被配置為提供提取的信號110，以使得與通過一條傳輸線路(106)在被測器件124與自動測試設(shè)備122之間進(jìn)行交換的信號相比提取的信號110的損耗小于20dB。換言之，本發(fā)明的實施例提供可以將探測點(diǎn)與測量儀器之間的插入損耗降低(甚至最小化)到小于20dB的單個電阻器或電阻器網(wǎng)絡(luò)。
[0044]另外，提取電路108可以被配置為提供提取的信號110，以使得提取的信號110的回波損耗小于_4dB(或-7dB、-1OdB或-20dB)。換言之，本發(fā)明的實施例提供可以將探測端口上的回波損耗降低(甚至最小化)到少于-1OdB(或-4dB或-20dB)的單個電阻器或電阻器網(wǎng)絡(luò)。[0045]在實施例中，同時可以在提取的信號(110)上的損耗與提取的信號(110)上的噪聲之間進(jìn)行折中，因為更多損耗通常暗示較小的不連續(xù)性但需要提取的信號(110)的較高放大率，而這通常暗示提取的信號上的更多噪聲。
[0046]在實施例中，通過一條傳輸線路106在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號對于以4Gbps運(yùn)行的DDR4應(yīng)用能夠包括與對于數(shù)字信號具有介于DC和3倍基頻之間的帶寬的需要相對應(yīng)的介于DC和6GHz之間的頻率范圍，或者對于以8Gbps運(yùn)行的PCIExpress3或⑶DR5應(yīng)用折中為介于DC和12GHz之間的頻率范圍。
[0047]為了避免失配和所產(chǎn)生的效應(yīng)(例如，反射、損耗和/或失真)，多條傳輸線路106可以包括適合于自動測試設(shè)備和/或被測器件的(內(nèi)部)阻抗的阻抗。例如，自動測試設(shè)備可以包括50 Ω (或60 Ω或70 Ω或100 Ω)的(內(nèi)部)阻抗，其中多條傳輸線路106也可以包括適合于自動測試設(shè)備的阻抗的50Ω (或60Ω或70Ω或100Ω)的阻抗。自然地，被測器件也可以包括50 Ω (或60 Ω或70 Ω或100 Ω)的(內(nèi)部)阻抗，其中多條傳輸線路106也可以包括適合于被測器件的阻抗的50Ω (或60Ω或70Ω或100Ω)的阻抗。此外，多條傳輸線路106的阻抗可以適合于自動測試設(shè)備和被測器件的(內(nèi)部)阻抗，以使得多條傳輸線路106的阻抗、自動測試設(shè)備的阻抗和被測器件的阻抗包括相同值，例如，50Ω (或60 Ω 或 70Ω 或 100Ω)。
[0048]在實施例中，多個第一端子102可以被布置在印刷電路板100的頂層114上，其中多個第二端子104可以被布置在印刷電路板100的與第一層114不同的底層116上。此外，多條傳輸線路106可以是連接布置在印刷電路板100的第一層114上的多個第一端子102和布置在印刷電路板100的底層116上的多個第二端子104的通孔106。另外，印刷電路板100的頂層114和/或底層116可以包括與非接地端子102和104和/或非接地傳輸線路106電隔離的填充接地面，其中填充接地面可以被配置為接觸自動測試設(shè)備的接地電位(或接地端子)和/或被測器件的接地電位(或接地端子)。
[0049]以下，借助于包括印刷電路板100、自動測試設(shè)備和被測器件的自動測試設(shè)備系統(tǒng)120來描述根據(jù)本發(fā)明的概念的印刷電路板100的特征。
[0050]圖3示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的自動測試設(shè)備系統(tǒng)120的框圖。自動測試設(shè)備系統(tǒng)120包括印刷電路板100 (或探測插入器100)、自動測試設(shè)備122和被測器件124。如圖3中所示，印刷電路板100 (或探測插入器100)可以被插入在自動測試設(shè)備122與被測器件124之間，以使得多個第一端子102 (例如，多個第一墊102)接觸被測器件124的套接口126的端子并且多個第二端子104 (例如，多個第二墊104)接觸自動測試設(shè)備122的測試夾具128的端子，自動測試設(shè)備122的測試夾具128的端子適合于接觸被測器件124的套接口 126的端子。
[0051]換言之，本發(fā)明的實施例提供可以用于或插入如圖3中所示的ATE測試夾具128印刷電路板與DUT套接口 126之間的印刷電路板100(或可移除的插入器100或探測插入器100)。這可以保證由探測插入器100中的探測電路引起的不連續(xù)盡可能小并且通過一條傳輸線路106在被測器件124與自動測試設(shè)備122之間進(jìn)行交換的信號的損耗被降低乃至盡可能小。
[0052]多個第一端子102被配置為非永久地接觸被測器件124的套接口 126的端子，其中多個第二端子104被配置為非永久地接觸自動測試設(shè)備122的測試夾具128的端子，以使得印刷電路板100是可移除的。換言之，探測插入器100在不再需要時可以被移除。
