本發(fā)明裝置涉及通信領(lǐng)域中的基站設(shè)備，特別涉及一種用于rru的整機測試、老化方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

目前現(xiàn)有的lte(longtermevolution，長期演進)系統(tǒng)多采用的是分布式結(jié)構(gòu)，分布式結(jié)構(gòu)是指基站的bbu(basebandunit，基站處理單元)和rru(remoteradiounit，射頻拉遠單元)各自作為單獨的模塊，并通過光纖進行遠距離的拉遠相連。這種架構(gòu)系統(tǒng)容量大，集成度高，組網(wǎng)靈活，已廣泛使用于多種覆蓋場景中，同時由于其可靠性高，功耗小，設(shè)備成本低的優(yōu)點，在一定程度上簡化組網(wǎng)架構(gòu)，降低了網(wǎng)絡(luò)維護成本。

由于采用光纖進行拉遠，基站處理單元bbu和射頻拉遠單元rru分離，增加了基站測試的難度。因此，如何在資源利用率較高的情況下有效的對bbu和rru功能測試，是當前急需解決問題之一。其中，rru的功能主要是實現(xiàn)cpri協(xié)議，數(shù)字中頻處理，射頻收發(fā)機，以及功放等。在實際中，為了保證系統(tǒng)的穩(wěn)定性，需要對rru進行上下行的射頻鏈路指標測試。

從rru測試的內(nèi)容來看，射頻指標測試主要包括下行發(fā)射鏈路指標試和上行接收鏈路指標。下行信號指標包括發(fā)射功率、evm、鄰信道功率泄漏比、雜散等。上行鏈路信號指標則包括接收機動態(tài)范圍、參考靈敏度、阻塞、互調(diào)及雜散等測試的接收誤碼率。對rru的老化測試則是在高低溫的環(huán)境下，測試從高溫到低溫的環(huán)境循環(huán)變化中，rru整個上下行鏈路功能，射頻指標是否滿足要求。

現(xiàn)有技術(shù)中通常采用專用的設(shè)備例如模擬bbu或測試板卡來實現(xiàn)一定的rru數(shù)據(jù)采集及基帶信號發(fā)射，來測試rru的上、下行物理通道是否正常。對下行鏈路路的測試方法是由模擬bbu發(fā)送下行基帶數(shù)據(jù)，通過光纖后傳輸給rru，rru將這些數(shù)據(jù)通過下行通路發(fā)送到天線口，通過頻譜分析儀儀對天線口的數(shù)據(jù)進行解調(diào)及指標分析，來判斷下行鏈路是否滿足系統(tǒng)指標要求；上行鏈路的測試則通過天線口輸入調(diào)制信號，經(jīng)過rru的各個子模塊處理后經(jīng)光纖后傳輸?shù)侥Mbbu設(shè)備中，模擬bbu采集rru的上行數(shù)據(jù)，對數(shù)據(jù)進行分析來判斷上行鏈路是否正常。采用專門的模擬bbu測試設(shè)備或類似的測試板卡雖然可以測試上下行的指標，但是由于受硬件環(huán)境等條件限制，在整機以及高低溫老化環(huán)境下測試需要增加額外的接口進行配合，增加測試的平臺復(fù)雜度，也增加了測試的成本，因而使這種測試方法缺少靈活性。

此外，現(xiàn)有的技術(shù)對rru單板測試中，還可以利用嵌入式應(yīng)用程序加入一定的軟件程序來測試rru的正確性。但由于該方法通過軟件代碼對rru進行上下行測試，雖不需要額外的板卡或設(shè)備，但是會占用單盤一定的資源，增加系統(tǒng)功耗，而且測試的全面性也受到一定的局限，受限于這些因素的影響，該方法無法進行大量數(shù)據(jù)例如寬帶多載波數(shù)據(jù)的分析測試，只適用于做一些簡單的測試。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明解決的問題是提供一種用于射頻拉遠單元rru的測試以及老化的方法，解決在現(xiàn)有技術(shù)下整機測試以及高低溫老化情況下需要額外添加bbu或測試板卡接口測試上下行鏈路及指標，無法整機自測的問題。

一種用于射頻拉遠單元rru的測試以及老化裝置系統(tǒng)，包括光纖、射頻拉遠單元、頻譜分析儀，信號發(fā)生源、本地控制pc；射頻拉遠單元分別與頻譜分析儀，信號發(fā)生源、本地控制pc連接。

