一種光纖性能檢測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ]本實(shí)用新型涉及光學(xué)檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及光纖性能檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]互聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展改變了世界，而光通信技術(shù)打通了互聯(lián)網(wǎng)世界的道路，光纖則是承載這一切信息的主體，光纖為海量信息傳輸提供了物質(zhì)基礎(chǔ)，目前，用于檢測(cè)光纖性能的設(shè)備也隨之出現(xiàn)，檢測(cè)光纖性能的光功率計(jì)等設(shè)備很多，但提供的光源比較少，難以滿足對(duì)不同型號(hào)的光纖檢測(cè)需求。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種光纖性能檢測(cè)的裝置，旨在解決現(xiàn)有的檢測(cè)設(shè)備中光源單一的問(wèn)題。
[0004]本實(shí)用新型提供了一種光纖性能檢測(cè)裝置，包括:機(jī)架和工作平臺(tái)，工作平臺(tái)設(shè)置在機(jī)架上部，工作平臺(tái)包括外殼，工作平臺(tái)內(nèi)部設(shè)置有光源發(fā)射模塊、光功率計(jì)模塊、顯示模塊、電源模塊和處理器模塊。
[0005]光源發(fā)射模塊用于發(fā)射不同波長(zhǎng)的光，光源發(fā)射模塊包括發(fā)射通道，發(fā)射通道對(duì)應(yīng)的發(fā)射通道接口能夠連接不同型號(hào)接頭的光纖。
[0006]光功率計(jì)模塊用于檢測(cè)所述光源發(fā)射模塊發(fā)射的不同波長(zhǎng)的光，所述光功率計(jì)模塊包括檢測(cè)通道，所述檢測(cè)通道對(duì)應(yīng)的檢測(cè)通道接口能夠連接不同型號(hào)接頭的光纖。
[0007]處理器模塊與所述光功率計(jì)模塊連接，用于處理所述光功率計(jì)模塊檢測(cè)出的數(shù)據(jù)。
[0008]顯示模塊與所述處理模塊連接，用于顯示所述處理器模塊處理后的數(shù)據(jù)。
[0009]電源模塊用于給光源發(fā)射模塊、光功率計(jì)模塊、顯示模塊和處理器模塊供電。
[0010]進(jìn)一步的，發(fā)射通道接口固定在所述工作平臺(tái)外殼上，發(fā)射通道接口能夠?qū)覨C、SC、ST光纖接頭。
[0011 ] 進(jìn)一步的，發(fā)射通道數(shù)量為四個(gè)，分別用于發(fā)射650nm、1310nm、1490nm、1550nm四種不同波長(zhǎng)的光。
[0012]進(jìn)一步的，檢測(cè)通道接口固定在工作平臺(tái)外殼上，檢測(cè)通道接口能夠?qū)覨C、SC、ST光纖接頭。
[0013]進(jìn)一步的，檢測(cè)通道數(shù)量為四個(gè)，每個(gè)檢測(cè)通道均能夠用于測(cè)試650nm、1310nm、1490nm、1550nm四種不同波長(zhǎng)的光。
[0014]進(jìn)一步的，工作平臺(tái)內(nèi)部還設(shè)置語(yǔ)音播報(bào)模組，語(yǔ)音播報(bào)模組與處理器模塊連接，用于實(shí)時(shí)播報(bào)所述顯示模塊顯示的數(shù)據(jù)。
[0015]進(jìn)一步的，光纖性能檢測(cè)裝置還包括網(wǎng)絡(luò)配架模組，網(wǎng)絡(luò)配架模組設(shè)置在機(jī)架的中部，網(wǎng)絡(luò)配架模組提供不同型號(hào)的配線架、跳線架。
[0016]進(jìn)一步的，電源模塊設(shè)置有總開(kāi)關(guān)，總開(kāi)關(guān)固定在工作平臺(tái)的外殼上。
[0017]進(jìn)一步的，機(jī)架采用開(kāi)放式標(biāo)準(zhǔn)全鋼結(jié)構(gòu)，機(jī)架的長(zhǎng)為0.6米、寬為0.6米、高為2米。
[0018]進(jìn)一步的，機(jī)架下部設(shè)置四個(gè)低腳螺絲，用于把所述機(jī)架固定在地面或測(cè)試臺(tái)上。
[0019]本光纖性能檢測(cè)裝置的有益效果:裝置的光源發(fā)射模塊設(shè)置有多個(gè)發(fā)射通道，裝置的光功率計(jì)模塊設(shè)置有多個(gè)檢測(cè)通道，可以檢測(cè)不同波長(zhǎng)的光通過(guò)光纖時(shí)光纖的性能，使得裝置對(duì)光纖性能的檢測(cè)更加全面。
