驟S108顯示上述頻域數(shù)據(jù)之后，上述方法還包括：根據(jù)3GPP 36. 521測試協(xié) 議的門限值，確認(rèn)顯示結(jié)果是否合格。
[0038] 在上述流程結(jié)束后，該方法還包括：接收來自終端的下一個無線幀中上行子幀的 上行信號，并執(zhí)行后續(xù)終端占用帶寬測量分析過程。
[0039] 通過本實施例描述的技術(shù)方案，不僅解決了射頻、中頻分析帶寬不足的問題，同時 也解決了傳統(tǒng)的掃描方式測量速度較慢的問題。
[0040] 在步驟S102接收被測試終端的上行信號之前，上述方法還包括一些前期準(zhǔn)備流 程，具體包括：與上述終端建立RMC參考測量信道，配置下行功率以使上述終端注冊，進(jìn)入 回環(huán)測試模式；控制上述終端發(fā)送5載波上行PUSCH信道信號，作為上行信號在上行子幀上 發(fā)送；控制終端的上行功率調(diào)整至最大；置采樣時鐘頻率為122. 88Mb/s ;配置射頻中心頻 率的頻率間隔為采樣時鐘頻率的1/2。
[0041] 實施例二，一種TD_LTE_Advanced終端占用帶寬測量分析方法，應(yīng)用于TD_LTE_ Advanced終端測試裝置，該方法的具體實施方案如下：
[0042] 1)在TD_LTE_Advanced終端測試裝置與TD_LTE_Advanced終端之間建立RMC參 考測量信道，配置TD_LTE_AdVanced終端測試裝置下行功率，使終端注冊，進(jìn)入回環(huán)測試模 式，完成測試前的準(zhǔn)備工作。
[0043] 2)控制被測TD_LTE_Advanced終端發(fā)送5載波上行PUSCH信道信號在上行子幀上 發(fā)送。
[0044] 3)控制被測TD_LTE_Advanced終端TPC向上調(diào)整，使上行功率調(diào)整到最大。
[0045] 4)配置TD_LTE_Advanced終端測試裝置的中頻的采樣時鐘頻率Fs為122. 88Mb/ s，用于A/D的數(shù)據(jù)采樣。
[0046] 5) TD_LTE_Advanced終端測試裝置配置射頻中心頻率RK Fl、F2、F3,其中心頻率 的頻率間隔為采樣時鐘頻率的1/2,即Fs/2,這樣做的目的在于在有限射頻通道帶寬和有 限中頻分析帶寬的情況下，提高信號分析帶寬，以滿足5載波最大上行寬IOOMHz的占用帶 寬測試要求。
[0047] 6) TD_LTE_Advanced終端的上行信號通過空口進(jìn)入TD_LTE_Advanced終端測試裝 置的四路接收通道，每一路經(jīng)過兩級混頻生成模擬中頻信號進(jìn)入模數(shù)控制單元。
[0048] 7)FPGA內(nèi)部通過幀同步與終端的上行信號進(jìn)行同步，并通模數(shù)控制單元對上行 子幀的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，采集長度為lms，模數(shù)控制單元對每個碼元時間內(nèi)采樣點為n，其中 n ^ 2 〇
[0049] 8)在FPGA內(nèi)部對所有碼元的采樣點進(jìn)行長度為n*122. 88Mb/s*lms的復(fù)數(shù)快速傅 里葉變換，輸出FFT后的數(shù)據(jù)長度為m。每個點功率值為：
[0050] P = Pm+Prf ；
[0051] 其中，P為每個碼元采樣點的功率值，Pm為FFT變換后的功率值，Prf為整個射頻 通道的通道增益的功率值。
[0052] 9)對FFT變換后的數(shù)據(jù)進(jìn)行RMS檢波，輸出長度為1024的功率點，并存儲RMS檢 波后的功率，其計算公式為：
[0053]
【主權(quán)項】
1. 一種終端占用帶寬測量分析方法，其特征在于，所述方法包括： 接收被測試終端的上行信號，將該上行信號經(jīng)過兩級混頻處理生成模擬中頻信號； 將所述模擬中頻信號進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，生成數(shù)字中頻信號； 對所述數(shù)字中頻信號進(jìn)行同步、傅里葉變換、均方根RMS檢波處理，得到功率數(shù)據(jù)； 將所述功率數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合，生成頻域數(shù)據(jù)，并顯示所述頻域數(shù)據(jù)。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，接收被測試終端的上行信號之前，所述方法 還包括： 與所述終端建立RMC參考測量信道，配置下行功率以使所述終端注冊，進(jìn)入回環(huán)測試 模式； 控制所述終端發(fā)送5載波上行物理上行共享信道PUSCH信號，作為上行信號在上行子 幀上發(fā)送； 控制終端的上彳丁功率調(diào)整至最大； 配置采樣時鐘頻率為122. 88Mb/s ; 配置射頻中心頻率的頻率間隔為采樣時鐘頻率的1/2。
3. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，接收終端的上行信號包括： 設(shè)置四路接收通道，用于接收終端的上行信號。