其中，所述的光纖用于在高低溫老化情況下進行上下行鏈路環(huán)回。

所述射頻拉遠單元，包括光模塊、arm、fpga、內(nèi)存顆粒，射頻單元；fpga分別與光模塊、arm、內(nèi)存顆粒、射頻單元連接。其中，所述光模塊用于實現(xiàn)信號的光電轉(zhuǎn)換；所述arm用于對fpga進行命令配置，存儲下行基帶和上行采集的數(shù)據(jù)文件；所述fpga用于實現(xiàn)cpri協(xié)議以及上下行中頻處理，并通過arm的控制實現(xiàn)發(fā)射基帶數(shù)據(jù)、采集上行數(shù)據(jù)功能；所述內(nèi)存顆粒用于存儲fpga發(fā)源數(shù)據(jù)和采集到的數(shù)據(jù)；所述射頻單元用于對下行fpga發(fā)送的基帶信號進行發(fā)射機鏈路上的數(shù)據(jù)處理并將處理后的射頻信號發(fā)送給頻譜分析儀，接收上行信號源發(fā)過來的射頻信號，將射頻信號處理后發(fā)送給fpga進行后續(xù)處理。

所述信號發(fā)生源，用于產(chǎn)生射頻拉遠單元射頻測試所需的射頻信號，并提供10m的參考信號作為射頻拉遠單元的鎖相環(huán)參考來實現(xiàn)系統(tǒng)同源。

所述頻譜分析儀，用于對射頻拉遠單元接收射頻信號進行發(fā)射機指標測試，并提供10m的參考信號作為射頻拉遠單元的鎖相環(huán)參考來實現(xiàn)系統(tǒng)同源。

所述控制pc用于向所述射頻拉遠單元是arm發(fā)送調(diào)試或測試指令，將本地下行所需的基帶信號數(shù)據(jù)文件發(fā)送給所述射頻拉遠單元，且接收射頻拉遠單元采集到的上行測試數(shù)據(jù)并保存于本地文件中。

所述fpga包括數(shù)據(jù)發(fā)射/采集模塊、cpri接口模塊、開關(guān)選擇模塊、數(shù)字中頻模塊；開關(guān)選擇模塊分別與數(shù)據(jù)發(fā)射/采集模塊、cpri接口模塊、數(shù)字中頻模塊連接，數(shù)據(jù)發(fā)射/采集模塊與數(shù)字中頻模塊連接；所述數(shù)據(jù)發(fā)射/采集模塊包括數(shù)據(jù)寫入/讀取單元、控制寄存器單元、內(nèi)存接口控制單元、讀取/寫入控制單元、數(shù)據(jù)緩沖/轉(zhuǎn)換單元、載波選擇單元，數(shù)據(jù)寫入/讀取單元、內(nèi)存接口控制單元、讀取/寫入控制單元、數(shù)據(jù)緩沖/轉(zhuǎn)換單元、載波選擇單元依次連接，控制寄存器單元分別與數(shù)據(jù)寫入/讀取單元、讀取/寫入控制單元、載波選擇單元連接；

所述數(shù)據(jù)寫入/讀取單元用于完成內(nèi)存接口控制單元和arm之間的數(shù)據(jù)交互，在進入行寫操作時把arm傳過來的數(shù)據(jù)進行處理，轉(zhuǎn)換為符合內(nèi)存接口控制單元要求的格式，在讀取操作時把從內(nèi)存接口控制單元讀出來的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為滿足arm上總線要求的時序；

所述內(nèi)存接口控制單元完成外部內(nèi)存顆粒和內(nèi)部用戶讀取/寫入控制單元之間數(shù)據(jù)、命令交互；

所述讀取/寫入控制單元接收arm發(fā)送的配置命令，并通過優(yōu)先級來判斷當前時刻是讀取基帶源數(shù)據(jù)還是進行數(shù)據(jù)采集操作；

所述數(shù)據(jù)緩沖/轉(zhuǎn)換單元則對發(fā)出的基帶數(shù)據(jù)和采集到的射頻信號進行緩沖及轉(zhuǎn)換，以保證在采數(shù)的同時能夠進行基帶數(shù)據(jù)更新發(fā)源；

所述寄存器控制單元用來實現(xiàn)arm對發(fā)源，采數(shù)的參數(shù)存儲配置；

所述載波選擇單元用于實現(xiàn)單載波或多載波數(shù)據(jù)輸出，且能夠配置為發(fā)射各個帶寬多載波基帶信號。

本發(fā)明同時提供一種基于上述系統(tǒng)的測試和老化方法。

所述測試方法步驟包括：

(1)所述控制arm讀取本地控制pc的基帶數(shù)據(jù)文件，并存在arm的flash內(nèi)。

(2)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)發(fā)射模塊在arm的配置命令下，通過總線接收arm發(fā)送過來的數(shù)據(jù)，并寫入相應(yīng)地址的內(nèi)存顆粒中。

