線下方兩個(gè)像素處設(shè)置參照線，或 可以分別在關(guān)注線上方及下方兩個(gè)像素處來(lái)設(shè)置參照線，或可以將從各參照線上確定的參 照像素中計(jì)算出的校正值取平均值。這樣，通過(guò)在與關(guān)注線正交的方向（垂直方向）上設(shè) 置多個(gè)參照線以及利用各參照線上計(jì)算出的校正值，可以執(zhí)行還反映垂直方向上的信號(hào)水 平的變化的精確插值。與在關(guān)注線的一側(cè)設(shè)置多個(gè)參照線的情況相比，在關(guān)注線兩側(cè)都設(shè) 置參照線時(shí)可以在關(guān)注線附近設(shè)置許多參照線并可以執(zhí)行精確插值。
[0063] 此外，盡管本實(shí)施例描述了拜耳陣列中的R像素是缺陷像素的示例性情況，但即 使缺陷像素是B像素或G像素，本發(fā)明也同樣適用。
[0064] 如上所述，根據(jù)本實(shí)施例，基于包括缺陷像素的關(guān)注線與參照線之間的相關(guān)量確 定參照像素。為此，不管被攝體的形狀如何都可以確定適合于缺陷像素校正的參照像素。此 外，在擴(kuò)大參照區(qū)域的同時(shí)可以減少錯(cuò)誤校正的負(fù)面影響。
[0065] 第二實(shí)施例
[0066] 第一實(shí)施例描述了缺陷像素是諸如拜耳陣列中的R像素或B像素等在濾色器的各 重復(fù)單位中出現(xiàn)一次的顏色的像素的情況下的校正方法。本實(shí)施例涉及缺陷像素是諸如拜 耳陣列中的G像素等出現(xiàn)在各像素線的像素的情況下的校正方法。
[0067] 在拜耳陣列中的R像素或B像素是缺陷像素的情況下，由于重復(fù)單位由兩個(gè)像素 構(gòu)成，因此與缺陷像素顏色相同的像素不存在于鄰接的像素線中而位于與缺陷像素分開(kāi)至 少兩個(gè)像素的位置處，從而在與關(guān)注線分開(kāi)兩個(gè)像素的像素線上設(shè)置參照線。然而，例如， 如果G像素是如圖6的6a部分中的缺陷像素，則與缺陷像素顏色相同的像素存在于鄰接的 像素線上。為此，如圖6的6c部分所示，可以在與關(guān)注線平行且與其分開(kāi)一個(gè)像素的像素 線上設(shè)置參照線。
[0068] 因此，如果可以在鄰接的像素線上設(shè)置參照線，則由于關(guān)注線和參照線間的距離 更短，因此可以比在分開(kāi)兩個(gè)像素的像素線上設(shè)置參照線的情況更精確地計(jì)算出相關(guān)量。 然而，由于在拜耳陣列中鄰接像素線上的G像素的坐標(biāo)彼此偏移一個(gè)像素，因此當(dāng)利用使 特征像素序列間的相關(guān)性為最高（即，相關(guān)值Sx為最小）的偏移量X獲得參照像素位置時(shí)， 需要考慮此偏移。
[0069] 例如，如果如圖6中的6b部分和6c部分所示而生成特征像素序列，則與偏移量 為〇的缺陷像素相對(duì)應(yīng)的像素是參照線上水平坐標(biāo)比缺陷像素?。矗毕菹袼氐淖蠓剑?一個(gè)像素的像素。因此，如果獲得了偏移量X，則確定參照線上水平坐標(biāo)從缺陷像素偏移 (XX2-1)的像素是參照像素。例如，如果在偏移量X= 2時(shí)相關(guān)性為最高，則如圖6的6d 部分所示，確定參照線上與缺陷像素的水平坐標(biāo)分開(kāi)（2X2-1) =+3個(gè)像素的像素（S卩，從 缺陷像素向右分開(kāi)三個(gè)像素的像素）是參照像素。
[0070] 根據(jù)本實(shí)施例，在與缺陷像素顏色相同的像素存在于鄰接的像素線上時(shí)，可以更 加精確地校正缺陷像素。請(qǐng)注意，可以將缺陷像素的顏色與缺陷像素的位置信息相關(guān)聯(lián)地 存儲(chǔ)，或者可以使用與位置信息分開(kāi)存儲(chǔ)的信息來(lái)計(jì)算缺陷像素的顏色。請(qǐng)注意，例如，攝 影中使用的圖像傳感器中配設(shè)的濾色器的顏色排列圖案的信息可以被存儲(chǔ)在二次存儲(chǔ)設(shè) 備105中，或可以從圖像數(shù)據(jù)的附加信息中獲得。因此，可以配置為根據(jù)濾色器的顏色排列 圖案和缺陷像素的顏色而有選擇地執(zhí)行第一實(shí)施例和本實(shí)施例。
