專利名稱：交換系統(tǒng)的通用測試接口的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般地涉及電信測試設(shè)備及系統(tǒng)，更具體地說涉及一種用于在測試設(shè)備與不同類型中心局交換系統(tǒng)進行通信的接口。
在全球性電信集合體中，本地中心局用于通過其連接部分之間的用戶線路提供通話路徑。除了提供輸入干線與用戶線之間的路由互連，許多較復(fù)雜的中心局交換系統(tǒng)用于允許對用戶進行測試以確認(rèn)這種線路的完整性。因為用戶線通常是雙絞導(dǎo)線，可對其測試來確定開路、短路、特征感抗、阻抗和容抗，以及在一定程度上確定接在該用戶線上的電話機及其它設(shè)備的特性。
中心局交換系統(tǒng)對用戶線的測試能力通常包括允許外部金屬線能出入用戶線路的“編號測試干線”(NTT)。在這些類型的交換系統(tǒng)中，遠距離測試設(shè)備例如可從Texas、Bedford的RelianceComm/Tech公司獲得的T-9/SX測試器可用來存取NTT以執(zhí)行多種復(fù)雜測試之一，確定用戶線路的特性或狀態(tài)。遠距離測試設(shè)備通常通過識別具體待測試用戶線路的NTT與交換系統(tǒng)的CPU進行通信。而在遠距測試器具有直接通向用戶線路入口的金屬線時，交換系統(tǒng)則通過其線路設(shè)備將用戶線路連接到測試干線。因此，在用戶線路已被連接到測試干線后，測試設(shè)備獨立于交換系統(tǒng)運行，在用戶回路上執(zhí)行各種測試。
還存在其它不太復(fù)雜的適用于實現(xiàn)對用戶呼叫的中心局交換系統(tǒng)，但既不設(shè)有測試設(shè)備，也沒有與之結(jié)合的基本測試設(shè)備。這種類型的中心局交換系統(tǒng)往往包括內(nèi)部測試器和連接-終端以讓操作者在各種用戶線路上進行基本測試的端口。操作者通過該終端與交換系統(tǒng)通信以請求測試入口以及識別待測試的具體用戶線路。然后由交換系統(tǒng)將特定用戶線連接到金屬測試總線，于是內(nèi)部測試器能受控于操作者，執(zhí)行所希望的測試。這種類型的交換系統(tǒng)可包括多至100或更多測試總線，它們可轉(zhuǎn)換地連接到該測試器以便對一個或多個用戶線執(zhí)行測試。該裝置非常慢，是因為該系統(tǒng)總體上由操作者手動操作來控制。而且，不能執(zhí)行復(fù)雜測試以及自動、高速的測試序列。
由上所述可見有必要有可提供對目前尚無這種能力的那些類型的交換系統(tǒng)提供對用戶線路的復(fù)雜的測試能力的方法和設(shè)備。另一存在的需求是對用于提供復(fù)雜測試設(shè)備和僅有基本測試能力的那種類型交換系統(tǒng)之間的通信接口的需求。還有對幾乎無需交換系統(tǒng)修改便能提供完全測試能力的測試系統(tǒng)接口的需求。另外還有對允許一個或多個復(fù)雜測試系統(tǒng)可為不同類型中心局交換系統(tǒng)操作的可編程通用接口的需求。
按照本發(fā)明的原理和概念，公開了一種允許將復(fù)雜電信測試設(shè)備連接到具有不適配測試能力的其它電信系統(tǒng)的通用接口。按照本發(fā)明的最佳實施例，程序控制的測試接口插在主測試設(shè)備與待測交換系統(tǒng)的測試端口之間。測試接口是為將來自主測試設(shè)備的存取和測試命令交換為與該交換系統(tǒng)的通信端口所使用的相一致的其它命令或協(xié)議而受到控制的處理器。交換系統(tǒng)可略加修改，以便將交換的存取矩陣插在基本測試器和交換系統(tǒng)測試總線之間。該測試接口或?qū)χ鳒y試器或?qū)粨Q系統(tǒng)是透明的，但允許轉(zhuǎn)換測試命令并送到交換系統(tǒng)，以將所要求的用戶回路接通到測試總線，此后，主測試器具有通過交換存取矩陣的通道。因此可在主測試器和連接到該測試總線的中心局用戶線之間執(zhí)行各種復(fù)雜測試。
按照本發(fā)明的另一特征，可利用多個測試接口和交換存取矩陣，并由為協(xié)調(diào)多個主測試器和執(zhí)行各種用戶線的同時測試的請求而編程的主CPU所控制。按照本發(fā)明另一特點，主CPU被編程以通過相應(yīng)不同號數(shù)的測試協(xié)議與大量不同類型的中心局交換系統(tǒng)進行通信。一旦識別出連接測試接口的中心局交換的特定類型，該主CPU便選擇其中已編程的適當(dāng)協(xié)議，與用這種協(xié)議的CO交換機通信。
通過以下對如附圖所示的本發(fā)明最佳實施例的更具體說明，可對本發(fā)明其它特點和優(yōu)點有進一步了解，附圖中，相同標(biāo)號通常表示所有視圖中相同的部件或元件，附圖中

圖1是可優(yōu)先實施本發(fā)明的電信組合體的框圖;
圖2是按照本發(fā)明連接在主測試器和待測試交換系統(tǒng)之間的測試接口的更詳細(xì)方框圖;
圖3是為該測試接口所利用的交換矩陣的一般性原理圖;
圖4a和4b構(gòu)成說明該測試接口編程操作的流程圖;
圖5是具有同時測試中心局若干測試線能力的一個最佳實施例的框圖。