【附圖說(shuō)明】
[0020]圖1本實(shí)用新型一實(shí)施例中光纖性能檢測(cè)裝置的外部結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖2本實(shí)用新型另一實(shí)施例中光纖性能檢測(cè)裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0022]為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
[0023]圖1示出了本實(shí)用新型一實(shí)施例中光纖性能檢測(cè)裝置的外部結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖2示出了本實(shí)用新型另一實(shí)施例中光纖性能檢測(cè)裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。
[0025]參考圖1、2，本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種光纖性能檢測(cè)裝置，包括:機(jī)架09和工作平臺(tái)06，工作平臺(tái)06設(shè)置在機(jī)架09上部，工作平臺(tái)06包括外殼，工作平臺(tái)06內(nèi)部設(shè)置有光源發(fā)射模塊04、光功率計(jì)模塊05、顯示模塊O1、電源模塊08和處理器模塊。
[0026]光源發(fā)射模塊04用于發(fā)射不同波長(zhǎng)的光，光源發(fā)射模塊04包括發(fā)射通道，發(fā)射通道對(duì)應(yīng)的發(fā)射通道接口能夠連接不同型號(hào)接頭的光纖，發(fā)射通道接口固定在工作平臺(tái)06外殼上，發(fā)射通道接口能夠?qū)覨C、SC、ST光纖接頭。具體的，本實(shí)施例中，發(fā)射通道數(shù)量為四個(gè)，分別用于發(fā)射650nm、1310nm、1490nm、1550nm四種不同波長(zhǎng)的光。具體應(yīng)用中，可根據(jù)需要做相應(yīng)修改或增加相應(yīng)通道數(shù)量，在此不做限定。
[0027]光功率計(jì)模塊05，用于檢測(cè)光源發(fā)射模塊05發(fā)射的不同波長(zhǎng)的光，光功率計(jì)模塊05包括檢測(cè)通道，所述檢測(cè)通道對(duì)應(yīng)的檢測(cè)通道接口能夠連接不同型號(hào)接頭的光纖，檢測(cè)通道接口固定在工作平臺(tái)06外殼上，檢測(cè)通道接口能夠?qū)覨C、SC、ST光纖接頭。對(duì)應(yīng)的，本實(shí)施例中檢測(cè)通道數(shù)量為四個(gè)，每個(gè)檢測(cè)通道均能夠用于測(cè)試650nm、1310nm、1490nm、1550nm四種不同波長(zhǎng)的光。具體應(yīng)用中，可根據(jù)需要做相應(yīng)修改或增加相應(yīng)通道數(shù)量，在此不做限定。
[0028]檢測(cè)時(shí)，把要檢測(cè)的光纖一端接在光源發(fā)射模塊04其中的一個(gè)發(fā)射通道上，例如，接在可以發(fā)射650nm波長(zhǎng)的光的那一個(gè)發(fā)射通道上，光纖的另一端接在光功率計(jì)模塊05其中的一個(gè)檢測(cè)通道上，讓光源發(fā)射模塊04發(fā)射650nm波長(zhǎng)的光經(jīng)過(guò)光纖，這樣可以讓光功率計(jì)模塊05檢測(cè)通過(guò)650nm波長(zhǎng)光時(shí)光纖的性能狀態(tài)。
[0029]例如，也可以同時(shí)接四條光纖在光源發(fā)射模塊04的四個(gè)發(fā)射通道上，四條光纖的另一端接在光功率計(jì)模塊05的四個(gè)檢測(cè)通道上，光源發(fā)射模塊04發(fā)射650nm、1310nm、1490nm、1550nm四種不同波長(zhǎng)的光經(jīng)過(guò)光纖，讓光功率計(jì)模塊05比較檢測(cè)不同波長(zhǎng)光經(jīng)過(guò)光纖時(shí)光纖的性能狀態(tài)。
[0030]處理器模塊與所述光功率計(jì)模塊05連接，用于處理光功率計(jì)模塊05檢測(cè)出的數(shù)據(jù)。本實(shí)用新型實(shí)施例中處理器模塊可以為單片機(jī)、DSP等集成芯片。
[0031]顯示模塊01與所述處理器模塊連接，用于顯示處理器模塊處理后的數(shù)據(jù)，顯示模塊01通過(guò)RS232通信方式和處理器模塊進(jìn)