(3)所述射頻拉遠單元在發(fā)送時刻讀取內(nèi)存顆粒中的基帶數(shù)據(jù)，并將基帶數(shù)據(jù)發(fā)送給下行數(shù)字中頻處理后經(jīng)所述射頻單元處理為射頻信號。

(4)所述開關(guān)選擇模塊選擇數(shù)據(jù)發(fā)射模塊發(fā)出的基帶測試數(shù)送給數(shù)子中頻模塊。

(5)所述頻譜分析儀對下行接收到的射頻信號進行下行指標分析，并提供10m參考到射頻拉遠單元作為系統(tǒng)的參考時鐘。

(6)所述信號發(fā)生器產(chǎn)生上行l(wèi)te無線信號，并提供10m參考到射頻拉遠單元作為系統(tǒng)的參考時鐘。

(7)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)采集模塊在接收到arm的采數(shù)命令后，采集由射頻單元以及上行中頻處理后的信號存儲到內(nèi)存顆粒中。

(8)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)采集模塊在arm的配置命令下，通過總線把內(nèi)存顆粒中的數(shù)據(jù)寫到arm的文件中。

(9)所述本地控制pc讀取arm的flash里采集到的數(shù)據(jù)文件，在本地通過matlab進行解調(diào)分析。

所述老化方法步驟包括：

(1)所述控制arm讀取本地控制pc的基帶數(shù)據(jù)文件，并存在arm的flash內(nèi)。

(2)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)發(fā)射模塊在arm的配置命令下，通過總線接收arm發(fā)送過來的數(shù)據(jù)，并寫入相應(yīng)地址的內(nèi)存顆粒中。

(3)所述射頻拉遠單元在發(fā)送時刻讀取內(nèi)存顆粒中的基帶數(shù)據(jù)，并將基帶數(shù)據(jù)發(fā)送給上行cpri接口模塊。

(4)所述開關(guān)選擇模塊選擇上行cpri接口模塊數(shù)據(jù)為發(fā)射模塊發(fā)出的基帶測試數(shù)。

(5)所述光模塊將組幀后的數(shù)據(jù)進行光電轉(zhuǎn)換，在發(fā)送通道將數(shù)據(jù)通過所述光纖發(fā)到接收通道。

(6)所述光模塊接收光纖環(huán)回后的數(shù)據(jù)，射頻拉遠單元進行cpri解幀處理，處理后的數(shù)據(jù)發(fā)送給下行中頻處理后經(jīng)所述射頻單元處理為射頻信號。

(7)所述頻譜分析儀對下行接收到的射頻信號進行下行指標分析，并提供10m參考到射頻拉遠單元作為系統(tǒng)的參考時鐘。

(8)所述信號發(fā)生器產(chǎn)生上行l(wèi)te無線信號，并提供10m參考到射頻拉遠單元作為系統(tǒng)的參考時鐘。

(9)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)采集模塊在接收到arm的采數(shù)命令后，采集由射頻單元以及上行中頻處理后的信號存儲到內(nèi)存顆粒中。

(10)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)采集模塊在arm的配置命令下，通過總線把內(nèi)存顆粒中的數(shù)據(jù)寫到arm的文件中。

(11)所述本地控制pc讀取arm的flash里采集到的數(shù)據(jù)文件，在本地通過matlab進行解調(diào)分析。

進一步的，所述的射頻拉遠單元發(fā)送下行基帶數(shù)據(jù)和采集上行數(shù)據(jù)是同時進行。

進一步的，所述的射頻拉遠單元發(fā)送的下行基帶數(shù)據(jù)可配置為一個或多個無線載波進行反復(fù)發(fā)送。

本發(fā)明提供一種射頻拉遠單元的測試及老化的方法和系統(tǒng)，在測試模式下通過控制射頻拉遠單元進行發(fā)送無線幀基帶信號到下行以及采集上行射頻調(diào)制信號進行上下行射頻指標分析，在老化模式下通過光纖將上下行鏈路環(huán)回，基帶信號由上行環(huán)回到下行，從而達到老化下測試完整的上下行鏈路。本發(fā)明裝置不需要額外的模擬bbu或其他測試板卡設(shè)備支持，自身就可以完成上下行鏈路測試，簡化平臺環(huán)境，降低操作復(fù)雜度和測試成本，靈活性好，不僅適用于單盤調(diào)試自測，也適用于整機的批量測試和老化。