圖1中，示出多個中心局交換系統(tǒng)16、20和22通過干線10彼此連接，以及通過用戶線路14連接到各自用戶電話機12。示出中心交換系統(tǒng)16帶有多個測試干線(NTT)18，而交換系統(tǒng)20和22是這樣一種類型的，即，其系統(tǒng)內(nèi)設(shè)有若干基本測試設(shè)備。交換系統(tǒng)20和22是本發(fā)明主要可用類型。同時示出主測試器24受控于操作者終端26。盡管示出主測試器24在多個中心局交換系統(tǒng)間共享，但不同的主測試器可與交換系統(tǒng)中每一個相關(guān)聯(lián)。遠距或現(xiàn)場操作員可利用終端26控制主測試器24以便通過NTT18出入交換系統(tǒng)16。交換系統(tǒng)16的CPU是利用一個可連接在各自電話機用戶線與主測試器24之間的數(shù)碼測試干線18的較復(fù)雜類型，以使主測試器可執(zhí)行對用戶線的測試。
為給中心局交換系統(tǒng)20和22提供高級測試能力，可使用本發(fā)明的測試接口30。該測試接口30連接在主測試器24和交換系統(tǒng)例如中心局交換機20之間，以使操作者能控制終端26以通過接口30及中心局交換機20對用戶線路14執(zhí)行高級測試。主測試器24不作改動，對中心局交換機20也不作本質(zhì)上修改以便通過測試接口30提供其間的通信。然而，對測試接口30進行程序控制以便識別來自主測試器24的存取和測試命令，將其全部以雙向方式轉(zhuǎn)換為可被中心局交換機20識別的信號或命令，便得測試接口30對主測試器24和中心局交換機20都顯得是透明的。按照本發(fā)明的實際使用，將本地的基本測試終端(未示出)從中心局交換機20的端口斷開，而將測試接口30的輸出連接到該端口。因此，盡管中心局交換機20以其普通方式工作與其基本終端通信，實際上卻是與測試接口30通信。測試接口30的結(jié)構(gòu)和操作細(xì)節(jié)將在下文作更全面地說明。
就測試接口30的簡明操作而言，希望測試中心局交換機20的用戶線14的操作員將存取和測試命令輸入到終端26。然后主測試器24通過DTMF信號將存取命令發(fā)送到測試接口30。DTMF存取命令由測試接口30翻譯為RS232或V24命令或其它信號或命令，并將其發(fā)送到中心局交換機20。中心局交換機20應(yīng)答對接通用戶回路測試的請求，該應(yīng)答由測試接口30接收及轉(zhuǎn)換，并與主測試器24通信。然后操作員輸入待測試具體用戶回路的標(biāo)記，例如電話薄號碼，然后主測試器24通過DTMF信號將其發(fā)送至測試接口30。在該命令被轉(zhuǎn)換及耦合到中心局交換機20時，該交換機再次產(chǎn)生一個應(yīng)答，并在用戶回路空閑時將用戶回路14連接到測試總線。對具體測試總線的連接被通到測試接口30，然后將金屬測試總線從主測試器24互連到中心局交換機20的測試總線。以這種方式，主測試器24可利用金屬線對或總線直接在用戶線14上執(zhí)行各種測試。盡管本文中將本發(fā)明的測試接口30描述為通過DTMF信號與主測試器24，和通過V24信號與中心局交換機20進行通信但視所涉及測試器和中心局交換機的具體類型而定，可使用不同類型的信號和協(xié)議。
現(xiàn)已說明了本發(fā)明測試組合體的基本結(jié)構(gòu)，現(xiàn)參考更詳細(xì)示出與測試接口30連結(jié)的圖2。按照本發(fā)明，很適用于可從Texas，Bedford的RelianceComm/Tech公司得到的型號為T-9/SXRTS的主測試器24。應(yīng)該理解，本發(fā)明的范圍并不局限于這種類型的主測試器，而是可以被許多類型的電信測試設(shè)備所使用。圖示的主測試器24有一個用于和操作員終端26通信的調(diào)制解調(diào)器32?；ミB線34可以是撥號線，在此操作員26可簡單地?fù)軇右粋€或多個主測試器24的號碼。所示中心局交換系統(tǒng)20是具有基本內(nèi)部測試器36和一個或多個測試總線38的那種類型。在不使用本發(fā)明情況下，內(nèi)部測試器36用導(dǎo)線連接以便有選擇地連接到內(nèi)部測試總線38。然而，在使用本發(fā)明測試接口30時，內(nèi)部測試器36是與內(nèi)部測試總線38斷開并連接到測試接口30的。以同樣方式，所有測試總線38同樣被連接到測試接口30。此外，可應(yīng)用本發(fā)明的那種類型的中心局交換系統(tǒng)包括可手動操作控制內(nèi)部測試器36的那種類型的本地終端40。本地終端40可與中心局交換系統(tǒng)20的V24端口44連接并通信。在使用本發(fā)明的測試接口30時，本地終端40有一個被斷開的連接器42，而交換系統(tǒng)20的V24端口44通過連接器化的電纜66連接到測試接口30。