[0053]根據(jù)本發(fā)明的概念的印刷電路板100 (或探測插入器100)允許探測在被測器件124與自動測試設(shè)備122引腳電子之間進(jìn)行交換的信號。這對于調(diào)試其應(yīng)用的測試工程師來說是非常有用的。由此，印刷電路板100的小尺寸提供與探測的信號的信號完整性以及對在被測器件124與自動測試設(shè)備122引腳電子之間的信號完整性的影響有關(guān)的顯著優(yōu)勢。此外，如已提及的，探測插入器100是可移除的，從而允許測試工程師在沒有探測插入器的影響的情況下測試被測器件124。探測插入器100還可以在其他類似(或相同的)DUT測試夾具中再次使用。
[0054]圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的自動測試設(shè)備系統(tǒng)120的框圖。印刷電路板100可以插入在自動測試設(shè)備122與被測器件124之間，以使得多個第一端子102接觸被測器件124的套接口 126的端子并且多個第二端子104接觸自動測試設(shè)備122的測試夾具128的端子。
[0055]提取電路108 (或探測電路108)可以包括第一端口 130a和第二端口 130b，其中一條傳輸線路106可以被分成(或包括)第一部分106a和第二部分106b,其中一條傳輸線路106的第一部分106a可以連接到探測電路108的第一端口 130a，其中一條傳輸線路106的第二部分106b可以連接到提取電路108的第二端口 130b。
[0056]印刷電路板100可以包括電耦接到用于在探測端子132處提供提取的信號110的提取電路108的探測端子132(例如，探測墊132)。探測端子132可以借助于具有適合于一條傳輸線路106 (或者一條傳輸線路106的第一部分106a和/或第二部分106b)的阻抗的阻抗的探測傳輸線路134電耦接到提取電路108。此外，探測端子132可以借助于具有適合于一條傳輸線路106 (或者一條傳輸線路106的第一部分106a和/或第二部分106b)的阻抗的阻抗的探測通孔136電耦接到探測傳輸線路134。此外，印刷電路板100可以包括串聯(lián)在探測端子與印刷電路板100的接地電位(或接地端子)之間的終端電阻器，其中該終端電阻器可以適合于一條傳輸線路106的阻抗。
[0057]例如，自動測試設(shè)備122和/或被測器件124可以包括50 Ω (或60 Ω或70 Ω或100 Ω)的(內(nèi)部)阻抗，其中多條傳輸線路106還可以包括適合于自動測試設(shè)備122和/或被測器件124的阻抗的50 Ω (或60 Ω或70 Ω或100 Ω)的阻抗。另外，探測電路108、探測傳輸線路134、探測通孔136和/或終端電阻器也可以具有適合于自動測試設(shè)備122和/或被測器件124的(內(nèi)部)阻抗的50 Ω (或60 Ω或70 Ω或100 Ω )的阻抗，由此避免失配和所產(chǎn)生的效應(yīng)。
[0058]自動測試設(shè)備122可以包括多個通道，多個通道中的每個通道包括借助于如圖4中所示的通道傳輸線路178電耦接到ATE/ATE測試夾具互連176的驅(qū)動器172和接收器174(或引腳電子170)。此外，測試夾具印刷電路板128可以包括用于將每個端子與相應(yīng)的ATE/ATE測試夾具互連176電耦接的傳輸線路180a至180c。
[0059]被測器件124也可以包括多個通道，多個通道中的每個通道包括借助于傳輸線路180a和180b電耦接到被測器件124的套接口 126的驅(qū)動器182和接收器184。
[0060]為了改進(jìn)多個第一端子102和被測器件124的套接口 126的端子之間的電連接，和/或多個第二端子104與自動測試設(shè)備122的測試夾具128的端子之間的電連接，多個第一端子102可以包括通過套接口伸縮(pogo)引腳或彈性體觸點(diǎn)(導(dǎo)電彈性材料)連接到套接口的銅墊。換言之，印刷電路板100的第一層114可以至少在多個第一端子102的區(qū)域中包括具有合乎DUT封裝幾何形狀的直徑和節(jié)距(pitch)的銅墊。此外，印刷電路板的第二層116可以至少在多個第二端子104的區(qū)域中包括導(dǎo)電彈性材料并且在多個第二端子104之間的區(qū)域中包括具有較小高度的不導(dǎo)電的導(dǎo)電剛性材料(例如，聚酰亞胺薄膜)來提供硬擋板以避免過度壓緊導(dǎo)電彈性材料。
[0061]根據(jù)本發(fā)明的概念，具有嵌入的離散部件(以建立探測電路108)以及底部116上的導(dǎo)電彈性材料和頂部114上的銅墊的可移除印刷電路板100可以用來提供ATE測試夾具128與探測插入器100之間的良好電連接，如圖4中所示。
[0062]圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板100的頂層114的說明性視圖。如圖5中所示，印刷電路板100的頂層114可以包括用于接觸被測器件124的套接126的端子的多個第一端子102。此外，印刷電路板100的頂層114可以包括用于提供提取的信號110的探測端子132。
