Plc光分路器檢測裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ]本實用新型涉及光纖技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種PLC光分路器檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著光纖通信的投資方向由通信干線，城域網(wǎng)等向光纖到戶的方向發(fā)展，光纖到戶的核心光器件光分路器的需求也將不斷擴大。光分路器是光纖鏈路中最重要的無源器件之一，是具有多個輸入端和多個輸出端的光纖匯接器件。光分路器按原理可以分為熔融拉錐型(FBT)和平面波導型(PLC)兩種。
[0003]目前，平面光波導分路器的測試領(lǐng)域中，主流產(chǎn)品為多通道綜合測試儀，即通過8個探測器，同時測試8路PLC輸出的方式進行PLC測試，該測試方案集成了光源、光開關(guān)模塊、偏振控制器及8通道光功率計，可對PLC器件進行插入損耗，偏振相關(guān)損耗、均勻性、附加損耗等指標進行測試，但由于其使用8個探測器，故不可避免引入了通道間的漂移和偏差，使用機械式偏振控制器，偏振相關(guān)損耗測試速度慢且精確度低(三波長測試約為30秒)，由于需要對8個通道分別進行歸零操作，效率低下，需對PLC器件輸出端每個端口進行剝纖，并使用裸纖夾持器，操作繁瑣，引入誤差大，且測試重復性差，雖有廠家提供了帶纖熔接技術(shù)，然而帶纖熔接機價格十分昂貴，性價比不高；因此，當前平面光波導分路器測試已成為很多生產(chǎn)商產(chǎn)能瓶頸，雖然市場上有很多廠家可以提供多通道PLC測試設(shè)備，但操作步驟繁多，測試效率太低，測試精度不高以及穩(wěn)定性較差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為解決上述問題，本實用新型公開了一種PLC光分路器檢測裝置。
[0005]為了達到以上目的，本實用新型提供如下技術(shù)方案:
[0006]—種PLC光分路器檢測裝置，包括多波長光源、光分路器、計算機、偏振控制器、光纖對準器和測試裝置，計算機控制信號線連接多波長光源，多波長光源的輸出端通過光纖和偏振控制器的輸入端相連，所述測試裝置包括光電檢測器和步進電機，所述光纖對準器用于將所述偏振控制器的至少一個輸出端與所述待測光分路器的至少一個輸入端對應連接，所述光纖對準器包括基座、貫穿所述基座的凹槽和壓入所述凹槽的壓塊，所述光分路器的輸出端與所述光電探測器的輸入端連接，所述光分路器上設(shè)有帶纖夾底座，所述光電探測器為高速采樣光功率計，光電探測器上設(shè)有一擋片，該擋片上設(shè)有一槽，該槽使得同一時刻僅有光分路器的一個通道的輸出光透過，所述光電探測器與通過數(shù)據(jù)線計算機連接。
[0007]作為優(yōu)選，所述凹槽為V形凹槽。
[0008]作為優(yōu)選，所述步進電機上設(shè)置平板形成電動平移臺，電動平移臺用于移動光電探測器。
[0009]作為優(yōu)選，所述多波長光源為三波長光源，能夠輸出1310nm、1490nm和1550nm
波長段的光源。
[0010]作為優(yōu)選，所述V形凹槽的角度為30?60°。[0011 ]本實用新型取得的有益效果為:
[0012]本實用新型所提供的PLC光分路器檢測裝置，通過光纖對準器將所述偏振控制器的至少一個輸出端與所述待測光分路器的至少一個輸入端對應連接，從而不需要采用光纖熔接機連接偏振轉(zhuǎn)換器和待測光分路器，降低了成本。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型測試步驟簡單，能夠大幅提高測試效率和測試精度。消除了多通道測試方案中通道間漂移和計量偏差及參考值歸零時繁瑣操作的缺陷。在連接輸出端步驟中，無帶纖熔接失敗重復步驟，無帶纖熔接時引入的IL及TOL損耗，降低外界耦合誤差，無需使用帶纖熔接機，降低設(shè)備成本。采用高速采樣光功率計，測試值更為準確。
【附圖說明】
[0013]圖1、本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0014]圖2、光纖對準器的俯視圖；
[0015]圖3、光纖對準器的立體圖；
[0016]圖4、測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]附圖標記列表:
[0018]1-多波長光源；2-偏振控制器;3-光纖對準器;4-光分路器;5-測試裝置;6_計算機;31-基座;32-凹槽;33-壓塊;21-偏振控制器輸出端;41-光分路器輸入端;51-光電探測器;52-步進電機;53-電動平移臺；42-帶纖夾底座。
【具體實施方式】
