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RRU測試方法、裝置及存儲介質(zhì)與流程

文檔序號:40388225發(fā)布日期:2024-12-20 12:11閱讀:9來源:國知局
RRU測試方法、裝置及存儲介質(zhì)與流程

本申請涉及通信測試,尤其涉及一種rru測試方法、裝置及存儲介質(zhì)。


背景技術(shù):

1、分布式基站架構(gòu)由射頻拉遠單元(radio?remote?unit,簡稱rru)和基帶單元(base?unit,簡稱bbu)組成,二者通過光纖連接。rru的上行傳輸時,經(jīng)空口接收用戶設(shè)備(user?equipment,簡稱ue)的時域數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換為頻域數(shù)據(jù)后,通過光纖傳至bbu;下行傳輸時,接收bbu的頻域數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為時域數(shù)據(jù)后經(jīng)空口發(fā)給ue。

2、在rru測試方面存在一些問題:rru和bbu耦合性強,故障定位不易;批量測試占用大量設(shè)備(如bbu、信號源、頻譜儀等),成本高昂;不同廠家設(shè)備聯(lián)試時,因協(xié)議和技術(shù)參數(shù)差異易失??;rru作為bbu與ue的連接樞紐,缺乏有效內(nèi)部故障定位手段,難以判別故障來源。


技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本申請?zhí)峁┮环Nrru測試方法、裝置及存儲介質(zhì),旨在解決如何提高rru測試效率、降低成本、精準(zhǔn)定位故障中的至少一個問題。

2、第一方面,本申請?zhí)峁┮环Nrru測試方法,應(yīng)用于多個rru,所述多個rru包括多個集成rru和至少一個待測rru,所述多個集成rru包括選擇其集成的bbu功能的第一集成rru和選擇其集成的ue功能的第二集成rru,所述方法包括:

3、接收測試控制端發(fā)送的測試指令;

4、所述集成rru內(nèi)部對所述測試指令進行解析操作,并根據(jù)解析結(jié)果,從所述集成rru所集成的bbu功能、ue功能以及自身rru功能這三者之中選擇相應(yīng)的功能;

5、將在所述集成rru中選擇相應(yīng)功能后經(jīng)選擇器輸出的數(shù)據(jù)流導(dǎo)向所述待測rru,以對所述待測rru執(zhí)行測試操作。

6、第二方面,本申請還提供一種rru測試裝置,所述裝置包括多個rru,所述多個rru包含多個集成rru和至少一個待測rru,所述多個集成rru包括選擇其集成的bbu功能的第一集成rru和選擇其集成的ue功能的第二集成rru,其中:

7、所述集成rru,用于接收測試控制端發(fā)送的測試指令;對所述測試指令進行解析操作,并根據(jù)解析結(jié)果,從所述集成rru所集成的bbu功能、ue功能以及自身rru功能這三者之中選擇相應(yīng)的功能;將在所述集成rru中選擇相應(yīng)功能后經(jīng)選擇器輸出的數(shù)據(jù)流導(dǎo)向所述待測rru,以對所述待測rru執(zhí)行測試操作。

8、第三方面,本申請還提供一種處理器可讀存儲介質(zhì),所述處理器可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機程序,所述計算機程序用于使所述處理器執(zhí)行如第一方面所述的rru測試方法。

9、本申請?zhí)峁┑膔ru測試方法、裝置及存儲介質(zhì),該方法通過在rru中新增bbu功能和ue功能,且利用軟件配置實現(xiàn)bbu、rru、ue的功能切換,無需額外新增硬件成本。測試過程中也無需像傳統(tǒng)測試那樣增加信號源、頻譜儀、bbu、ue等測試儀器。集成rru具有較高的集成度,內(nèi)部集成了ue和bbu的部分軟件功能。這種方式具有的優(yōu)點:一方面,僅需一臺測試電腦,大大減少了儀器的使用,從而極大地降低了測試驗證成本;另一方面,能夠全面驗證上下行鏈路,由于功能集成度高且可靈活切換,在測試時可以精準(zhǔn)地定位功能模塊內(nèi)部的故障點,有效提高了rru測試的效率和準(zhǔn)確性。



技術(shù)特征:

1.一種rru測試方法,其特征在于,應(yīng)用于多個rru,所述多個rru包括多個集成rru和至少一個待測rru,所述多個集成rru包括選擇其集成的bbu功能的第一集成rru和選擇其集成的ue功能的第二集成rru,所述方法包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的rru測試方法,其特征在于,對所述待測rru執(zhí)行測試操作中的下行鏈路測試操作包括:

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的rru測試方法,其特征在于,對所述待測rru執(zhí)行測試操作中的下行鏈路測試操作還包括:

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的rru測試方法,其特征在于,所述待測rru的下行鏈路各節(jié)點包括前傳接口、下行低物理層以及下行數(shù)字前端,對所述待測rru執(zhí)行測試操作中的下行鏈路測試操作還包括:

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的rru測試方法,其特征在于,對所述待測rru執(zhí)行測試操作中的上行鏈路測試操作包括:

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的rru測試方法,其特征在于,所述待測rru的上行鏈路各節(jié)點包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器、上行數(shù)字前端、上行低物理層、隨機接入節(jié)點以及前傳接口,對所述待測rru執(zhí)行測試操作中的上行鏈路測試操作還包括:

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的rru測試方法,其特征在于,對所述待測rru執(zhí)行測試操作中的上下行鏈路測試操作包括:

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的rru測試方法,其特征在于,對所述待測rru執(zhí)行測試操作中的上下行鏈路測試操作包括:

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的rru測試方法,其特征在于,對所述待測rru執(zhí)行測試操作中的上下行鏈路測試操作還包括:

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的rru測試方法,其特征在于,對所述待測rru執(zhí)行測試操作中的上下行鏈路測試操作包括:

11.一種rru測試裝置,其特征在于,所述裝置包括多個rru,所述多個rru包含多個集成rru和至少一個待測rru,所述多個集成rru包括選擇其集成的bbu功能的第一集成rru和選擇其集成的ue功能的第二集成rru,其中:

12.一種處理器可讀存儲介質(zhì),其特征在于,所述處理器可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機程序,所述計算機程序用于使所述處理器執(zhí)行如權(quán)利要求1-10任一項所述的rru測試方法。


技術(shù)總結(jié)
本申請?zhí)峁┮环NRRU測試方法、裝置及存儲介質(zhì),屬于通信測試技術(shù)領(lǐng)域,所述方法包括:應(yīng)用于多個RRU,所述多個RRU包括多個集成RRU和至少一個待測RRU,所述多個集成RRU包括選擇其集成的BBU功能的第一集成RRU和選擇其集成的UE功能的第二集成RRU,所述方法包括:接收測試控制端發(fā)送的測試指令;集成RRU內(nèi)部對測試指令進行解析操作,并根據(jù)解析結(jié)果,從集成RRU所集成的BBU功能、UE功能以及自身RRU功能這三者之中選擇相應(yīng)的功能;將在集成RRU中選擇相應(yīng)功能后經(jīng)選擇器輸出的數(shù)據(jù)流導(dǎo)向待測RRU,以對待測RRU執(zhí)行測試操作。本申請通過在RRU中集成BBU和UE功能,實現(xiàn)功能切換,降低測試成本和復(fù)雜性,同時提高測試效率和故障定位的準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員:費智勝,顧亮,陳雷
受保護的技術(shù)使用者:智慧塵埃(成都)科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/12/19
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