[0063]圖5中，印刷電路板100的頂層114包括用于接觸被測器件124的套接口 126的端子的示例性的24個第一端子102 (例如，24個第一墊)和用于提供從在被測器件124與自動測試設(shè)備122之間進(jìn)行交換的信號提取的信號110的24個探測端子132 (例如，24個探測墊)。自然地，印刷電路板100還可以包括用于接觸被測器件124的套接126的端子的η個第一端子102和用于提供提取的信號110的m個探測端子132，其中η是大于或等于2的自然數(shù)(η≥2)，并且其中m是大于或等于I的自然數(shù)(m≥I)。
[0064]換言之，圖5示出了從頂部看的探測插入器100的圖。探測墊132可以位于套接口 126與插入器100緊密配合的區(qū)域之外，以使得它們可以容易地接入。這些探測墊132可以取決于如以下描述的探測方法而使用不同技術(shù)進(jìn)行設(shè)計。
[0065]圖6a示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的探測墊132的實現(xiàn)示例的說明性視圖。換言之，圖6a示出了探測墊132的設(shè)計的可能選項。由此，可以使用兩個通孔106，一個用于信號而另一個用于單端配置中的接地，并且可以將兩根導(dǎo)線焊接到連接到這兩個通孔，這兩根導(dǎo)線連接到高阻抗有源探頭144，高阻抗有源探頭144繼而可以連接到示波器146?？梢蕴砑?0Ω電阻器140 (或終端電阻器140)以防止反射回到探測點(diǎn)。
[0066]圖6b示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的探測墊132的實現(xiàn)示例的說明性視圖。換言之，圖6b示出探測墊132的設(shè)計的可能選項。圖6b中，僅呈現(xiàn)了信號通孔106，他們周圍的間隙將其與可以連接到固定節(jié)距微同軸探頭的接地尖的填充接地面148(或填充銅區(qū)域148)相分離。在此配置中(其中間隙節(jié)距與探頭節(jié)距相對應(yīng))可以使用50Ω微同軸共面探頭來測量的探測到的信號110 (或提取的信號110)。
[0067]圖7示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的自動測試設(shè)備系統(tǒng)120的框圖。自動測試設(shè)備系統(tǒng)120包括印刷電路板100、自動測試設(shè)備122和被測器件124。印刷電路板100的提取電路108包括電耦接到一條傳輸線路106的電阻器112。請注意，一條傳輸線路106可以分成第一部分106a和第二部分106b,其中該條傳輸線路106的第一部分106a、該條傳輸線路106的第二部分106b以及電阻器可以在共同節(jié)點(diǎn)150被連接。另外，提取電路108的電阻器112可以借助于探測傳輸線路134電耦接到包括探測端子132和串聯(lián)在探測端子132與印刷電路板100的接地電位(或接地端子)之間的終端電阻器140的高阻抗探頭144。
[0068]換言之，圖7示出了使用單個電阻器112的探測設(shè)置。對于探測電路108的實現(xiàn)方式存在若干選項。一種簡單的方法是使用連接到具有放大晶體管的高阻抗探頭144的探測插入器100上的單個嵌入電阻器112，如圖7中所示。
[0069]圖8示出了圖7中所示的自動測試設(shè)備系統(tǒng)120的框圖。提取電路108的電阻器112借助于探測傳輸線路134和探測通孔136電耦接到一條傳輸線路106和探測端子132 (例如，探測墊132)。探測傳輸線路134和/或探測通孔136可能需要具有受控的阻抗，只要是傳輸線路長度可以大于探測到的信號上升時間即可。此阻抗可以取決于探測電路設(shè)計而與傳輸線路106相同(例如，50Ω (或60Ω或70 Ω或100Ω))或不同。
[0070]換言之，圖8示出了圖7的實現(xiàn)方式的更詳細(xì)示意圖，其中示出在探測電阻器112之后直到探測墊132，可以使用具有受控阻抗的傳輸線路144和通孔136(例如，具有50歐姆的阻抗)。
[0071]圖9a示出了模擬圖7和圖8中所示的自動測試設(shè)備系統(tǒng)120的示意圖。借助于串聯(lián)在第二端子104與自動測試設(shè)備122的接地端子之間的50 Ω的(內(nèi)部)阻抗160來模擬自動測試設(shè)備。借助于串聯(lián)在第一端子102與被測器件124的接地端子之間的50歐姆的(內(nèi)部)阻抗來模擬被測器件124。