4. 如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，將所述功率數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合，生成頻域數(shù)據(jù)， 包括： 將四路所述功率數(shù)據(jù)，按照頻率從低到高的順序進(jìn)行擬合，生成頻域數(shù)據(jù)。
5. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，顯示所述頻域數(shù)據(jù)，包括： 根據(jù)顯示需求及像素點配置，將所述頻域數(shù)據(jù)顯示在對應(yīng)位置。
6. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，顯示所述頻域數(shù)據(jù)之后，所述方法還包括： 根據(jù)3GPP 36. 521測試協(xié)議的門限值，確認(rèn)顯示結(jié)果是否合格。
7. 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，顯示所述頻域數(shù)據(jù)之后，所述方法還包括： 接收來自終端的下一個無線幀中上行子幀的上行信號，并執(zhí)行后續(xù)終端占用帶寬測量 分析過程。
8. -種終端占用帶寬測量分析裝置，其特征在于，所述裝置包括：第一混頻單元、第二 混頻單元、第一本振單元、第二本振單元、模數(shù)控制單元、現(xiàn)場可編程門陣列FPGA、多路數(shù)據(jù) 合并單元、跡線顯示/測量結(jié)果輸出單元；其中， 所述第一混頻單元，其輸入端與第一本振單元的輸出端相連，其輸出端與第二混頻單 元的輸入端相連，用于接收被測試終端的上行信號，將該上行信號進(jìn)行第一級混頻處理，然 后發(fā)送至第二混頻單元； 所述第二混頻單元，其輸入端與第一混頻單元的輸出端、第二本振單元的輸出端相連， 其輸出端與模數(shù)控制單元的輸入端相連，用于對所述上行信號進(jìn)行第二級混頻處理，生成 模擬中頻信號，然后發(fā)送至模數(shù)控制單元； 所述模數(shù)控制單元，其輸入端與第二混頻單元的輸出端相連，其輸出端與所述FPGA 的輸入端相連，用于將所述模擬中頻信號進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，生成數(shù)字中頻信號，然后發(fā)送至 FPGA ； 所述FPGA，其輸入端與所述模數(shù)控制單元的輸出端相連，其輸出端與所述多路數(shù)據(jù)合 并單元的輸入端相連，用于對所述數(shù)字中頻信號進(jìn)行同步、傅里葉變換、均方根RMS檢波處 理，得到功率數(shù)據(jù)，然后發(fā)送至多路數(shù)據(jù)合并單元； 所述多路數(shù)據(jù)合并單元，其輸入端與所述FPGA的輸出端相連，其輸出端與所述跡線顯 示/測量結(jié)果輸出單元的輸入端相連，用于將所述功率數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合，生成頻域數(shù)據(jù)，然后 發(fā)送至跡線顯示/測量結(jié)果輸出單元； 所述跡線顯示/測量結(jié)果輸出單元，其輸入端與所述多路數(shù)據(jù)合并單元相連，用于顯 示所述頻域數(shù)據(jù)。
9. 如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述裝置具有四路相同構(gòu)造的接收通道，其 中，所述第一混頻單元、所述第二混頻單元、所述第一本振單元、所述第二本振單元、所述模 數(shù)控制單元、所述FPGA構(gòu)成一路接收通道；四路接收通道的FPGA的輸出端均與所述多路數(shù) 據(jù)合并單元的輸入端相連。
10. 如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括： 前期配置模塊，用于在接收被測試終端的上行信號之前，與所述終端建立RMC參考測 量信道，配置下行功率以使所述終端注冊，進(jìn)入回環(huán)測試模式；控制所述終端發(fā)送5載波上 行物理上行共享信道PUSCH信道信號，作為上行信號在上行子幀上發(fā)送；控制終端的上行 功率調(diào)整至最大；配置采樣時鐘頻率為122. 88Mb/s ;配置射頻中心頻率的頻率間隔為采樣 時鐘頻率的1/2。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種終端占用帶寬測量分析方法與裝置。其中，本發(fā)明對于聚合載波的寬帶TD_LTE_Advanced終端上行信號占用帶寬的測量，通過把寬帶調(diào)制信號用不同頻點的本振信號進(jìn)行混頻，然后進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，再進(jìn)行FFT及FFT后數(shù)據(jù)合并，最后擬合頻譜輸出，不僅解決了射頻、中頻分析帶寬不足的問題，同時也解決了傳統(tǒng)的掃描方式測量速度較慢的問題。
【IPC分類】H04B17-30
【公開號】CN104579517
【申請?zhí)枴緾N201410835502
【發(fā)明人】王志, 凌云志, 徐波, 邵玉成
【申請人】中國電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2014年12月29日