[0071] 第三實(shí)施例
[0072] 第一實(shí)施例和第二實(shí)施例描述了在缺陷像素是孤立的情況下的校正方法。本實(shí)施 例將描述在相同顏色的缺陷像素連續(xù)存在的情況下的校正方法。由于制造公差或經(jīng)年劣化 而出現(xiàn)這樣的缺陷像素，并且如圖7的7a部分中所示，在圖像傳感器中配置用于焦點(diǎn)檢測(cè) 的像素的情況下也出現(xiàn)這樣的缺陷像素。由于焦點(diǎn)檢測(cè)像素生成用于執(zhí)行相位差檢測(cè)方法 中的焦點(diǎn)檢測(cè)的信號(hào)，因此它們的光接收的范圍比普通像素更窄，或者其中未配設(shè)濾色器， 因此獲得的像素值與普通像素的像素值不同。因此，如圖7的7b部分所示，考慮到這些焦 點(diǎn)檢測(cè)像素將是連續(xù)的相同顏色的缺陷像素而需要執(zhí)行校正。
[0073] 假設(shè)如上述實(shí)施例中關(guān)注線在水平方向上，則不可以使用第一實(shí)施例中描述的利 用缺陷像素和存在于關(guān)注線上的與缺陷像素顏色相同的像素而生成特征像素序列的方法。
[0074] 在本實(shí)施例中，使用與上述實(shí)施例不同的方法生成關(guān)注線和參照線上的特征像素 序列。具體地說(shuō)，在圖3中的步驟S303中用于生成關(guān)注線上的特征像素序列的處理中，如 圖7的7c部分中那樣，CPU103提取與缺陷像素的顏色"不同"的、與缺陷像素處于相同的 水平坐標(biāo)的像素作為特征像素。這里，由于使用拜耳陣列濾色器且缺陷像素是R像素，因此 從關(guān)注線提取出G像素以生成特征像素序列。
[0075] 另外，由于缺陷像素是R像素，因此如第一實(shí)施例中那樣，CPU103在分開(kāi)（此處 為在上方）構(gòu)成濾色器的重復(fù)單位的兩個(gè)像素的位置處來(lái)設(shè)置參照線。然后，在步驟S304 中，與7d部分（圖7)所示的關(guān)注線一樣，CPU103提取參照線上與缺陷像素顏色"不同"的 像素作為特征像素以生成特征像素序列。與關(guān)注線一樣，由于參照線上的濾色器的顏色排 列與關(guān)注線一致，因此從參照線提取相同的G像素以生成特征像素序列。
[0076] 在檢測(cè)出特征像素序列間的相關(guān)量為最小的偏移量后，通過(guò)將位于與缺陷像素分 開(kāi)該偏移量的位置處的像素用作參照像素而執(zhí)行校正。由于在將缺陷像素的位置視為偏移 量〇時(shí)確定了參照像素，因此參照像素是與缺陷像素顏色相同的像素。
[0077] 請(qǐng)注意，在諸如拜耳陣列中的G像素等存在于鄰接的像素線上的顏色的像素連續(xù) 地為缺陷像素的情況下，將參照線設(shè)置為使得關(guān)注線和參照線上的特征像素序列由相同顏 色的像素構(gòu)成。
[0078] 另外，例如，盡管如同本實(shí)施例中那樣使用與缺陷像素顏色不同的像素的值生成 特征像素序列，但也可以使用包括鄰接像素的多個(gè)像素的平均像素值。
[0079] 如上所述，同樣，在本實(shí)施例中，可以實(shí)現(xiàn)與上述實(shí)施例中相同的效果。
[0080] 請(qǐng)注意，盡管這里描述了在相同顏色的缺陷像素連續(xù)存在時(shí)使用與缺陷像素顏色 不同的像素執(zhí)行的校正，但在校正孤立的缺陷像素的情況下也可以執(zhí)行與本實(shí)施例中相同 的校正。例如，可以將第一實(shí)施例配置為使得提取關(guān)注線和參照線上的G像素作為特征像 素。
[0081] 第四實(shí)施例
[0082] 上述實(shí)施例已描述了如下情況：從設(shè)置在與關(guān)注線在垂直方向上分開(kāi)濾色器的一 個(gè)重復(fù)單位的像素線上的、或設(shè)置在與關(guān)注線鄰接的像素線上的參照線，獲得參照像素。換 言之，即為關(guān)注線和參照線在水平方向上顯著相關(guān)的情況。