[0072]印刷電路板100包括串聯(lián)在第一端子102與第二端子104之間的50 Ω的第一阻抗106a和50 Ω的第二阻抗106b,以模擬一條傳輸線路106。借助于連接到第一阻抗106a和第二阻抗106b的串聯(lián)共同節(jié)點(diǎn)150的200 Ω的電阻器112來模擬印刷電路板100的提取電路108，由此提供第一阻抗106a、第二阻抗106b以及電阻器112的T連接。借助于串聯(lián)在電阻器112與高阻抗探頭144的探測端子132之間的50 Ω的阻抗134來模擬探測傳輸線路134。高阻抗探頭144包括借助于串聯(lián)在探測端子132與印刷電路板100的接地端子之間的50 Ω的阻抗140來模擬的終端電阻器140。
[0073]圖9b示出了通過圖9a中所示的模擬自動測試設(shè)備系統(tǒng)120的示意圖獲得的圖解模擬結(jié)果。圖％中，縱坐標(biāo)以dB為單位描述損耗，其中橫坐標(biāo)以GHz為單位描述頻率。根據(jù)模擬結(jié)果，被測器件124與自動測試設(shè)備122之間的附加損耗等于ldB，其中探測點(diǎn)132處的損耗等于15dB。此外，探測端口 132的回波損耗等于-4dB，其中自動測試設(shè)備122端口 104和被測器件124端102的回波損耗等于_21dB。所有這些值都與探測電阻器的選擇有關(guān)，并且取決于應(yīng)用需要，可以通過模擬來優(yōu)化電阻器值。
[0074]換言之，圖9a和圖9b示出根據(jù)本發(fā)明的方法的模擬，其中可以觀察到對自動測試設(shè)備122引腳電子與被測器件124之間的插入損耗(幾乎)不存在影響。由于探測到的信號110 (或提取的信號110)將具有非常低的振幅(在使用200 Ω電阻器112的模擬情形下，其衰減約15dB)，所以可以使用有源放大器來測量信號。此外，為了避免由于探測傳輸線路134上的信號反射(臨界距離將取決于正在被測量的信號的上升時間)引起的探測電阻器112與示波器探頭之間的附加信號完整性問題，可以將示波器探頭布置在插入器100上的探測電阻器112附近。
[0075]圖1Oa和圖1Ob示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板100的實現(xiàn)示例的說明性視圖。電阻器112電耦接到多條傳輸線路106中的一條傳輸線路，以提取通過一條傳輸線路106在被測器件124與自動測試設(shè)備122之間進(jìn)行交換的信號。此外，電阻器112借助于可以由布置在印刷電路板100的頂部信號層114上的微帶線(microstrip)實現(xiàn)的探測傳輸線路134來電耦接到探測端子112。[0076] 換言之，圖1Oa和圖1Ob示出了印刷電路板上的探測插入器100的可能實現(xiàn)方式的三維圖。探測傳輸線路134可以使用嵌入的微帶線方法來實現(xiàn)。這兩個信號層(第一層114和第二層116)可以用來路由此針對DDR3器件(DDR3 =雙倍數(shù)據(jù)速率類型三)的設(shè)計示例中的所有信號。由此，探測插入器PCB100可以具有以下堆疊:頂部/電介質(zhì)/信號/電介質(zhì)/參考平面/電介質(zhì)/信號/電介質(zhì)/底部。
[0077]圖11示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的自動測試設(shè)備系統(tǒng)120的框圖。自動測試設(shè)備系統(tǒng)120包括印刷電路板100、自動測試設(shè)備122和被測器件124。印刷電路板100 (或探測插入器100)被插入在自動測試設(shè)備122與被測器件124之間，以便提取通過多條傳輸線路106中的一條傳輸線路在被測器件124與自動測試設(shè)備122之間進(jìn)行交換的信號。
[0078]印刷電路板100的提取電路108包括具有適合于一條傳輸線路106的阻抗的阻抗的第一端口 130a和具有適合于一條傳輸線路106的阻抗的的阻抗第二端口 130b，其中傳輸線路106被分成第一部分106a和第二部分106b。傳輸線路106的第一部分106a連接到提取電路108的第一端口 130a，其中一條傳輸線路106的第二部分106b連接到提取電路108的第二端口 130b。此外，提取電路108可以包括在共同節(jié)點(diǎn)150連接的三個電阻器112a至112c的T連接(或Y連接)，其中三個電阻器112a至112c中的第一電阻器112a和第二電阻器112b串聯(lián)在提取電路108的第一端口 130a與第二端口 130b之間。三個電阻器112a至112c中的第三電阻器112c可以借助于探測傳輸線路134電耦接到同軸探頭145(例如，50Ω、60Ω、70Ω或100 Ω探頭)。也可以使用高阻抗探頭，但是將需要額外的終端電阻器。
[0079]換言之，另一個探測電路108方法是使用敏感元件T電路(pick-off-T-circuit)108，其中三個電阻器112a至112c可以用于創(chuàng)建匹配的探測電路108。這種方法的優(yōu)點(diǎn)在于，如果適當(dāng)?shù)剡x擇電阻器值，則在電路的自動測試設(shè)備端口 104和被測器件端口 102上將存在匹配的阻抗^_，50Ω、60Ω、70Ω或100Ω)。