測試接口30包括處理器控制的轉(zhuǎn)換器50用于在主測試器24和中心局交換機20之間進行通信。轉(zhuǎn)換器50包括CPU52和足夠的隨機存取存儲器和閃頻EPROM以存儲數(shù)據(jù)和執(zhí)行其中的編程軟件。CPU52耦合到DTMF接收器54以接收擴展到主測試器54的總線56上的DTMF存取和測試命令。繼電器式交換信令電路58通過總線60給主測試器24提供應(yīng)答和其它信號。在主測試器24和測試接口30之間提供一公共接地線62。本領(lǐng)域?qū)I(yè)人員會發(fā)現(xiàn)省去信令電路58和在主測試器24和該測試接口之間提供雙向DTMF通信更為有利。V24發(fā)送接收端口64受CPU52控制以借助于V24協(xié)議接收和發(fā)送信號到中心局交換系統(tǒng)20。V24總線66有一端連接器68用于插入交換系統(tǒng)20的V24端口，以取代本地終端40。以這種方式，中心局交換機20好象在與本地終端40通信，其實正在與測試接口轉(zhuǎn)換器50進行通信。測試接口30還設(shè)有撥號端口65用于提供與帶有EWSDTLF存取端口的那種類型中心局交換系統(tǒng)的雙向通信。在這種類型交換系統(tǒng)中，由V24電路64將存取和其它命令發(fā)送到EWSDV24端口，而實際測試建立請求則由撥號端口65發(fā)送到交換系統(tǒng)的EWSDTLF端口。下面將更詳細(xì)地說明與EWSD型交換系統(tǒng)的雙向通信。
DTMF發(fā)送及音頻接收電路70受控于CPU52，用于和交換存取矩陣72進行通信。這樣，轉(zhuǎn)換器50可控制矩陣72以便當(dāng)空閑狀態(tài)時通過該矩陣將CO內(nèi)部測試器36的終端74連接到測試總線38。在測試接口30工作時，可控制矩陣72選擇測試總線38之一以連接到隔離器80。金屬輸入線對82和金屬輸出線對84被連接在隔離器80和交換存取矩陣72之間。隔離器80包含繼電器86和常閉觸點88用以將測試器輸入線對92或者連接到金屬輸出線對84或者連接到金屬輸入線對82，直到交換存取矩陣72。如從圖2可見，擴展到主測試器24的輸入線對92通常連接到金屬輸出線對84。主測試器24可借助控制線94控制隔離器。80中的繼電器86以操作繼電器86以及開路觸點88。在觸點88開路時，交換系統(tǒng)20的內(nèi)部測試器36可從被測試用戶線上斷開。在某些情形下，本領(lǐng)域技術(shù)人員會發(fā)現(xiàn)隔離器的功能或可被取消或可被結(jié)合到交換存取矩陣72中。然而，對只有一根測試總線的那些類型的交換系統(tǒng)，也可省去交換存取矩陣72，這樣，測試器輸入線對92將連接到測試總線38。
現(xiàn)參考圖3，該圖更詳細(xì)地示出了交換存取矩陣72。如上所述，CO交換系統(tǒng)20的改進包括去除內(nèi)部測試器36到測試總線38的其插入或?qū)Ь€的連接;將內(nèi)部測試器36的總線74連接到交換存取矩陣72。以同樣方式，將交換存取矩陣的輸出連接到中心局交換系統(tǒng)20的多個金屬測試總線38。在圖3中，內(nèi)部測試器總線74通過繼電器常閉觸點100返回連接到CO金屬測試總線38。以這種方式，在測試接口30不工作時，CO內(nèi)部測試器36通過交換機矩陣72連接返回到CO測試總線38。矩陣輸入總線82和輸出總線84通過以常開狀態(tài)示出的繼電器開關(guān)102的矩陣連接到內(nèi)部測試器總線74和CO金屬測試總線38。每根總線82和84包含一對可連接到任何一對金屬測試總線38或任何一對總線74的導(dǎo)線。而且，在常閉觸點100開路時，總線82或84中任一個可或者連接到CO內(nèi)部測試器導(dǎo)線74或連到CO測試總線對38。這樣可為將輸入對82或輸出對84與內(nèi)部測試器36的導(dǎo)線74或金屬測試總線對38進行的互連提供極大靈活性。
交換矩陣72中的程序控制處理器104控制DTMF接收器和音頻發(fā)送器電路106。信令電路106經(jīng)由導(dǎo)線108耦合到轉(zhuǎn)換器50中的信令電路70，從而在其間進行通信。在本發(fā)明的最佳形式中，轉(zhuǎn)換器50借助于DTMF音頻與交換存取矩陣72通信，而交換矩陣72通過1KHz音頻的脈沖串與轉(zhuǎn)換器50通信。本領(lǐng)域技術(shù)人員會發(fā)現(xiàn)其它類型的發(fā)信形式也可用于轉(zhuǎn)換器50與交換存取矩陣72之間。的確，交換存取矩陣72可安裝在轉(zhuǎn)換器中并由轉(zhuǎn)換器CPU52控制。交換矩陣72的處理器104連接到繼電器110的一排以控制該矩陣各個繼電器觸點100和102。單元72是型號為T200-SAM，可從TexasBedford的RelianceComm/Tec公司處得到的常規(guī)產(chǎn)品。
現(xiàn)參考圖4a和4b，圖中描繪了由測試接口30執(zhí)行的用于在主測試器24和CO交換系統(tǒng)20之間提供通信和測試建立能力(setupcapabi-lities)的程序運行的流程圖。實際上，主CPU控制多個轉(zhuǎn)換器50，其細(xì)節(jié)將在下文加以更全面地說明。在其空閑狀態(tài)，測試接口30，具體為CPU52監(jiān)視DTMF接收器54以確定主測試器24是否已發(fā)送任何報文或命令而指出在CO交換系統(tǒng)20上進行測試的請求。在方框120中示出了這些程序的流程操作。在主測試器24在總線56上發(fā)出DTMF測試存取命令以替代交換系統(tǒng)20的測試時，DTMF接收器54對信號譯碼并將相應(yīng)的數(shù)字報文提供給CPU52(程序流程方框122)。由主測試器24發(fā)送的DTMF測試存取命令可以是，例如，起始字符，一個或多個定義待測試類型的字符，例如線測試，待測試的具體線路，例如電話薄號碼，以及命令字符的終止。當(dāng)然，也可使用許多其他類型的格式以便將測試命令從主測試器24發(fā)送到測試接口30。
