專利名稱：電路板trl測試線的布線改良裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型為一種電路板TRL(Through Reflection Line)測試線的布線改良裝置，特別是應(yīng)用在高頻電路中具有射頻組件的傳輸線設(shè)計的電路中，以對該電路板或該射頻組件做特性阻抗等相關(guān)測試。
(2)背景技術(shù)在一般高頻的無線通訊所使用的印刷電路板中，由于所使用頻率極高，故通常對于在電路板中的各組件的配置以及相關(guān)電路布線的設(shè)計均需嚴(yán)格設(shè)計與布置，以避免電路產(chǎn)生高頻效應(yīng)或其它不良效應(yīng)的產(chǎn)生，而影響到整個電路的電氣特性，尤其是目前流行的個人數(shù)字助理器(Personal Digital Assistant；PDA)以及非常普遍的移動電話以及其它高頻通信產(chǎn)品，對于訊號的傳輸效能以及抗噪聲能力要求更高。
在一般電路板或是主機(jī)板上除了一般傳送訊號或電源的布線設(shè)計外，通常都會對傳輸線(trace)的設(shè)置特別注重，而為了驗證電路板上傳輸線的設(shè)置及相關(guān)特性，例如是電路板的傳輸效能與特性阻抗的匹配以及抗噪聲的能力等等，通常會在電路板的板邊上加上若干測試線，以測試該電路板或該傳輸線的特性，并且在一般情況下可能必須設(shè)計若干條具有不同阻值的測試線方能達(dá)成目的。
而在對高頻電路效能的整體評估中，射頻組件在該電路的特性以及阻抗值為一項重要的影響因素，而在該電路板的各樣組件被安裝至電路板后必須對該電路板中的某些信號傳輸線或某些射頻組件進(jìn)行測量，其中在對射頻組件阻抗的測量中是使用TRL所提出的測量方法。
請參閱圖1，為現(xiàn)有使用TRL的測試線的布線。如圖1所示，一電路板1是為一高頻電路應(yīng)用的電路板，一射頻組件11位于一信號傳輸線12、13上，其中該信號傳輸線12、13仍連接至電路板上其它的電路(圖一中未示)，而TRL所提出的方法是在相對該射頻組件11以及該傳輸線12、13設(shè)計三條測試線14、15、16，該三條測試線14、15、16的長度系相對于該信號傳輸線12、13的長度而設(shè)計的，例如該信號傳輸線12連接至射頻組件11的一端的長度為L，信號傳輸線13連接至射頻組件11的另一端的長度亦為L，則將測試線14的長度設(shè)計為2L。而測試線15長度則設(shè)計為L，測試線16的長度則設(shè)計為2L+λ/4，其中λ代表波長，其中測試線14的兩端設(shè)置有兩測試墊141、142，測試線15的兩端亦設(shè)置有兩測試墊151、152，測試線16的兩端亦同樣設(shè)置有兩測試墊161、162，這些測試墊是可供測試儀器在測量該射頻組件11時方便連接或測試，該射頻組件11的阻抗特性在高頻響應(yīng)下所展現(xiàn)的阻抗特性(R+jX)。這種結(jié)構(gòu)的TRL測試線對射頻組件的測量是設(shè)計在電路板上的，浪費(fèi)電路板的實(shí)體板材，這種測量方法也較復(fù)雜。
(3)實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型是為解決上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)所做的進(jìn)一步改良。本實(shí)用新型的主要目的是設(shè)計一電路板測試線的布線改良裝置，以避免TRL測試線對射頻組件的測量在電路板上設(shè)計的缺點(diǎn)，進(jìn)而降低電路板的實(shí)體板材面積，從而減少了產(chǎn)品的成本。
本實(shí)用新型的另一目的，是對TRL中具不同長度的測試線予以設(shè)計在同一條測試線中，在對該電路板做特性測試時可簡化測試流程并提高測試過程的簡易度。
本實(shí)用新型系一種電路板中有關(guān)TRL(Through Reflection Line)測試線設(shè)計的布線改良裝置，是對于在電路中某一傳輸線上的一射頻組件阻抗的測量，其中該射頻組件在該傳輸線上分別向兩端延伸的一特定距離均為L的設(shè)計下，通過將多條的測試線的若干個測試點(diǎn)整合在一條測試線中，其特征在是該測試線相對應(yīng)平行于該傳輸線的一側(cè)，設(shè)計該測試線可分別在距離為L處、距離為2L處、距離為2L+λ/4處設(shè)置測試點(diǎn)，除可達(dá)成TRL測試線原先的功能外尚有新的功效增加。
經(jīng)由上述較佳實(shí)施例的所述，本實(shí)用新型的設(shè)計可提高測試線對射頻組件阻抗測量的效率，除可簡化電路設(shè)計的復(fù)雜程度外也可減少成本的支出，并可對現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)作改良。通過上面所述，本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)特征及各實(shí)施例皆已詳細(xì)揭示，充分顯示出本實(shí)用新型案在目的及功效上均深富實(shí)施的進(jìn)步性，極具產(chǎn)業(yè)的利用價值。
為進(jìn)一步說明本實(shí)用新型的上述目的、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和效果，以下將結(jié)合附圖對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)的描述。
(4)
圖1為習(xí)用電路板使用TRL的測試線的布線。