[0080]圖12示出了用于50 Ω的ATE系統(tǒng)和DUT的情形的圖11中所示的自動測試設(shè)備系統(tǒng)120的框圖。第一電阻器112a和第二電阻器112b被串聯(lián)在提取電路108的第一端口130a與第二端口 130b之間。提取電路108的第三電阻器112c可以借助于具有適合于一條傳輸線路160的阻抗的的阻抗的探測傳輸線路134和探測通孔136來電耦接到探測端子132。
[0081]例如，為了在第一端口 130a處提供50Ω的阻抗并且在提取電路108的第二端口130b處提供50 Ω的阻抗,第一電阻器112a和第二電阻器112b可以各自包括9.38 Ω的電阻，其中第三電阻器112c可以包括78.4Ω的電阻。
[0082]換言之，圖12示出了圖11的實現(xiàn)方式的更詳細(xì)示意圖，其中示出在電阻器網(wǎng)絡(luò)(三個電阻器112a至112c的T連接)之后直到探測墊132，可以使用具有受控阻抗的傳輸線路和通孔(例如，50 Ω、60 Ω、70 Ω或100 Ω )。
[0083]圖13a示出了模擬圖11和圖12中所示的自動測試設(shè)備系統(tǒng)120的示意圖。借助于串聯(lián)在第二端子104與自動測試設(shè)備122的接地端子之間的50 Ω的(內(nèi)部)阻抗160來模擬自動測試設(shè)備122。借助于串聯(lián)在第一端子102與被測器件124的接地端子之間的50歐姆的(內(nèi)部)阻抗來模擬被測器件124。
[0084]印刷電路板100包括串聯(lián)在第一端子102與提取電路的第一端口 130a之間的50 Ω的第一阻抗106a以模擬一條傳輸線路106的第一部分106a。另外，印刷電路板100包括串聯(lián)在第二端子104與提取電路108的第二端口 130b之間的50Ω的第二阻抗106b以模擬一條傳輸線路106的第二部分106b。借助于三個電阻器112a至112c的T連接來模擬提取電路108，其中三個電阻器112a至112c中的第一電阻器112a和三個電阻器112a至112c中的第二電阻器112b被串聯(lián)在提取電路108的第一端口 130a與第二端口 130b之間。第一電阻器112a和第二電阻器112b各自包括9.38 Ω的電阻,其中三個電阻器112a至112c中的第三電阻器112c包括78.4Ω的電阻?？梢越柚诖?lián)在第三電阻器112c與同軸探頭145的探測端子132之間的50 Ω的阻抗134來模擬探測傳輸線路134。50 Ω的同軸探頭145包括50 Ω的終端電阻器，當(dāng)使用同軸探頭時該電阻器是測量外部儀器的一部分。
[0085]圖13b示出了通過圖13a中所示的模擬自動測試設(shè)備系統(tǒng)120的示意圖獲得的圖解模擬結(jié)果。圖13b中，縱坐標(biāo)以dB為單位描述信號振幅，其中橫坐標(biāo)以GHz為單位描述頻率。根據(jù)模擬結(jié)果，被測器件124與自動測試設(shè)備122之間的附加損耗等于3.5dB，其中探測點(diǎn)132處的損耗等于10dB。此外，探測端口 132的回波損耗等于-10dB，其中自動測試設(shè)備122端口 104和被測器件124端口 102的回波損耗等于_75dB。
[0086]換言之，圖13a和13b示出了圖12中所示的方法的模擬，其中可以觀察到在自動測試設(shè)備122引腳電子與被測器件124之間存在3.5dB的插入損耗，但是自動測試設(shè)備端口 104和被測器件端口 102的回波損耗低于_70dB，這比圖8中所示的具有單個電阻器112探測電路108好得多。由于如果適當(dāng)?shù)卦O(shè)計電路則此附加的插入損耗是與頻率無關(guān)的，所以可以通過適當(dāng)?shù)卣{(diào)整自動測試設(shè)備122引腳電子驅(qū)動器電平并且后校準(zhǔn)來自被測器件124的測量值來對其進(jìn)行補(bǔ)償。探測到的信號的損耗為10dB，這可以允許使用無源的微同軸的50歐姆探頭來替代具有相應(yīng)放大器的高阻抗探頭。
[0087]圖14a和圖14b示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板100的頂部信號層114和參考接地面的實現(xiàn)示例的說明性視圖。包括三個電阻器112a至112c的T連接(或Y連接)的提取電路108可以布置在印刷電路板100的第一層114上。提取電路108可以電耦接到多條傳輸線路106中的一條傳輸線路，以便提取通過一條傳輸線路106在被測器件124與自動測試設(shè)備122之間進(jìn)行交換的信號。此外，第三電阻器112c可以借助于可以由布置在印刷電路板100的第一層114上的微帶線實現(xiàn)的探測傳輸線路134來電耦接到探測端子112。
[0088]圖14c示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的印刷電路板100的底部信號層114和參考接地面的實現(xiàn)示例的說明性視圖(仰視圖)。如圖14c中所示，包括三個電阻器112a至112c的T連接(或Y連接)的提取電路108也可以在印刷電路板100的第二層116上實現(xiàn)。