為響應(yīng)未進行測試的請求，測試接口30的CPU52通過使繼電開關(guān)式信令電路58將EC導(dǎo)線60a接地，從而產(chǎn)生應(yīng)答的指示來給主測試器24提供一個應(yīng)答。在圖4a的方框124中示出了這些程序流程的操作。
如程序流方框126所指出，測試接口30的CPU52將從主測試器24接收到的測試存取命令進行轉(zhuǎn)換以確定請求什么動作。如果存取命令需要對CO交換系統(tǒng)20中的設(shè)備進行測試，則CPU52使測試接口30存取CO交換機20。根據(jù)CO局交換機的類型，可要求不同的測試存取信號。例如可為有些類型CO交換機識別的喚醒信號的中心局存取命令可以其常駐的格式或協(xié)議發(fā)送到中心局交換機20。在許多情形下，中心局交換系統(tǒng)的端口44接收V24或RS232型的命令指令。
為響應(yīng)喚醒信號，中心局交換系統(tǒng)20可通過線路66給測試接口30發(fā)回一個應(yīng)答。如程序流方框128所指出，轉(zhuǎn)換器CPU52通過V24發(fā)送接收電路64接收該應(yīng)答。
關(guān)于程序流方框130，CO交換系統(tǒng)20一旦有已準(zhǔn)備好接收其命令輸入的應(yīng)答，轉(zhuǎn)換器CPU52便使測試接口30將一個存取命令發(fā)送給交換系統(tǒng)20，如程序流方框130所指示。因為測試接口30已從主測試器24接收到一個命令去進行對交換系統(tǒng)用戶回路的測試，則測試接口30給交換系統(tǒng)20發(fā)送一個相應(yīng)存取命令。
按照方框132，CO交換系統(tǒng)20接收發(fā)送的存取命令，并將對存取命令的應(yīng)答返回給測試接口30。此外，根據(jù)被測試交換系統(tǒng)20的具體類型，這種系統(tǒng)可將涉及日期時間、中斷連接數(shù)據(jù)等的信息返回給測試接口30。測試接口30和交換系統(tǒng)20之間的通信協(xié)議還可包括傳統(tǒng)的異步的起始通信字符和終止字符。
在程序流方框134中，示出測試接口30通過發(fā)送待測試用戶回路14的標(biāo)識進行與中心局交換系統(tǒng)20的進一步通信。測試接口30簡單地發(fā)送電話號碼數(shù)字給中心局交換系統(tǒng)20，指出待測試的具體用戶回路。接著，中心局交換系統(tǒng)20存取待測試用戶線14，并確定其狀態(tài)。一般地說，用戶線狀態(tài)可以是“OK”，指出該線路可用于測試;或可以是“忙碌”(busy)，指出該線路正在被使用而不能進行測試。進一步，用戶線14可以處在中心局設(shè)備忙碌且該時刻不能注意到存取命令或者該線路已被其它設(shè)備測試的“擁塞”狀態(tài)。最后，用戶線的狀態(tài)可以是這條用戶線根本不存在、或被程序鎖住因此不能為進行測試而存取的“截接”(intercept)狀態(tài)。
作為線路狀態(tài)的確定結(jié)果，中心局交換系統(tǒng)20將待測線路狀態(tài)以及其它信息發(fā)送給測試接口30。這些發(fā)送給測試接口30的其它信息可以是特定的測試總線38或?qū)⒃跍y試特定用戶回路14中使用和連接的系統(tǒng)20的垂直號。在測試用戶回路14時需要或有用的其它信息可同時由交換系統(tǒng)20發(fā)送到測試接口30。由程序流方框136示出接收到線路66上的該信息。
盡管沒有在流程圖中示出，但已被EWSD型交換系統(tǒng)所涉及，測試接口30還使撥號端口65發(fā)送DTMF信號到TLF存取電路，以請求一個測試建立、應(yīng)答一個記入(log-on)以及發(fā)送待測試用戶線的電話號碼數(shù)字。作為響應(yīng)，測試接口撥號端口65將接收各種回答和電話號碼連接狀態(tài)。這種信號交換有效地使被連接到測試總線38的用戶線路對應(yīng)于在程序流方框136中交換系統(tǒng)所報告的垂直號。如果交換系統(tǒng)20的TLF存取電路報告該線路的測試狀態(tài)正常(OK)，那么，CPU52使撥號端口65每隔120秒至少一次地給TLF存取電路發(fā)送一DTMF“C”音頻以保持用戶線路與所選的測試總線38之間的連接有效。如果測試狀態(tài)為“忙碌”或“截接”狀態(tài)，則發(fā)送DTMF音頻以執(zhí)行斷接，并使測試接口30返回到監(jiān)視或不工作狀態(tài)。
再說由標(biāo)號138示出的程序流方框，測試接口CPU52按照由其從中心局交換系統(tǒng)20接收的用戶回路狀態(tài)進行下去。如果交換系統(tǒng)20確定待測線路處于忙碌，則由測試接口30將用戶回路忙碌狀態(tài)的事務(wù)指示發(fā)送給主測試器24。這示出在程序流方框140中。測試接口CPU52從程序框140進行程序框142，在那里由主測試器24拒絕對交換系統(tǒng)20的測試存取，而測試接口30進而發(fā)送斷接指令，應(yīng)答接收以及主測試器24和中心局交換系統(tǒng)20之間的最終斷接。然后CPU52返回其正常的監(jiān)視和/或處理狀態(tài)。