[0019]下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】，進一步闡明本實用新型，應理解下述【具體實施方式】僅用于說明本實用新型而不用于限制本實用新型的范圍。
[0020]如圖1到4所示的PLC光分路器4檢測裝置，包括多波長光源1、光分路器4、計算機6、偏振控制器2、光纖對準器3和測試裝置5，計算機6控制信號線連接多波長光源I，多波長光源I的輸出端通過光纖和偏振控制器2的輸入端相連，測試裝置5包括光電檢測器和步進電機52，光纖對準器3用于將偏振控制器2的至少一個輸出端21與待測光分路器4的至少一個輸入端41對應連接，光纖對準器3包括基座31、貫穿基座31的凹槽32和壓入凹槽32的壓塊33，光分路器4的輸出端與光電探測器51的輸入端連接，光分路器4上設(shè)有帶纖夾底座42，光電探測器51為高速采樣光功率計，光電探測器51上設(shè)有一擋片，該擋片上設(shè)有一槽，該槽使得同一時刻僅有光分路器4的一個通道的輸出光透過，該槽是寬度為100 ± 25um的狹縫。光電探測器51與通過數(shù)據(jù)線計算機6連接。步進電機52上設(shè)置平板形成電動平移臺53，電動平移臺53用于移動光電探測器51。
[0021]光纖對準器3具有至少一個凹槽32，凹槽32用于嵌入偏振控制器2的至少一個輸出端和待測光分路器4的至少一個輸入端，以實現(xiàn)偏振轉(zhuǎn)換器和待測光分路器4的連接。凹槽32為V形凹槽32 J形凹槽32的角度為30?60°。
[0022]多波長光源I為三波長光源，能夠輸出1310nm、1490nm和1550nm波長段的光源。
[0023]本實用新型的工作原理是:光源從光分路器4輸出端輸出，高速采樣光功率計對光分路器4的一個通道的輸出光進行光功率采樣，計算機6自動記錄高速采樣光功率計傳送的光功率數(shù)據(jù)，計算機控制步進電機52帶動高速采樣光功率計移動，高速采樣光功率計繼續(xù)對輸出光進行光功率采樣，如此反復執(zhí)行對輸出光的光功率采樣，計算機6自動分析最小的光功率損耗值。光分路器4的所有通道的輸出光完全從高速采樣光功率計的探測狹縫劃過后，完成一個波長的測試，計算機6將信息反饋至多波長光源。
[0024]本實用新型方案所公開的技術(shù)手段不僅限于上述實施方式所公開的技術(shù)手段，還包括由以上技術(shù)特征任意組合所組成的技術(shù)方案。應當指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也視為本實用新型的保護范圍。
【主權(quán)項】
1.一種PLC光分路器檢測裝置，包括多波長光源、光分路器、計算機、偏振控制器、光纖對準器和測試裝置，計算機控制信號線連接多波長光源，多波長光源的輸出端通過光纖和偏振控制器的輸入端相連，其特征在于，所述測試裝置包括光電檢測器和步進電機，所述光纖對準器用于將所述偏振控制器的至少一個輸出端與所述光分路器的至少一個輸入端對應連接，所述光纖對準器包括基座、貫穿所述基座的凹槽和壓入所述凹槽的壓塊，所述光分路器的輸出端與所述光電探測器的輸入端連接，所述光分路器上設(shè)有帶纖夾底座，所述光電探測器為高速采樣光功率計，光電探測器上設(shè)有一擋片，該擋片上設(shè)有一槽，該槽使得同一時刻僅有光分路器的一個通道的輸出光透過，所述光電探測器與通過數(shù)據(jù)線計算機連接。2.如權(quán)利要求1所述的PLC光分路器檢測裝置，其特征在于，所述凹槽為V形凹槽。3.如權(quán)利要求1所述的PLC光分路器檢測裝置，其特征在于，所述步進電機上設(shè)置平板形成電動平移臺，電動平移臺用于移動光電探測器。4.如權(quán)利要求1所述的PLC光分路器檢測裝置，其特征在于，所述多波長光源為三波長光源，能夠輸出1310nm、1490nm和1550nm波長段的光源。5.如權(quán)利要求2所述的PLC光分路器檢測裝置，其特征在于，所述V形凹槽的角度為30?60。。
【專利摘要】本實用新型提供了一種PLC光分路器檢測裝置，包括多波長光源、光分路器、計算機、偏振控制器、光纖對準器和測試裝置，計算機控制信號線連接多波長光源，多波長光源的輸出端通過光纖和偏振控制器的輸入端相連，測試裝置包括光電檢測器和步進電機，光纖對準器用于將偏振控制器的至少一個輸出端與待測光分路器的至少一個輸入端對應連接，光分路器上設(shè)有帶纖夾底座，光電探測器上設(shè)有一擋片，該擋片上設(shè)有一槽，光電探測器與計算機連接。本實用新型測試步驟簡單，能夠大幅提高測試效率和測試精度。消除了多通道測試方案中通道間漂移和計量偏差及參考值歸零時繁瑣操作的缺陷。
【IPC分類】H04B10/079, H04B10/071, H04B10/2507
【公開號】CN205195708
【申請?zhí)枴緾N201520932468
【發(fā)明人】周建忠, 張志剛, 余榮亮
【申請人】江蘇中土星通光電科技有限公司
【公開日】2016年4月27日
【申請日】2015年11月20日