[0089]換言之，圖14a至圖14c示出了印刷電路板100上的使用敏感元件T探測電路108的探測插入器100的可能實現(xiàn)方式的三維圖。探測傳輸線路134可以使用嵌入的微帶線方法來實現(xiàn)?？梢允褂脙蓚€信號層來路由此針對DDR3器件(DDR3 =雙倍數(shù)據(jù)速率類型三)的設(shè)計示例中的所有信號，其中僅DQ引腳(DQ=數(shù)據(jù)(輸入和輸出)引腳)被探測。由此，探測插入器印刷電路板100可以具有以下堆疊:頂部/電介質(zhì)/信號/電介質(zhì)/參考平面/電介質(zhì)/信號/電介質(zhì)/底部。請注意，由于具有三個電阻器112a至112c的探測電路108更復(fù)雜，所以布局與圖1Oa和圖1Ob中所示的布局相比會更復(fù)雜。
[0090]以下，針對具體實例描述設(shè)計印刷電路板112的提取電路108(或探測插入器電阻器網(wǎng)絡(luò))。自然地，以下描述也適用于設(shè)計包括不同數(shù)量的電阻器和/或電阻器值的提取電路 108。
[0091]圖15示出了圖11和圖12中所示的自動測試設(shè)備系統(tǒng)120的等效電路。為設(shè)計具有高性能的探測設(shè)置(例如，針對⑶DR5應(yīng)用DC達(dá)10.5GHz帶寬)，關(guān)鍵在于將區(qū)域A減小(乃至盡可能小)，目標(biāo)是X、Y尺寸小于所關(guān)注的最高頻率的波長。
[0092]在如⑶DR5之類的應(yīng)用中，ATE測試夾具128(通孔或帶線/微帶線)和套接口伸縮引腳上的傳輸線路的所有阻抗可以是50歐姆。這意味著LI (106a)、L2 (106b)和L3(134)是50歐姆。
[0093]為了確保不存在探測點(diǎn)阻抗不連續(xù)性引起的反射，關(guān)鍵在于在Zl和Z2方向上(在提取電路108的第一端口 130a和第二端口 130b)所見的阻抗是50歐姆。測量儀器Z3的阻抗也應(yīng)是50歐姆，以保證沒有反射回到探測電路108。一些測量儀器具有含有需要的50歐姆終端電阻器的50歐姆的匹配輸入，在此終端電阻器不是測量儀器的一部分的情形下(如高阻抗探頭)，可以將適當(dāng)?shù)慕K端電阻器140在傳輸線路L3(134)末端處添加到電路。
[0094]為確定電阻器的值，以下等式必須成立:
[0095]阻抗Zl = 50 歐姆=Rl+ ((R2+50) + (R3+50)) / ((R2+50) * (R3+50))
[0096]阻抗Z2 = 50 歐姆=R3+ ((Rl+50) + (R3+50)) / ((Rl+50) * (R3+50))
[0097]在此類型的網(wǎng)絡(luò)中，通常為了對稱原因而假定Rl = R2。如果我們假定Rl = R2，則ATE122與DUT124之間的插入損耗和探測損耗由以下等式給出:
[0098]ATE到DUT之間的連接中的附加DC損耗:
[0099]
【權(quán)利要求】
1.一種用于提取在被測器件(124)與自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的信號的印刷電路板(100)，所述印刷電路板(100)包括: 多個第一端子(102)，其用于接觸所述被測器件(124)的套接口(126)的端子； 多個第二端子(104)，其用于接觸所述自動測試設(shè)備(122)的測試夾具(128)的端子，所述測試夾具(128)的端子適合于接觸所述被測器件(124)的套接口(126)的端子； 多條傳輸線路(106)，其連接所述多個第一端子(102)和所述多個第二端子(104);以及 提取電路(108)，其電耦接到所述多條傳輸線路(106)中的一條傳輸線路(106)并且被配置為提取通過所述一條傳輸線路(106)在所述被測器件(124)與所述自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的所述信號以便提供提取的信號(110)，其中所述提取電路(108)包括電阻器(112)或電阻器網(wǎng)絡(luò)，其中由于所述印刷電路板(100)的存在而附加在通過所述一條傳輸線路在所述被測器件(124)與所述自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的所述信號上的損耗小于6dB。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的印刷電路板(100)，其中所述提取電路(108)的所述電阻器(112)或所述電阻器網(wǎng)絡(luò)適合于所述一條傳輸線路(106)的阻抗，以使得通過所述一條傳輸線路(106)在所述被測器件(124)與所述自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的所述信號的損耗小于10dB。