如果測試接口30已從交換系統(tǒng)20接收到指示用戶回路14的擁塞或截接狀態(tài)的線路狀態(tài)信息，則CPU52進到各自的方框144或146，對相應(yīng)線路狀態(tài)進行轉(zhuǎn)換并發(fā)送到主測試器24。結(jié)果，由于這些線路狀態(tài)指示的結(jié)果，CPU52進到程序方框142，將測試接口30從主測試器24和中心局交換系統(tǒng)20斷開。
由測試接口30將忙碌、擁塞或截接的線路狀態(tài)發(fā)信號給主測試器24是通過繼電開關(guān)式信令電路58實現(xiàn)的。發(fā)送忙碌狀態(tài)時，CPU52使電路58中的繼電器以每分鐘60個脈沖速率發(fā)給EC線路。擁塞狀態(tài)是通過以每分鐘120個脈沖速率發(fā)出信號的。最后，用戶回路的截接狀態(tài)是通過以每分鐘30個脈沖速率發(fā)送脈沖給EC線路來發(fā)出的。
關(guān)于待測試用戶回路的正常(OK)狀態(tài)，測試接口CPU52使DTMF發(fā)送器70發(fā)送連接命令到交換存取矩陣72。該命令是在線路108(圖3)上傳送的DTMF信號，以建立金屬測試總線38中合適的一個與隔離器80之間的繼電器連接。在本發(fā)明的最佳形式中，使測試接口30的DTMF發(fā)送器70發(fā)送具體測試總線垂直的千位/百位數(shù)字所對應(yīng)的DTMF音頻。交換存取矩陣72的CPU104對電路106中的DTMF音頻譯碼，使繼電器110中的一個或多個工作，從而閉合一組觸點102并將輸出總線84、或橋接輸入線82和輸出總線84連接到由中心局交換系統(tǒng)20指出的特定測試總線38以便再連接到待測用戶回路。進一步，CPU104可使繼電觸點100開路以使金屬測試總線38連接到出局總線84，以及將交換系統(tǒng)20的內(nèi)部測試器36(圖1)從測試總線38斷開。通過轉(zhuǎn)換繼電器觸點100和102的各種組合可獲得極大靈活性。
在已接收千位/或百位繼電器連接后，交換存取矩陣72的CPU104使音頻發(fā)送電路106將應(yīng)答信號發(fā)給轉(zhuǎn)換器50。在本發(fā)明的最佳形式中，是使音頻發(fā)送器106發(fā)送50ms的1KHz頻率的音頻，指示接收到千位/或百位繼電連接。該信號一旦為音頻接收電路70所接收，轉(zhuǎn)換器CPU50接收該譯碼應(yīng)答，然后使DTMF發(fā)送器70發(fā)送十位/個位數(shù)字連接信息到交換存取矩陣72。該十位/個位數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)完成了對將金屬測試總線38的具體導(dǎo)線連接到輸出測試總線84所必需的信息。DTMF接收器106對十位/個位數(shù)字信息譯碼以被CPU104所用。千位/百位和十位/個位繼電器的最后譯碼和操作使適當(dāng)觸點102閉合，從而將所要求的金屬測試總線對38連接到輸出測試對84。最后，交換存取矩陣CPU104使音頻發(fā)送器106發(fā)送一個200ms的音頻，指示十位/個位數(shù)字信息的應(yīng)答以及已經(jīng)建立測試器24與金屬測試總線38之間的連接。如上所述在轉(zhuǎn)換器50和交換存取矩陣72之間發(fā)送的命令在圖4b的程序編碼方框148和150中指出。
在線對82和/或84以及適當(dāng)?shù)慕饘贉y試總線38之間已建立的矩陣72中的轉(zhuǎn)換連接之后，轉(zhuǎn)換器CPU52使繼電器開關(guān)式信令電路58發(fā)信號給主測試器24，告知由電話號碼所標(biāo)識的線路已準(zhǔn)備好待測試。在本發(fā)明的最佳形式中，在繼電轉(zhuǎn)換電路58中的發(fā)信是通過觸點開路從而去除EC信號線接地連接來實現(xiàn)的。這些程序操作在流程圖的方框152中示出。雖然圖中未示出，但在測試連接建立期間，如在中心局交換系統(tǒng)20或在測試接口30中出錯，則可通過給接地與開路接線之間的EC導(dǎo)線通以脈沖，而將一個斷接或復(fù)位信號發(fā)送給主測試器24。本領(lǐng)域技術(shù)人員很容易理解，主測試器24和測試接口30之間的發(fā)信號以及測試接口20與交換存取矩陣72之間的發(fā)信號可通過DTMF或其他類型的信號以雙向完成。
這樣主測試器24就有通過+LT和-LT線對92可進行用戶線路14的實際測試所要的全部信息。如上所述，在隔離器80無須橋式連接時，主測試器24可在TST輸出線94形成一個接地，從而操作隔離器80中的繼電器RY1以及開路觸點88。這樣主測試器24可在總線92上發(fā)送測試信號和接收測試結(jié)果并決定待測用戶回路的多個電參數(shù)。此外，可在CO交換機20的電路上進行撥號音調(diào)，電池和其它測試。在測試期間，測試接口30通常保持空閑，但監(jiān)視DTMF接收器54以接收來自主測試器24的任何斷接信號。這已示在程序流方框154中。在接收到來自主測試器24的斷接信號時，如程序流框圖156所示，DTMF接收器54對其譯碼，并將斷接信息送至轉(zhuǎn)換器CPU52。因此，CPU52使信令電路58中的繼電器觸點閉合，從而將EC導(dǎo)線接地，并指示斷接信號的應(yīng)答。這示出在程序流方框156中。為響應(yīng)斷接命令，轉(zhuǎn)換器CPU52使V24發(fā)送器64通過總線66給交換系統(tǒng)20發(fā)送喚醒信號。