"，但是圖像傳感器中的像素與通過攝影獲得的圖像的像素是對 應(yīng)關(guān)系，因此在以下描述中將對應(yīng)于缺陷像素的圖像中的像素稱為"缺陷像素"。另外，缺陷 像素可以被稱作校正目標(biāo)像素。
[0033] 接下來，將描述本實(shí)施例中缺陷像素校正操作的概要。這里如圖2中的2a部分中 所示出，假定R像素是缺陷像素。首先，當(dāng)獲取了 2a部分示出的圖像時，從通過缺陷像素的 線（關(guān)注線）提取包括將要成為校正目標(biāo)的缺陷像素并表示此線的特征的多個像素，并生 成由提取的像素構(gòu)成的2b部分所示的特征像素序列。這里示出了關(guān)注線為水平線、提取與 缺陷像素位于相同水平坐標(biāo)上且與缺陷像素顏色相同的像素從而生成特征像素序列的示 例。請注意，盡管這里給出了提取缺陷像素及位于關(guān)注線上的缺陷像素的前面和后面且與 缺陷像素顏色相同的兩個像素來作為特征像素的示例的描述，但是提取特征像素的方法并 不限于此。
[0034]接下來，從與關(guān)注線平行的另一條線（參照線）上存在的像素中提取表示此線的 特征的多個像素，并生成由提取的像素構(gòu)成的2c部分所示的特征像素序列。這里，示出了 在關(guān)注線上方兩個像素處設(shè)置參照線、從參照線上的像素中提取與缺陷像素顏色相同的像 素以生成特征像素序列的示例。由于如稍后描述的那樣計(jì)算相關(guān)量，因此從參照線提取的 特征像素的數(shù)量比從關(guān)注線提取的特征像素的數(shù)量更大。
[0035] 請注意，在本實(shí)施例中，將參照線設(shè)置為使與缺陷像素顏色相同的像素存在于線 上。因此，在諸如由拜耳陣列中的R像素和B像素等兩個像素構(gòu)成重復(fù)單位的情況下，將參 照線設(shè)置為使其與關(guān)注線的距離是重復(fù)單位的倍數(shù)（2n[像素]，其中n是等于或大于1的 整數(shù)）。
[0036] 2d部分中示出了從關(guān)注線和參照線生成的特征像素序列的各像素值以及從特征 像素序列的像素值生成的波形的例子。在這樣從關(guān)注線和參照線上的特征像素序列生成兩 個波形后，針對多個相對位置（偏移量）獲得相關(guān)量，從而獲得兩個波形間的相關(guān)性最高的 偏移量和方向。
[0037]例如，如2e部分所示，假定由于關(guān)注線上的特征像素序列的波形偏移+2 (S卩，在向 右方向上兩個像素），其與參照線上的特征像素序列的波形的相關(guān)性變?yōu)樽罡?。由于特征?素序列由拜耳陣列中相同顏色的像素所構(gòu)成，因此偏移量（+2)X2與原始像素陣列中像素 坐標(biāo)的差異相對應(yīng)。因此，如2f?部分所示，發(fā)現(xiàn)參照線上與缺陷像素最相關(guān)的像素位于水 平坐標(biāo)上距缺陷像素+4的位置處（即，在向右方向上距缺陷像素4個像素）。
[0038] 因此，例如，在最簡單的方法中，可以通過將與缺陷像素最相關(guān)的像素的值用作缺 陷像素的值來校正缺陷像素。
[0039] 接下來，將通過圖3中示出的流程圖來描述如何利用圖1A中示出的攝像裝置100 實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例的上述缺陷像素校正。
[0040] 首先，在步驟S301中，CPU103獲得作為處理目標(biāo)的圖像數(shù)據(jù)。這里，圖像數(shù)據(jù)可 以通過攝影而獲得，或可以通過讀出存儲介質(zhì)106中記錄的圖像數(shù)據(jù)而獲得?；蛘?，可以經(jīng) 由通信裝置109從外部設(shè)備獲得。請注意，這里獲得的圖像數(shù)據(jù)處于缺陷像素還未被校正 的狀態(tài)，例如是RAW圖像數(shù)據(jù)。