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的印刷電路板(100)，其中所述提取電路(108)包括具有適合于所述一條傳輸線路(106)的阻抗的阻抗的第一端口(130a)和具有適合于所述一條傳輸線路(106)的阻抗的阻抗的第二端口(130b)，其中所述傳輸線路(106)被分成第一部分(106a)和第二部分(106b)，其中所述一條傳輸線路(106)的所述第一部分(106a)連接到所述提取電路(108)的所述第一端口(130a)并且所述一條傳輸線路(106)的所述第二部分(106b)連接到所述提取電路(108)的所述第二端口(130b)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的印刷電路板(100)，其中所述提取電路(108)包括三個電阻器(112a、112b、112c)的T連接或Y連接，其中所述三個電阻器(112a、112b、112c)中的第一電阻器(112a)和第二電阻器(112b)串聯(lián)在所述提取電路(108)的所述第一端口(130a)與所述第二端口(130b)之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的印刷電路板(100)，其中所述第一電阻器(112a)和所述第二電阻器(112b)包括相同的電阻。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的印刷電路板(100)，其中所述多條傳輸線路(106)中的每一條傳輸線路都包括適合于所述自動測試設(shè)備(122)的阻抗和/或所述被測器件(124)的阻抗的阻抗。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的印刷電路板(100)，其中所述多個第一端子(102)被布置在所述印刷電路板(100)的第一層(114)上，并且其中所述多個第二端子(104)被布置在所述印刷電路板(100)的與所述第一層(114)不同的第二層(116)上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的印刷電路板(100)，其中所述多個第一端子(102)或所述多個第二端子(104)包括導(dǎo)電彈性材料。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的印刷電路板(100)，其中所述多條傳輸線路(106)是連接布置在所述印刷電路板(100)的所述第一層(114)上的所述多個第一端子(102)和布置在所述印刷電路板(100)的所述第二層(116)上的所述多個第二端子(104)的通孔(106)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的印刷電路板(100)，其包括電耦接到用于提供所述提取的信號(110)的所述提取電路(108)的探測端子(132)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的印刷電路板(100)，其中所述探測端子(132)借助于具有適合于所述一條傳輸線路(106)的阻抗的阻抗的探測傳輸線路(134)電耦接到所述提取電路(108)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的印刷電路板(100)，其中所述探測端子(132)借助于具有適合于所述一條傳輸線路(106)的阻抗的阻抗的探測通孔(136)電耦接到所述探測傳輸線路(134)。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的印刷電路板(100)，其中所述探測傳輸線路(134)是微帶線(134)。
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的印刷電路板(100)，其包括串聯(lián)在所述探測端子(132)與所述印刷電路板(100)的接地電位之間的終端電阻器(140)，其中所述終端電阻器(140)適合于所述一條傳輸線路(106)的阻抗。
15.根據(jù)權(quán)利要求7所述的印刷電路板(100)，其中所述第一層(114)或所述第二層(116)包括與不接地端子(102、104)和/或不接地傳輸線路(106)電隔離的填充接地面，其中所述填充接地面被配置為接觸所述自動測試設(shè)備(122)的接地電位、所述被測器件(124)的接地電位和/或外部測量儀器(30)的接地電位。
16.根據(jù)權(quán)利要求1所述的印刷電路板(100)，其中所述多個第一端子(102)被配置為非永久地接觸所述被測器件(124)的套接口(126)的端子，并且其中所述多個第二端子(104)被配置為非永久地接觸所述自動測試設(shè)備(122)的測試夾具(128)的端子，以使得所述印刷電路板(100)是可移除的。