這示于程序流方框158中。CPU52監(jiān)視V24接收器64，并在一旦收到應(yīng)答(程序流方框160)，CPU52即將存取請求命令發(fā)送到交換系統(tǒng)20，正如進一步在程序流方框162所示。交換系統(tǒng)20通過在總線66上發(fā)送適當(dāng)信號對存取請求命令作出應(yīng)答，并為轉(zhuǎn)換器50接收，如程序流方框164所示。接著，如方框166所示，轉(zhuǎn)換器CPU52發(fā)送一個斷接命令到交換系統(tǒng)20。而交換系統(tǒng)20再發(fā)送該斷接命令的狀態(tài)，指示時間，測試期間涉及的測試總線垂直角以及包括全部狀態(tài)的其它信息。這示出在程序流方框168中。最后，轉(zhuǎn)換器CPU52使V24發(fā)送器64發(fā)送待斷接線路的電話號碼，如程序流程框170所示。作為響應(yīng)交換系統(tǒng)20將命令狀態(tài)和完成斷接的指示送回到測試接口30，該信息被V24接收電路64所接收。這示于程序流程框172中。結(jié)果，在測試接口30和交換系統(tǒng)20之間已達到完全斷接。
在測試EWSD型交換系統(tǒng)時，轉(zhuǎn)換器CPU52使撥號端口65發(fā)送一個掛機命令以釋放TLF存取電路。
如程序流程框174所示，轉(zhuǎn)換器CPU52使DTMF發(fā)送器70給交換存取矩陣72發(fā)送命令信號以釋放繼電器和從金屬輸出總線84和(或)總線82斷開交換系統(tǒng)金屬測試總線38。指示這種傳輸?shù)能浖噶钍境鲈诔绦蛄鞒炭?74中。
按照程序流程框176的指令，轉(zhuǎn)換器CPU52使繼電器信令電路58開路EC線路，指示完全斷接。這樣，主測試器24從測試接口30完全被斷接。然后，轉(zhuǎn)換器CPU52返回到對其地輸入的監(jiān)控，以對后繼測試請求或其它動作作好準(zhǔn)備。
盡管圖4a和4b的流程以一般方式說明了T9/SXRTS型主測試器與本發(fā)明的測試接口30之間以及在測試接口30和E10B型交換系統(tǒng)之間的通信，但該測試接口可為許多其它類型的主測試器和交換系統(tǒng)，包括上述EWSD型交換系統(tǒng)所利用。為配合測試接口30能與不同類型主測試器或不同類型交換系統(tǒng)20進行通信，轉(zhuǎn)換器CPU25只需要為識別命令、應(yīng)答等，來自其外部設(shè)備的信號類型，對它們進行轉(zhuǎn)換以便與所連接的其它類型設(shè)備通信而編程。此外，某些類型的設(shè)備操作可能必需特別信令，它們也可能需要專用的信令電路。這樣本領(lǐng)域技術(shù)人員就很容易系納測試接口30供各種不同類型設(shè)備使用。
按照本發(fā)明另一個最佳實施例，主CPU可為多個測試轉(zhuǎn)換器50所使用以執(zhí)行交換系統(tǒng)20中不同用戶回路的同時測試。這示于圖5中，一個增強型測試接口200包括多個轉(zhuǎn)換器50，每個轉(zhuǎn)換器有一個由公共總線202連接到主CPU204的CPU52。每個轉(zhuǎn)換器50由各自的V24總線連接到中心局交換系統(tǒng)20中的相應(yīng)端口。與每個轉(zhuǎn)換器50相關(guān)聯(lián)的是主測試器24和相關(guān)的交換存取矩陣72。轉(zhuǎn)換器50利用雙向DTMF總線203與各個主測試器24通信。此外，每個轉(zhuǎn)換器50與交換存取矩陣72通信，而交換存取矩陣以上述圖2方式連接到主測試器。以這種布局，交換系統(tǒng)20的金屬測試總線38被連接到該體系(hierarchy)中的第一交換存取矩陣72，內(nèi)部測試器36的總線74被連接到該體系中最后的交換存取矩陣72。如果有其它中間交換存取矩陣的輸入和輸出總線則彼此被互連，以使每個主測試器24可有選擇地連接到不同的金屬總線對38，從而提供到相應(yīng)待測試用戶線對14的單獨連接。如果所有測試器24未工作，則內(nèi)部測試器36通過各個交換矩陣72連接到金屬測試總線38。盡管在圖5中示出多個交換矩陣72，但也可用單個矩陣提供測試器24和不同測試總線38之間同時的獨立連接。
在本發(fā)明的這個實施例中，每個轉(zhuǎn)換器50相對于其它的操作是自動進行的。然而，該實施例的每個轉(zhuǎn)換器CPU52僅僅是從主測試器24、或待測試交換系統(tǒng)20的轉(zhuǎn)換命令、應(yīng)答等到主CPU204的一個通信器。主CPU204在決策能力方面被編程從而以結(jié)合圖2的上述方式截接和繼電式存取和測試命令，但是經(jīng)過轉(zhuǎn)換器CPU52這樣做的。每個轉(zhuǎn)換器CPU52中斷主CPU204以便通過總線202將轉(zhuǎn)換存取、測試和應(yīng)答傳給該主CPU204。換言之，來自主測試器24或交換系統(tǒng)20的所有消息和命令由各自轉(zhuǎn)換器50進行轉(zhuǎn)換，并與主CPU204通信。利用該布局，不同主測試器24的異步測試命令可以被增強接口200接收，轉(zhuǎn)換并通過V24總線傳送給交換系統(tǒng)20。而交換系統(tǒng)20又將不同用戶線14互連到不同金屬測試總線38。指定給特定用戶線14的具體測試總線將與增強接口200通信，以允許交換存取矩陣72產(chǎn)生指定測試總線38和相關(guān)主測試器24之間適當(dāng)連接。因為不同金屬測試總線被交換系統(tǒng)20指配給不同的待測用戶線路。每個主測試器24可同時在各自用戶線上執(zhí)行測試。