[0083] 然而，在圖8A中示出的具有接近水平的角度的重復(fù)圖案的被攝體的情況下，與關(guān) 注線在垂直方向上分開(kāi)濾色器的一個(gè)重復(fù)單位的像素線、或與關(guān)注線鄰接的像素線并不顯 著相關(guān)。請(qǐng)注意，盡管圖8A示出了如第三實(shí)施例中那樣連續(xù)存在缺陷像素的情況，但在孤 立的缺陷像素的情況下可能發(fā)生同樣的問(wèn)題。
[0084] 在由此使用具有接近水平的角度的被攝體所包括的關(guān)注線以及未包括在被攝體 中的參照線的情況下，即使通過(guò)在水平方向上偏移特征像素序列獲得相關(guān)量，但是除非偏 移量在相當(dāng)大的范圍內(nèi)變化，否則不太可能確定適當(dāng)?shù)膮⒄障袼?。如果使用不適當(dāng)?shù)膮⒄?像素校正缺陷像素，則會(huì)發(fā)生錯(cuò)誤校正，從而出現(xiàn)與原始像素值大為不同的像素值。尤其 是，在具有重復(fù)形狀的被攝體中重復(fù)發(fā)生錯(cuò)誤校正，并且生成了被攝體原本不具有的重復(fù) 圖案。
[0085] 如圖8A中所示，在在具有接近水平的角度的重復(fù)形狀的被攝體中包括缺陷像素 的情況下，通過(guò)擴(kuò)大垂直搜索區(qū)域而不是擴(kuò)大水平搜索區(qū)域更容易地找到適當(dāng)?shù)膮⒄障袼?(具有與缺陷像素相同或相近的值的像素）。然而，如圖8B中所示出，如果僅在垂直方向上 擴(kuò)大搜索區(qū)域，則關(guān)注線和參照線間的距離增加，因此存在特征像素序列間的相關(guān)量的精 確度降低的情況。例如，此類情況包括在與缺陷像素在垂直方向上分開(kāi)四個(gè)像素的位置處 的像素中出現(xiàn)與缺陷像素中的被攝體不同的被攝體的情況。在這種情況下，可能由于參照 不同的被攝體的像素值而對(duì)缺陷像素執(zhí)行錯(cuò)誤校正。本實(shí)施例提供一種在垂直方向上擴(kuò)展 參照區(qū)域的同時(shí)能夠抑制錯(cuò)誤校正的校正方法。
[0086] 圖9是示意性示出本實(shí)施例中的缺陷像素校正的概要的圖。處理1001和1002表 示以與第三實(shí)施例中相同的方式利用與關(guān)注線的距離不同的參照線A和B確定參照像素的 處理。在處理1001中，將關(guān)注線上方兩個(gè)像素處的像素線設(shè)置為參照線A，而在處理1002 中，將關(guān)注線上方四個(gè)像素處的像素線設(shè)置為參照線B。最終校正值是利用各參照線上確定 的參照像素而獲得的，并用于缺陷像素的校正。
[0087] 圖10是示出本實(shí)施例中的處理的流程的流程圖，與圖3中相同的處理被賦予相同 的附圖標(biāo)記。從圖3與圖10的比較可以清楚看出，分別地在參照線A和B上執(zhí)行第三實(shí)施 例（第一實(shí)施例，缺陷像素是孤立的情況）中的處理，并且合成獲得的校正值以獲得缺陷像 素的校正值。
[0088] 本實(shí)施例的特征在于，在步驟S1110中將針對(duì)各個(gè)不同的參照線計(jì)算出的校正值 進(jìn)行合成。在步驟S1110中，CPU103將從參照線A計(jì)算出的校正值Qa與從參照線B計(jì)算 出的校正值Qb進(jìn)行合成。這里，假設(shè)合成率是a(0<a< 1)，通過(guò)以下等式計(jì)算最終校 正值Q。
[0089] Q=aXQa+(l-a)XQb(2)
[0090] 接下來(lái)，將描述使用不同評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)作為確定合成率a的方法的三個(gè)示例。
[0091] 首先，將描述根據(jù)最小相關(guān)量確定合成率a。在這種情況下，根據(jù)參照線A上的最 小相關(guān)量Sa與參照線B上的最小相關(guān)量Sb之間的差大小，利用步驟S305A