17.根據(jù)權(quán)利要求1所述的印刷電路板(100)，其中由于所述印刷電路板(100)的阻抗不連續(xù)而導(dǎo)致的通過所述一條傳輸線路(106)在所述被測器件(124)與所述自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的所述信號的插入損耗小于6dB。
18.根據(jù)權(quán)利要求1所述的印刷電路板(100)，其中由于所述印刷電路板的存在而導(dǎo)致的通過所述一條傳輸線路(106)在所述被測器件(124)與所述自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的所述信號的回波損耗小于-10dB。
19.根據(jù)權(quán)利要求1所述的印刷電路板(100)，其中所述提取電路(108)被配置為提供所述提取的信號(110)，以使得與通過所述一條傳輸線路(106)在所述被測器件(124)與所述自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的所述信號相比所述提取的信號(110)的損耗小于20dB。
20.根據(jù)權(quán)利要求1所述的印刷電路板(100)，其中所述提取電路(108)被配置為提供所述提取的信號(110)，以使得所述提取的信號(110)的回波損耗小于_4dB。
21.一種自動測試設(shè)備系統(tǒng)(120)，其包括: 被測器件(124)，其包括具有端子的套接口(126)； 自動測試設(shè)備(122)，其包括具有端子的測試夾具(128)，所述端子適合于接觸所述被測器件(124)的所述套接口(126)的所述端子；以及 印刷電路板(100)，其用于提取在所述被測器件(124)與所述自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的高頻信號，所述印刷電路板(100)包括:多個第一端子(102)，其用于接觸所述被測器件(124)的所述套接口(126)的所述端子；多個第二端子(104)，其用于接觸所述自動測試設(shè)備(122)的所述測試夾具(128)的端子；多條傳輸線路(106)，其連接所述多個第一端子(102)和所述多個第二端子(104)的；以及提取電路(108)，其電耦接到所述多條傳輸線路(106)中的一條傳輸線路(106)并且被配置為提取通過所述一條傳輸線路(106)在所述被測器件(124)與所述自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的所述信號，其中所述提取電路(108)包括電阻器(112)或電阻器網(wǎng)絡(luò)，其中由于所述印刷電路板(100)的存在而附加在通過所述一條傳輸線路在所述被測器件(124)與所述自動測試設(shè)備(122)之間進(jìn)行交換的所述信號上的損耗小于6dB ； 其中所述印刷電路板(100)被布置在所述被測器件(124)的所述套接口(126)與所述自動測試設(shè)備(122)的所述測試夾具(128)之間，以使得所述多個第一端子(102)接觸所述被測器件(124)的所述套接口(126)的所述端子并且所述多個第二端子(104)接觸所述自動測試設(shè)備(122)的所述測試夾具(128)的所述端子。
22.一種用于通過印刷電路板提取在被測器件與自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的信號的方法，所述印刷電路板包括:多個第一端子，其用于接觸所述被測器件的套接口的端子；多個第二端子，其用于接觸所述自動測試設(shè)備的測試夾具的端子；多條傳輸線路，其連接所述多個第一端子和所述多個第二端子；以及提取電路，其電耦接到所述多條傳輸線路中的一條傳輸線路并且被配置為提取通過所述一條傳輸線路在所述被測器件與所述自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的所述信號，其中所述提取電路包括電阻器或電阻器網(wǎng)絡(luò)，其中由于所述印刷電路板的存在而附加在通過所述一條傳輸線路在所述被測器件與所述自動測試設(shè)備之間進(jìn)行交換的所述 信號上的損耗小于6dB ;其中所述方法包括: 將所述印刷電路板布置在所述被測器件的所述套接口與所述自動測試設(shè)備的所述測試夾具之間，以使得所述多個第一端子接觸所述被測器件的所述套接口的所述端子并且所述多個第二端子接觸所述自動測試設(shè)備的所述測試夾具的所述端子。
23.一種包括程序代碼的計算機(jī)程序，當(dāng)所述計算機(jī)程序在計算機(jī)或微處理器上運(yùn)行時，所述程序代碼用于執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求19所述的方法。
【文檔編號】H05K1/02GK103917880SQ201180074738
【公開日】2014年7月9日 申請日期:2011年11月9日 優(yōu)先權(quán)日:2011年11月9日
【發(fā)明者】喬斯·安東尼奧·艾爾維斯·莫瑞拉, 馬克·毛斯恩格 申請人:愛德萬測試(新加坡)私人有限公司