按照本發(fā)明的重要特性，主CPU204維持指定為交換系統(tǒng)20使用的各個測試總線38的金屬對的狀態(tài)表。主CPU204作出到不同交換存取矩陣72的相應(yīng)指定以利用不同金屬對。因此，通過將各種金屬測試對的分配和使用保持在主CPU204中，交換矩陣72被如此操作和控制使得兩個主測試器24不能同時連接到同一金屬測試線對上。利用同時測試用戶線14和交換系統(tǒng)20其它設(shè)備的能力，不僅可在給定時間周期內(nèi)測試較多線路，而且依據(jù)主測試器24的完善還可進行較復(fù)雜測試。
主CPU204還編有根據(jù)增強接口200所連接的交換系統(tǒng)具體類型可選的多個程序。由于每一個交換系統(tǒng)制造商可能有不同的測試存取指令的協(xié)議或用之操作的命令，所以測試接口200必須是能與這些協(xié)議兼容操作的。這樣，在主CPU204中編程有不同的指令協(xié)議使得增強接口200可有選擇地與不同類型交換系統(tǒng)進行通信。對增強測試接口200借以操作的協(xié)議選擇可通過在安裝期間將一終端連接到接口200的技藝(craft)端口(未示出)以及從菜單選出與其內(nèi)安裝測試接口200的交換系統(tǒng)匹配的具體協(xié)議來完成。同時應(yīng)注意到，多協(xié)議軟件可在圖2的測試接口中進行編程，使之還可為許多不同類型或制作的交換系統(tǒng)所使用。
前面已對在主測試器和帶有待測設(shè)備的中心局之間提供通信的測試接口作了說明。該測試接口的操作對主測試器或中心局交換系統(tǒng)是透明的，從而顯著減少甚至消除了對每件設(shè)備所需的修改。本發(fā)明的測試接口因而可形成通往基本型交換系統(tǒng)金屬測試總線的通道，并提供僅由主測試器限制的復(fù)雜測試。盡管已詳細(xì)說明了本發(fā)明最佳和其它實施例，但應(yīng)理解可能作出并未脫離由所附權(quán)利要求書限定的本發(fā)明精神和范圍的各種改變、替換和變動。
權(quán)利要求
1.一種用于將測試器耦合到有測試總線型電信交換系統(tǒng)的測試接口，所述測試接口包括用于接收來自該測試器的測試命令的第一電路；耦合到所述第一電路用于將測試命令轉(zhuǎn)換為與交換系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)的其它命令的可編程處理器；用于接收轉(zhuǎn)換的測試命令以及用于將該轉(zhuǎn)換的測試命令發(fā)送到交換系統(tǒng)的第二電路，所述第二電路用于接收來自交換系統(tǒng)的信息，以及用于將識別的測試總線連接到測試器的連接器。
2.如權(quán)利要求1的測試接口，其特征在于還包括一個交換矩陣，所述連接器包含在所述交換矩陣中。
3.如權(quán)利要求2的測試接口，其特征在于，所述交換矩陣包括處理器，和用于與測試接口的可編程處理器進行通信的裝置。
4.如權(quán)利要求2的測試接口，其特征在于，所述交換矩陣包括至少一個可連接到測試器的輸入端口，和可連接到交換系統(tǒng)的相應(yīng)多個測試總線的多個輸出，所述交換矩陣將一個輸入端口連接到測試總線中選出的一個。
5.如權(quán)利要求4的測試接口，其特征在于，所述交換矩陣是為建立輸入端口與輸出端口之間的連接而受控的處理器。
6.如權(quán)利要求4的測試接口，其特征在于，還包括多個所述交換矩陣，其中每一個與多個所述測試器中不同的一個相關(guān)聯(lián)。
7.如權(quán)利要求1的測試接口，其特征在于，所述測試接口包括多個所述可編程處理器，各用于控制來自多個測試器之一的測試命令的轉(zhuǎn)換以及將已轉(zhuǎn)換的測試命令發(fā)送到交換系統(tǒng)，還包括耦合到每個所述編程處理器以協(xié)調(diào)每個測試器到識別為交換系統(tǒng)使用的測試總線的主CPU。
8.如權(quán)利要求7的測試接口，其特征在于，所述主CPU為導(dǎo)致使用測試總線時，以將不多于一個的測試器同時連接至同一測試總線而編程。
9.如權(quán)利要求7的測試接口，其特征在于還包括與每個所述測試器相關(guān)聯(lián)的交換矩陣。
10.如權(quán)利要求1的測試接口，其特征在于，所述第二電路包括用于將已轉(zhuǎn)換的測試命令發(fā)送到交換系統(tǒng)的V24端口的裝置。
11.如權(quán)利要求2的測試接口，其特征在于，所述交換矩陣包括連接到交換系統(tǒng)的內(nèi)部測試器的第一端口，以及連接到交換系統(tǒng)的多個金屬測試總線的第二端口。
12.一種用于將測試器耦合到有測試總線型的電信交換系統(tǒng)的測試接口，所述測試接口包括連接到測試器用于接收測試命令的第一通信端口;連接到交換系統(tǒng)的V24端口，用于向其發(fā)送測試命令的第二通信端口，耦合到所述第一和第二通信端口用于控制從測試器接收到并發(fā)送到交換系統(tǒng)的測試命令的可編程處理器，以及連接到交換系統(tǒng)多個金屬測試總線的交換矩陣，所述處理器協(xié)調(diào)一個所述金屬測試總線到測試器的連接器，從而所述測試器可為測試其設(shè)備而出入該交換系統(tǒng)。
