一種雙工光纖跳線插回?fù)p快速測試和極性判斷的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種雙工光纖跳線插回?fù)p快速測試和極性判斷的方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 當(dāng)前,大多數(shù)光纖系統(tǒng)采用一對光纖來進(jìn)行信號的發(fā)送和接收,分別傳輸不同方 向的信號,這類光纖跳線也被稱為雙工光纖跳線。雙工光纖跳線的平行連接方式被看作極 性相同,反之,交叉連接的話,被看作極性相反,雙工光纖跳線的廣泛應(yīng)用可以簡化這類光 纖網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)的布線管理工作。為了保證光信號正常傳輸和光纖系統(tǒng)正常工作,要求雙工光 纖跳線產(chǎn)品性能指標(biāo)應(yīng)滿足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求,其中,包括雙工光纖跳線具有低插入損耗,端面 具有高回波損耗,同時具有正確的發(fā)送和接收極性。傳統(tǒng)測試技術(shù)中,雙工光纖跳線的光插 入損耗、端面光回波損耗測試和極性判斷分開進(jìn)行的。采用兩臺光源和兩臺光功率計實現(xiàn) 雙工光纖跳線的光插入損耗測試:首先,分別用兩根標(biāo)準(zhǔn)參考跳線連接光源和光功率計,并 將光功率計的讀數(shù)設(shè)置為參考;然后,接入待測雙工光纖跳線,此時光功率計的讀數(shù)即為跳 線的光插入損耗,也可以采用單臺光源和光功率計分兩次接入待測雙工光纖跳線進(jìn)行光插 入損耗測試;采用光回波損耗測試儀可實現(xiàn)雙工光纖跳線端面的光回波損耗測試,首先儀 器經(jīng)過參考之后,可依次測試雙工光纖跳線四個端面的光回波損耗;對于雙工光纖跳線的 極性是否相同,可通過測試單根光纖跳線的光插入損耗是否正常來確定,如果光插入損耗 很大,說明極性接反,否則,極性相同。然而,現(xiàn)有技術(shù)中測試光插入損耗、端面光回波損耗 和極性判斷的方法不能同時進(jìn)行,在實際操作中存在測試工序繁多,測試過程中涉及多次 光纖插拔,費時費力和測試效率低的缺點,影響產(chǎn)品檢測的速度。由此可見,現(xiàn)有技術(shù)需要 進(jìn)一步改進(jìn)。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003] 本發(fā)明的目的在于提出一種雙工光纖跳線插回?fù)p快速測試和極性判斷的方法,經(jīng) 過三步參考測試之后,后續(xù)只需要通過單次測試即可解決雙工光纖跳線插回?fù)p快速測試和 快速極性判斷的問題,顯著地縮短了測試時間,極大地提高了測試效率。
[0004] 為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
[0005] -種雙工光纖跳線插回?fù)p快速測試和極性判斷的方法,測試時用到的設(shè)備包括工 作波長為1310nm和1550nm的帶內(nèi)置光開關(guān)的光回波損耗測試儀、兩根標(biāo)準(zhǔn)光纖跳線MTJl 和MTJ2、兩個雙工適配器、工作波長包含1310nm和1550nm的1X2光耦合器和和待測雙工 光纖跳線,其中,光親合器的分光比為40 :60 ;
[0006] 所述方法采用如下測試步驟:
[0007] si用標(biāo)準(zhǔn)光纖跳線MTJl分別連接光回波損耗測試儀的輸出OUTA和光功率計 OPM ;選擇相應(yīng)的工作波長、平均時間、量程和輸出端口,選擇參考測試,測出從OUTA經(jīng)MTJl 光纖跳線后輸出脈沖光峰值光功率Pai;