圖2為本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例。
(5)具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型涉及一種電路板TRL測試線的布線改良裝置，是對于測量一印刷電路板中某測試線上的一射頻組件阻抗值的設(shè)計，本實(shí)用新型的特征在于將該條測試線上設(shè)置相對應(yīng)原本TRL方法中所提出的若干條測試線的若干測試點(diǎn)整合在一條測試線上。其中在該射頻組件的傳輸線上分別向兩端延伸的一特定距離均為L，并且該測試線是被設(shè)計在對該傳輸線相對平行的一側(cè)，而該測試線可分別在距離為L處、距離為2L處、距離為2L+λ/4處設(shè)置若干測試點(diǎn)，其中λ為波長。
請參閱圖2，為本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例。如圖2所示，電路板2為一高頻電路的電路板，一射頻組件21是位于一信號傳輸線22、23上，其中該信號傳輸線22、23仍連接至電路板上其它的電路(圖一中未示)，該信號傳輸線22連接至射頻組件11的一端的長度為L，信號傳輸線23連接至射頻組件11的另一端的長度亦為L。本實(shí)用新型所提出的方法是在相對平行該射頻組件21以及該傳輸線22、23的一側(cè)設(shè)計一條測試線24，該條測試線24是沿著本身的直線方向在若干個適當(dāng)?shù)胤皆O(shè)置測試墊(PAD)，或是測試端子，也或者是可供儀器或測量工具所連接測試的其它設(shè)計，例如可以連接SMA Connectors的高頻信號傳輸測試接頭。再者該若干個測試墊的設(shè)置，分別在該測試線長度上的L處、2L處以及2L+λ/4處分別設(shè)置的，其中λ為波長。如此的設(shè)計是針對TRL所提出對一射頻組件的測量所提出的布線方式的進(jìn)一步改良。針對在該條測試線上的不同的特定長度例如L處、2L處、2L+λ/4處分別設(shè)置測試墊或測試端子，例如在長度為L處在該測試線24的兩側(cè)設(shè)置測試墊241、242，在長度為2L處在該測試線24的兩側(cè)設(shè)置測試墊243、244，以及長度為2L+λ/4處設(shè)置測試墊245、246。此種設(shè)計方式是為針對該射頻組件21的阻抗特性以及進(jìn)而對該電路板的整體效能作測量與評估，在一高頻電路中的射頻組件阻抗特性的表現(xiàn)對該高頻電路有很大的影響，因此本實(shí)用新型是對現(xiàn)有技術(shù)中使用到三條的測試線予以改良設(shè)計為一條測試線，本實(shí)用新型所提出的設(shè)計除可保有原來現(xiàn)有技術(shù)所達(dá)到的功效外，尚可達(dá)到新的功效如對電路板的實(shí)體材料面積的節(jié)省，此點(diǎn)對在高頻電路中對電路板實(shí)體面積的縮小化的要求有大的改進(jìn)，又如對電路設(shè)計的簡化以及測試過程的簡化等等也有明顯的改善。
當(dāng)然，本技術(shù)領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)認(rèn)識到，以上的實(shí)施例僅是用來說明本實(shí)用新型，而并非用作為對本實(shí)用新型的限定，只要在本實(shí)用新型的實(shí)質(zhì)精神范圍內(nèi)，對以上所述實(shí)施例的變化、變型都將落在本實(shí)用新型權(quán)利要求書的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種電路板的TRL(Through Reflection Line)測試線的布線改良裝置，其是應(yīng)用于對一傳輸線上的一射頻組件阻抗的測量，其中所述的射頻組件在所述的傳輸線上分別向兩端延伸的一特定距離均為L，其特征在于所述的測試線是設(shè)計于對所述的傳輸線相對平行的一側(cè)，并且該測試線分別在距離為L處、距離為2L處、距離為2L+λ/4處設(shè)置若干測試點(diǎn)，其中λ為波長。
2.如權(quán)利要求1項所述的電路板的TRL測試線的布線改良裝置，其特征在于所述的測試點(diǎn)是相對應(yīng)該測試線的兩側(cè)分別設(shè)置的一測試墊。
3.如權(quán)利要求1項所述的電路板的TRL測試線的布線改良裝置，其特征在于所述的測試點(diǎn)是相對應(yīng)該測試線的兩側(cè)分別設(shè)置的一測試端子。
4.如權(quán)利要求1項所述的電路板的TRL測試線的布線改良裝置，其特征在于所述的測試點(diǎn)連接至一SMA connector的高頻信號傳輸測試接頭。
專利摘要本實(shí)用新型為一種電路板中有關(guān)TRL(Through Reflection Line)測試線設(shè)計的布線改良裝置，是對于在電路中某一傳輸線上的一射頻組件阻抗特性的測量，其中該射頻組件在該傳輸線上分別向兩端延伸的一特定距離均為L的設(shè)計下，利用將多條的測試線的若干個測試點(diǎn)整合在一條測試線中，其特征在是該測試線相對應(yīng)平行于該傳輸線的一側(cè)，設(shè)計該測試線上的距離為L處、距離為2L處、距離為2L+λ/4處設(shè)置測試點(diǎn)。本實(shí)用新型的設(shè)計可提高測試線對射頻組件阻抗測量的效率，除可簡化電路設(shè)計的復(fù)雜程度外也可減少產(chǎn)品成本的支出。
文檔編號H05K1/02GK2550990SQ0223121
公開日2003年5月14日 申請日期2002年4月26日 優(yōu)先權(quán)日2002年4月26日
發(fā)明者楊志祥 申請人:神達(dá)電腦股份有限公司