附圖說明

圖1為本發(fā)明一種用于射頻拉遠單元測試及老化的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本發(fā)明一種用于射頻拉遠單元測試下行步驟流程示意圖。

圖3為本發(fā)明一種用于射頻拉遠單元測試上行步驟流程示意圖。

圖4為本發(fā)明一種用于射頻拉遠單元老化下行步驟流程示意圖。

圖5為本發(fā)明實施中數(shù)據(jù)發(fā)射/采集模塊結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

為了使本發(fā)明的目的，實現(xiàn)方案及優(yōu)點更加明確清晰，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做進一步的詳細說明。

如圖1所示的一種用于射頻拉遠單元rru的測試以及老化裝置系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖，包括光纖、射頻拉遠單元、頻譜分析儀，信號發(fā)生源、本地控制pc。

其中，所述的光纖用于在高低溫老化情況下進行上下行鏈路環(huán)回。

所述射頻拉遠單元，包括光模塊、arm、fpga、內(nèi)存顆粒，射頻單元。

其中，所述光模塊用于實現(xiàn)信號的光電轉(zhuǎn)換。

所述arm用于對fpga進行命令配置，存儲下行基帶數(shù)據(jù)源和采集的上行數(shù)據(jù)文件。

所述fpga包括cpri接口模塊，數(shù)據(jù)發(fā)射/采集模塊、數(shù)字中頻模塊，開關(guān)選擇模塊，其中，所述cpri接口模塊實現(xiàn)cpri協(xié)議；數(shù)據(jù)發(fā)射/采集模塊用于實現(xiàn)在arm的控制命令下發(fā)射基帶信號源，采集上行調(diào)制信號；所述數(shù)字中頻模塊用于對信號進行上下行相應(yīng)的中頻處理；所述開關(guān)選擇模塊用于在測試模式下選擇發(fā)送給數(shù)字中頻模塊的信號是基帶測試數(shù)或真實環(huán)境下bbu發(fā)過來的數(shù)據(jù)，在老化模式下選擇發(fā)給上行cpri接口模塊的信號是基帶測試數(shù)據(jù)還是真實環(huán)境下的上行數(shù)據(jù)。

所述內(nèi)存顆粒用于存儲fpga發(fā)源數(shù)據(jù)和采集到的數(shù)據(jù)；所述射頻單元用于對下行fpga發(fā)送的基帶信號進行發(fā)射機鏈路上的數(shù)據(jù)處理并將處理后的射頻信號發(fā)送給頻譜分析儀，接收上行信號源發(fā)過來的射頻信號，將射頻信號處理后發(fā)送給fpga進行后續(xù)處理；

所述信號發(fā)生源，用于產(chǎn)生射頻拉遠單元射頻測試所需的射頻信號，并提供10m的參考信號作為射頻拉遠單元的鎖相環(huán)參考來實現(xiàn)系統(tǒng)同源。

所述頻譜分析儀，用于對射頻拉遠單元接收射頻信號進行發(fā)射機指標測試，并提供10m的參考信號作為射頻拉遠單元的鎖相環(huán)參考來實現(xiàn)系統(tǒng)同源。

所述控制pc用于向所述射頻拉遠單元是arm發(fā)送調(diào)試或測試指令，將本地下行所需的基帶信號數(shù)據(jù)文件發(fā)送給所述射頻拉遠單元，且接收射頻拉遠單元采集到的上行測試數(shù)據(jù)且保存于本地文件中。

所述fpga包括數(shù)據(jù)發(fā)射/采集模塊、cpri接口模塊、開關(guān)選擇模塊、數(shù)字中頻模塊；開關(guān)選擇模塊分別與數(shù)據(jù)發(fā)射/采集模塊、cpri接口模塊、數(shù)字中頻模塊連接，數(shù)據(jù)發(fā)射/采集模塊與數(shù)字中頻模塊連接。

本發(fā)明還提供一種用于射頻拉遠單元測試方法。對于下行鏈路測試步驟如圖2所述，包括：

(1)所述控制arm讀取本地控制pc的基帶數(shù)據(jù)文件，并存在arm的flash內(nèi)。

(2)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)發(fā)射模塊在arm的配置命令下，通過總線接收arm發(fā)送過來的數(shù)據(jù)，并寫入相應(yīng)地址的內(nèi)存顆粒中。