[0008] s2用標(biāo)準(zhǔn)光纖跳線MTJ2分別連接光回波損耗測試儀的輸出OUTB和光功率計 OPM ;選擇相應(yīng)的輸出端口,其他測試條件不變,測出從OUTB經(jīng)MTJ2光纖跳線后輸出脈沖光 峰值光功率Pbi ;
[0009] s3用標(biāo)準(zhǔn)光纖跳線MTJl和MTJ2的一端分別連接OUTA和0UTB,用標(biāo)準(zhǔn)光纖跳線 MTJl和MTJ2的另一端通過一個雙工適配器分別連接光耦合器的40端和60端,將光耦合 器的公共端COM連接光功率計OPM ;選擇相應(yīng)的輸出端口,其他測試條件不變,分別測出從 OUTA經(jīng)MTJl和光耦合器后輸出的脈沖光平均光功率巧以及從OUTB經(jīng)MTJ2和光耦合器 后輸出的脈沖光平均光功率
[0010] S4將待測雙工光纖跳線的一端通過一個雙工適配器分別與MTJl和MTJ2的一端連 接,另一端通過另一個雙工適配器分別與光耦合器的40端和60端連接;選擇相應(yīng)的輸出端 口,選擇待測件測試,其他測試條件不變,分別測出從OUTA和OUTB輸出的經(jīng)過待測雙工光 纖跳線后的脈沖光平均光功率&和?^、以及從OUTA和OUTB的待測雙工光纖跳線兩個端 面返回的脈沖光峰值光功率P A1、AjP P BnPrB2; toon] 根據(jù)光插入損耗和光回波損耗的計算公式,
[0012] 其中,Pin、UP P badi分別表示入射光功率、出射光功率和反射光功率;
[0013] 則待測雙工光纖跳線的光插入損耗和四個端面光回波損耗分別是:
[0015] 通過測出的雙工光纖跳線光插入損耗值,進(jìn)行雙工光纖跳線的極性判斷。
[0016] 具體的,雙工光纖跳線的極性判斷規(guī)則為:
[0017] 如果測出的光插入損耗值有負(fù)值,判定為雙工光纖跳線極性相反;如果測出的光 插入損耗值都為正值,并且IL b大于光耦合器兩路光插入損耗之差的話,需要采用傳統(tǒng)方法 來判定雙工光纖跳線極性;其他情況判定為雙工光纖跳線極性相同。
[0018] 本發(fā)明具有如下優(yōu)點:
[0019] 本發(fā)明采用不同分光比的1X2光耦合器將兩路光合并到一個光功率計探頭中, 在經(jīng)過三步參考測試之后,接入待測雙工光纖跳線,單次測試即可得出雙工光纖跳線光插 入損耗、四個端面的光回波損耗和極性是否相同的結(jié)果;然后,更換待測雙工光纖跳線,無 需參考直接進(jìn)行待測件測試即可得出測試結(jié)果,顯著地縮短了測試時間,極大地提高了測 試效率。
【附圖說明】
[0020] 圖1為OUTA端口參考測試連接圖;
[0021] 圖2為OUTB端口參考測試連接圖;
[0022] 圖3為OUTA和OUTB端口參考測試連接圖;
[0023] 圖4為OUTA和OUTB端口待測件測試連接圖。
【具體實施方式】
[0024] 下面結(jié)合附圖以及【具體實施方式】對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明:
[0025] 一種雙工光纖跳線插回?fù)p快速測試和極性判斷的方法,測試時用到的設(shè)備包括工 作波長為1310nm和1550nm的帶內(nèi)置光開關(guān)的光回波損耗測試儀、兩根標(biāo)準(zhǔn)光纖跳線MTJl 和MTJ2、兩個雙工適配器、工作波長包含1310nm和1550nm的1X2光耦合器和和待測雙工 光纖跳線;其中,光耦合器的分光比為40 :60。具體的,
[0026] 一種雙工光纖跳線插回?fù)p快速測試和極性判斷的方法,采用如下測試步驟:
[0027] si用標(biāo)準(zhǔn)光纖跳線MTJl分別連接光回波損耗測試儀的輸出OUTA和光功率計 0ΡΜ,如圖1所示;選擇相應(yīng)的工作波長、平均時間、量程和輸出端口,選擇參考測試,測出從 OU