[0041]CPU103在例如一次存儲設(shè)備104中加載獲得的圖像數(shù)據(jù)。然后CPU103掃描圖 像數(shù)據(jù)的各像素，同時針對根據(jù)步驟S302中的確定是缺陷像素的關(guān)注像素應(yīng)用步驟S302 至S307中的處理。請注意，盡管在步驟S302中確定圖像數(shù)據(jù)的各關(guān)注像素是否為圖3的示 例中的缺陷像素，但可以使用缺陷像素的位置信息對缺陷像素依次執(zhí)行步驟S303至S307 中的處理。
[0042] 例如，缺陷像素的信息可以是在制造攝像裝置100時存儲在二次存儲設(shè)備105中 的缺陷像素信息。另外，例如，可以從諸如在啟動攝像裝置1〇〇時等特定條件下拍攝的圖像 中檢測出圖像傳感器102中的缺陷像素，其位置信息可以存儲在二次存儲設(shè)備105中。此 時，可以利用通過隨后的檢測處理所獲得的缺陷像素信息而更新制造時存儲的信息?？梢?將缺陷像素信息記錄為圖像數(shù)據(jù)的附加信息。
[0043]現(xiàn)在將描述針對根據(jù)上述確定是缺陷像素的像素所執(zhí)行的步驟S303及隨后的步 驟中的處理。在步驟S303中，CPU103生成關(guān)注線上的特征像素序列（第一像素序列）。 例如，如利用圖2中的2b部分所描述的，此步驟可以是用于提取與缺陷像素存在于相同水 平坐標(biāo)上的與缺陷像素具有相同顏色的像素并生成特征像素序列的處理。請注意，如其他 實(shí)施例中所描述的，可以使用其他方法執(zhí)行特征像素的提取。
[0044] 接下來，在步驟S304中，CPU103生成參照線上的特征像素序列（第二像素序 列）。這里同樣地，如利用圖2中2c部分所描述，此步驟可以是例如用于提取位于被設(shè)置為 關(guān)注線上方兩個像素的參照線上的與缺陷像素具有相同顏色的像素并生成特征像素序列 的處理。
[0045] 在步驟S305中，為了確定適合缺陷像素校正所參照的像素值，在改變從關(guān)注線和 參照線生成的特征像素序列的相對位置的同時，CPU103檢測相關(guān)性最大的偏移量。
[0046] 以下將利用圖4來描述步驟S305中相關(guān)量計(jì)算處理的具體示例。
[0047] 在該實(shí)施例中，在關(guān)注線上的特征像素序列和與關(guān)注線上的特征像素序列具有相 同數(shù)量的像素的參照線上的特征像素序列的部分（參照線中的區(qū)域）之間計(jì)算相關(guān)量。每 當(dāng)序列間的偏移量改變，則利用參照線上的特征像素序列的不同區(qū)域計(jì)算針對該偏移量的 相關(guān)量。因此，參照線上的特征像素序列可以被視為包括多個像素區(qū)域。
[0048] 圖4示意性示出了在相對于關(guān)注線上的特征像素序列而將參照線上的特征像素 序列偏移X個像素（X是整數(shù)，其為正時表示向右的方向、其為負(fù)時表示向左的方向）時計(jì) 算相關(guān)量的示例。CPU103合計(jì)各偏移量（相對的位置）中通過各箭頭所連接的像素值之 間的異。例如，假定被計(jì)算相關(guān)性的像素的數(shù)量是2W+1(W是正整數(shù)），關(guān)注線上的特征像素 序列的指數(shù)i(參見圖4)處的像素值是Ti，以及參照線上的特征像素序列的指數(shù)i處的像 素值是Ri。此時，通過以下等式計(jì)算偏移量X時的相關(guān)量Sx。
