一種評(píng)估pci模三干擾的方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及移動(dòng)通信領(lǐng)域，尤其設(shè)及一種評(píng)估PCI (化ysical Cell Identifier, 物理小區(qū)標(biāo)識(shí)）模=干擾的方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[000引 PCI (Physical Cell Identifier,物理小區(qū)標(biāo)識(shí)）是 LTE (Long Term Evolution, 長期演進(jìn)）系統(tǒng)中終端區(qū)分不同小區(qū)的標(biāo)識(shí)。PCI的具體組成如下；PCI = sss序列碼 *3+PSS序列碼，其中SSS(Secondary Sync虹onized Si即al，輔同步信號(hào)）序列碼有168 個(gè)，取值為0-167，PSS(Primary Sync虹onized Si即al，主同步信號(hào)）序列碼有3個(gè)，取值 為0-2,所W 168個(gè)SSS序列碼與3個(gè)PSS序列碼可W組合出504個(gè)不同的PCI。
[0003] 在同頻組網(wǎng)的情形下，如果兩個(gè)相鄰小區(qū)的PCI模3值相等，即兩個(gè)相鄰小區(qū)的 PSS相同，就說明該兩個(gè)小區(qū)RS巧eference Signal，參考信號(hào)）的位置相同，該兩個(gè)小區(qū)的 參考信號(hào)需要在相同的時(shí)域資源與相同的頻域資源上發(fā)送，那么該兩個(gè)相鄰小區(qū)就會(huì)產(chǎn)生 PCI模S干擾，最終會(huì)因?yàn)镽S的位置相同導(dǎo)致SINR(Si即al to Inte;rference plus Noise Ratio,信號(hào)與干擾加噪聲比，簡稱信噪比）變差，進(jìn)而影響信道估計(jì)和信號(hào)解調(diào)的準(zhǔn)確性。
[0004] 現(xiàn)有技術(shù)在組網(wǎng)初期，都會(huì)盡量減小相鄰小區(qū)的PCI模S干擾。但是由于PCI模 =后的值只有0-2 =個(gè)值，所W很難完全避免相鄰小區(qū)的PCI模=干擾。
[0005] 在對PCI模=干擾的研究過程中，現(xiàn)有技術(shù)中主要從理論上分析PCI模=干擾的 產(chǎn)生原理、對LTE網(wǎng)絡(luò)性能的影響、PCI規(guī)劃原則、W及模S干擾場景下的PCI優(yōu)化方法，并 沒有提供對已經(jīng)存在的PCI模=干擾進(jìn)行量化評(píng)估的方法，該樣不便于根據(jù)不同PCI模= 干擾程度分別進(jìn)行優(yōu)化。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 本發(fā)明的實(shí)施例提供一種評(píng)估PCI模=干擾的方法及裝置，用W實(shí)現(xiàn)對PCI模= 干擾的量化評(píng)估，W便于根據(jù)不同PCI模=干擾程度分別優(yōu)化。
[0007] 為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案：
[000引第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種評(píng)估PCI模=干擾的方法，包括：
[0009] 獲取服務(wù)小區(qū)多個(gè)采樣點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)；每一采樣點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)包括每一相鄰小區(qū) 的PCI和參考信號(hào)接收功率RSRP ;
[0010] 從所述每一采樣點(diǎn)的可選小區(qū)中將PCI模S值與所述服務(wù)小區(qū)PCI模S值相等的 小區(qū)確定為所述每一采樣點(diǎn)的模=干擾小區(qū)；所述可選小區(qū)為采樣點(diǎn)的相鄰小區(qū)中RSRP 從大到小排列的前N個(gè)RSRP對應(yīng)的相鄰小區(qū)；所述N為預(yù)設(shè)正整數(shù)；
[0011] 根據(jù)所述服務(wù)小區(qū)的RSRP與所述每一采樣點(diǎn)的所述模=干擾小區(qū)的RSRP確定所 述每一采樣點(diǎn)的模=干擾電平；
[0012] 根據(jù)所述每一采樣點(diǎn)的所述模=干擾電平與參考電平口限確定所述每一采樣點(diǎn) 的模=干擾等級(jí)；所述參考電平口限將實(shí)數(shù)集劃分為至少兩個(gè)區(qū)間；每一所述區(qū)間對應(yīng)一 個(gè)模=干擾等級(jí)；
[0013] 確定相同模S干擾等級(jí)的采樣點(diǎn)的個(gè)數(shù)與總采樣點(diǎn)個(gè)數(shù)的比值；
[0014] 根據(jù)所述比值獲取所述服務(wù)小區(qū)的模=干擾量化值。
[0015] 第二方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種處理器，包括：獲取單元和處理單元；
[0016] 所述獲取單元，用于獲取服務(wù)小區(qū)多個(gè)采樣點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)；每一采樣點(diǎn)的采樣數(shù) 據(jù)包括每一相鄰小區(qū)的PCI和參考信號(hào)接收功率RSRP ;