13.如權(quán)利要求12的測試接口，其特征在于，所述測試接口連接到多個測試器，還包括一個所述第一和第二通信端口和與每個所述測試器關(guān)聯(lián)的可編程處理器。
14.如權(quán)利要求13的測試接口，其特征在于，還包括多個所述交換矩陣，所述交換矩陣中各不相同的一個連接到各自測試器。
15.如權(quán)利要求12的測試接口，其特征在于所述第一通信端口包含用于對從測試器接收到的DTMF測試命令進行譯碼的DTMF譯碼器。
16.如權(quán)利要求12的測試接口，其特征在于所述第二通信端口包含一個用于將V24測試命令發(fā)送到交換系統(tǒng)的V24端口的發(fā)送器。
17.如權(quán)利要求12的測試接口，其特征在于還包括耦合到每個所述編程處理器的主CPU，所述主CPU包括用于與不同類型交換系統(tǒng)進行通信的不同程序編程的存儲器。
18.如權(quán)利要求17的測試接口，其特征在于所述主CPU的每個程序?qū)Σ僮髋c所要求類型交換系統(tǒng)的測試接口是可選擇的。
19.如權(quán)利要求12的測試接口，其特征在于，所述交換矩陣適合于對2線或4線測試總線的連接。
20.如權(quán)利要求12的測試接口，其特征在于，所述交換矩陣包括用于將交換系統(tǒng)的內(nèi)部測試器連接到交換系統(tǒng)的測試總線以及用于將內(nèi)部測試器與測試總線斷開的開關(guān)。
21.一種用于將測試器耦合到有多根測試總線型的電信交換系統(tǒng)的測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包含用于在交換系統(tǒng)的用戶線上執(zhí)行電氣測試的測試器;測試接口，所述測試接口包括用于接收來自該測試器的測試命令以及用于給測試器發(fā)送應(yīng)答的DTMF電路;為將測試命令轉(zhuǎn)換為可與交換系統(tǒng)兼容的其它命令而編程的處理器;連接到交換系統(tǒng)用于將其它命令傳送到交換系統(tǒng)并從其中接收應(yīng)答的發(fā)送器/接收器電路;具有多個輸出的交換矩陣，每一個有選擇地可連接到交換系統(tǒng)的一根測試總線，且至少一個測試輸入可連接到測試器的一個測試輸出端，以及所述處理器被編程為的是與所述交換系統(tǒng)通信，獲得供交換系統(tǒng)使用所選的測試總線之一的標(biāo)識，從而使處理器在交換矩陣中形成連接以便將其測試輸入連接到所標(biāo)識的測試總線。
22.如權(quán)利要求21的測試系統(tǒng)，其特征在于所述處理器被編程，以控制交換矩陣將多個所述測試器連接到不同測試總線，以便在交換系統(tǒng)用戶線上執(zhí)行并行測試。
23.一種借助同時接合一個測試器測試交換系統(tǒng)的方法，該方法包含以下步驟將一接口連接到測試器以從中接收測試命令;將該接口的一個輸出連接到該交換系統(tǒng)的一個通信端口;從測試器接收測試命令并將測試命令發(fā)送到交換系統(tǒng)的通信端口;從交換系統(tǒng)的通信端口接收測試總線標(biāo)識數(shù)據(jù);以及在對應(yīng)于標(biāo)識數(shù)據(jù)的交換系統(tǒng)的一測試總線和測試器的一測試線之間形成連接，從而使測試器具有通往交換系統(tǒng)該測試總線的測試通路。
24.如權(quán)利要求23的方法，其特征在于還包括從交換系統(tǒng)的通信端口去掉一測試終端，并將其連接到接口的輸出端。
25.如權(quán)利要求23的方法，其特征在于，所述連接是由交換矩陣建立的，該方法還包括將交換系統(tǒng)的內(nèi)部測試器從交換系統(tǒng)的測試總線上斷開，并將交換矩陣連接到內(nèi)部測試器和連接到測試總線。
26.如權(quán)利要求23的方法，其特征在于還包括將從測試器接收的測試命令轉(zhuǎn)換成其它測試命令以將其發(fā)送到交換系統(tǒng)的通信端口。
27.如權(quán)利要求26的方法，其特征在于還包括將DTMF測試命令轉(zhuǎn)換為V24測試命令。
28.如權(quán)利要求23的方法，其特征在于還包括在測試器和交換系統(tǒng)之間如此提供通信以使該接口對測試器和交換系統(tǒng)是透明的。
29.如權(quán)利要求23的方法，其特征在于還包括接口至交換系統(tǒng)的改型(retrofitting)。
30.如權(quán)利要求23的方法，其特征在于還包括將多個測試器連接到交換系統(tǒng)的多個測試總線。
全文摘要
一種用于在主測試器和電信交換系統(tǒng)之間進行通信以建立其間的測試準(zhǔn)備的測試接口。該測試接口的運行既對主測試器透明又對交換系統(tǒng)透明，該測試接口包括一個變換器和一個用于將交換系統(tǒng)所需測試總線連接到主測試器的交換矩陣。
文檔編號H04M3/30GK1111865SQ94113678
公開日1995年11月15日 申請日期1994年11月10日 優(yōu)先權(quán)日1993年11月16日
發(fā)明者R·L·雷諾茲, C·A·巴爾特諾普, J·C·米勒, M·D·科克斯 申請人:信任通訊-科技公司