[0049]
[0050] 換言之，相關(guān)量Sx越小代表相關(guān)性越高。請注意，在目前所述的方法中，從關(guān)注線 提取包括缺陷像素的特征像素以生成特征像素序列。為此，缺陷像素的值（T0)不可以用于 計(jì)算相關(guān)值。因此，例如僅當(dāng)i= 〇時獲得將要加到等式（1)中的相關(guān)量為〇的相關(guān)量Sx。
[0051] 可以從針對預(yù)定范圍內(nèi)的多個偏移量而計(jì)算出的相關(guān)值Sx中獲得最小相關(guān)值Sx 的偏移量X中確定用于校正缺陷像素的參照像素的位置。例如，如果在偏移量X= +2時相 關(guān)量Sx是最小值，則確定與缺陷像素具有相同顏色的像素中位于缺陷像素向右兩個像素 位置處的像素（即，位于參照線上從缺陷像素向右四個像素位置處）是參照像素。
[0052] 圖5A是示出步驟S305中相關(guān)量計(jì)算處理的具體示例的流程圖。首先，在步驟 S1701中，CPU103利用用作開始系數(shù)的-W替代X，此后，在步驟S1702中，初始化最小相關(guān) 量Smin及最小相關(guān)量時的偏移量Xmin。此后，CPU103執(zhí)行步驟S1703至S1706中的處 理，同時在步驟S1705中遞增X。
[0053] 在步驟S1703中，CPU103確定在這個時間點(diǎn)計(jì)算出的相關(guān)量Sx是否小于最小相 關(guān)量Smin,如果Sx<Smin則處理進(jìn)入到步驟S1704,而如果Sx彡Smin則處理進(jìn)入到步驟 S1705。請注意，當(dāng)是第一次計(jì)算相關(guān)量Sx時（這里是X= -W的情況下），CPU103推進(jìn)處 理進(jìn)入步驟S1704。
[0054] 在步驟S1704中，CPU103利用當(dāng)前的相關(guān)量Sx更新最小相關(guān)量Smin。同樣利用 X的當(dāng)前值更新對應(yīng)于最小相關(guān)量Smin的偏移量Wmin。然后，在步驟S1705中，CPU103遞 增X，而在步驟S1706中，CPU103確定是否已對全部偏移范圍執(zhí)行了處理。如果已對全部 偏移范圍執(zhí)行了處理則CPU103結(jié)束處理，而如果還存在未經(jīng)過處理的數(shù)據(jù)則將處理返回 到步驟S1703。利用上述處理，可以獲得偏移范圍內(nèi)的最小相關(guān)量Smin以及可以用來獲得 最小相關(guān)量的偏移量Wmin。
[0055] 請注意，圖5A中示出的用于相關(guān)量計(jì)算處理的方法僅是示例，可以使用任何可以 獲得相似結(jié)果的其他方法。例如，不是必須從最小值而遞增偏移量X，可以以任何順序改變 值，只要可以計(jì)算出對應(yīng)于各偏移量的相關(guān)值即可。另外，可以存儲對應(yīng)于各偏移量的所有 相關(guān)值，并且可以最后選擇對應(yīng)于最小相關(guān)值的偏移量。
[0056] 在這樣基于特征像素序列的相關(guān)量而確定參照像素的位置后，CPU103在步驟 S306中計(jì)算相關(guān)量。在最簡單的情況下，校正值可以是參照像素的值，但可以使用其他方法 計(jì)算校正值。例如，可以使用從參照像素的值及參照像素的周邊像素的值中計(jì)算出的諸如 顏色差等特征量來校正缺陷像素。
[0057] 在步驟S306中計(jì)算出校正值后，在步驟S307中，CPU103使用校正值校正缺陷像 素。此后，在步驟S308中，CPU103確定是否已完成像素掃描，并重復(fù)執(zhí)行