[0017] 所述處理單元，用于從所述每一采樣點(diǎn)的可選小區(qū)中將PCI模=值與所述服務(wù)小 區(qū)PCI模=值相等的小區(qū)確定為所述每一采樣點(diǎn)的模=干擾小區(qū)；所述可選小區(qū)為采樣點(diǎn) 的相鄰小區(qū)中RSRP從大到小排列的前N個(gè)RSRP對應(yīng)的相鄰小區(qū)；所述N為預(yù)設(shè)正整數(shù)； [001引所述處理單元，還用于根據(jù)所述服務(wù)小區(qū)的RSRP與所述每一采樣點(diǎn)的所述模= 干擾小區(qū)的RSRP確定所述每一采樣點(diǎn)的模=干擾電平；
[0019] 所述處理單元，還用于根據(jù)所述每一采樣點(diǎn)的所述模=干擾電平與參考電平口限 確定所述每一采樣點(diǎn)的模=干擾等級(jí)；所述參考電平口限將實(shí)數(shù)集劃分為至少兩個(gè)區(qū)間； 每一所述區(qū)間對應(yīng)一個(gè)模=干擾等級(jí)；
[0020] 所述處理單元，還用于確定相同模S干擾等級(jí)的采樣點(diǎn)的個(gè)數(shù)與總采樣點(diǎn)個(gè)數(shù)的 比值；
[0021] 所述處理單元，還用于根據(jù)所述比值獲取所述服務(wù)小區(qū)的模=干擾量化值。
[0022] 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種評(píng)估PCI模=干擾的方法及裝置，該方法包括；獲取服 務(wù)小區(qū)多個(gè)采樣點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)；每一采樣點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)包括每一相鄰小區(qū)的PCI及RSRP ; 從每一采樣點(diǎn)的可選小區(qū)中將PCI模=值與服務(wù)小區(qū)PCI模=值相等的小區(qū)確定為每一采 樣點(diǎn)的模=干擾小區(qū)；可選小區(qū)為采樣點(diǎn)的相鄰小區(qū)中RSRP從大到小排列的前N個(gè)RSRP 對應(yīng)的相鄰小區(qū)；根據(jù)服務(wù)小區(qū)的RSRP與每一采樣點(diǎn)的模=干擾小區(qū)的RSRP確定每一采 樣點(diǎn)的模=干擾電平；根據(jù)每一采樣點(diǎn)的模=干擾電平與參考電平口限確定每一采樣點(diǎn)的 模=干擾等級(jí)；確定相同模=干擾等級(jí)的采樣點(diǎn)的個(gè)數(shù)與總采樣點(diǎn)個(gè)數(shù)的比值；根據(jù)比值 獲取服務(wù)小區(qū)的模=干擾量化值。該樣，通過綜合考慮采樣點(diǎn)的相鄰小區(qū)的RSRP及存在 PCI模=干擾的小區(qū)個(gè)數(shù)得到量化后該采樣點(diǎn)的PCI模=干擾等級(jí)，并根據(jù)每等級(jí)中采樣 點(diǎn)的比值獲得服務(wù)小區(qū)的模=干擾量化值，最終能夠通過服務(wù)小區(qū)的模=干擾量化值量化 相鄰小區(qū)對服務(wù)小區(qū)的PCI模=干擾，便于根據(jù)不同PCI模=干擾程度分別采用不同的優(yōu) 化措施。
【附圖說明】
[0023] 為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中 所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí) 施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可W根據(jù)該些附圖 獲得其他的附圖。
[0024] 圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種評(píng)估PCI模=干擾的方法的流程示意圖；
[0025] 圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種評(píng)估PCI模S干擾的方法的流程示意圖；
[0026] 圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種PCI模S干擾程度的示意圖；
[0027] 圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種處理器的功能示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[002引下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完 整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于 本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他 實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0029] 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種評(píng)估物理小區(qū)標(biāo)識(shí)PCI模=干擾的方法，如圖1所示，包 括：
[0030] 101、獲取服務(wù)小區(qū)多個(gè)采樣點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)。
[0031] 其中，每一采樣點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)包括每一相鄰小區(qū)的PCI和每一相鄰小區(qū)的 RSRP巧eference Si即al Receiving化wer，參考信號(hào)接收功率）。