(3)所述射頻拉遠單元在發(fā)送時刻讀取內(nèi)存顆粒中的數(shù)據(jù)，以一定的數(shù)據(jù)格式發(fā)送給下行數(shù)字中頻處理后經(jīng)所述射頻單元處理為射頻信號。

(4)所述開關(guān)選擇模塊選擇數(shù)據(jù)發(fā)射模塊發(fā)出的基帶測試數(shù)送給數(shù)子中頻模。

(5)所述頻譜分析儀對下行經(jīng)數(shù)字中頻模塊，射頻單元處理后的射頻信號進行下行指標分析，并提供10m參考到射頻拉遠單元作為系統(tǒng)的參考時鐘。

對于上行鏈路測試步驟如圖3所述，包括：

(1)所述信號發(fā)生器產(chǎn)生上行l(wèi)te無線信號，并提供10m參考到射頻拉遠單元作為系統(tǒng)的參考時鐘。

(2)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)采集模塊在接收到arm的采數(shù)命令后，采集由射頻單元以及上行中頻處理后的信號存儲到內(nèi)存顆粒中。

(3)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)采集模塊在arm的配置命令下，通過總線把內(nèi)存顆粒中的數(shù)據(jù)寫到arm的文件中。

(4)所述本地控制pc讀取arm的flash里采集到的數(shù)據(jù)文件，在本地通過軟件進行解調(diào)分析。

本發(fā)明還提供一種用于射頻拉遠單元老化方法。對于下行鏈路老化步驟如圖4所述，包括：

(1)所述控制arm讀取本地控制pc的基帶數(shù)據(jù)文件，并存在arm的flash內(nèi)。

(2)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)發(fā)射模塊在arm的配置命令下，通過總線接收arm發(fā)送過來的數(shù)據(jù)，并寫入相應(yīng)地址的內(nèi)存顆粒中。

(3)所述射頻拉遠單元在發(fā)送時刻讀取內(nèi)存顆粒中的數(shù)據(jù)，以一定的數(shù)據(jù)格式發(fā)送給上行cpri接口模塊。

(4)所述開關(guān)選擇模塊選擇上行cpri接口模塊數(shù)據(jù)為發(fā)射模塊發(fā)出的基帶測試數(shù)。

(5)所述光模塊將cpri組幀后的數(shù)據(jù)進行光電轉(zhuǎn)換，在發(fā)送通道將數(shù)據(jù)通過所述光纖發(fā)到接收通道。

(6)所述光模塊接收光纖環(huán)回后的數(shù)據(jù)，cpri接口模塊進行cpri解幀處理，處理后的數(shù)據(jù)直接發(fā)送給下行中頻處理后經(jīng)所述射頻單元處理為射頻信號。

(7)所述頻譜分析儀對下行接收到的射頻信號進行下行指標分析，并提供10m參考到射頻拉遠單元作為系統(tǒng)的參考時鐘。

所述老化模式的上行鏈路操作步驟可參見測試模式上行鏈路測試步驟，具體包括如下步驟：

(12)所述信號發(fā)生器產(chǎn)生上行l(wèi)te無線信號，并提供10m參考到射頻拉遠單元作為系統(tǒng)的參考時鐘；

(13)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)采集模塊在接收到arm的采數(shù)命令后，采集由射頻單元以及上行中頻處理后的信號存儲到內(nèi)存顆粒中；

(14)所述射頻拉遠單元的數(shù)據(jù)采集模塊在arm的配置命令下，通過總線把內(nèi)存顆粒中的數(shù)據(jù)寫到arm的文件中；

(15)所述本地控制pc讀取arm的flash里采集到的數(shù)據(jù)文件，在本地通過matlab進行解調(diào)分析。

對于所述的數(shù)據(jù)發(fā)射/采集模塊，包括數(shù)據(jù)寫入/讀取單元，內(nèi)存接口控制單元，讀取/寫入控制單元，數(shù)據(jù)緩沖/轉(zhuǎn)換單元，寄存器控制單元，載波選擇單元。該模塊在fpga中實現(xiàn)，利用fpga多余的資源控制發(fā)射多載波基帶信號，所占用的資源少，提高系統(tǒng)資源利用率以及系統(tǒng)測試的有效性和多樣性。其中，

(1)所述數(shù)據(jù)寫入/讀取單元用于完成內(nèi)存接口控制單元和arm之間的數(shù)據(jù)交互，在進入行寫操作時把arm傳過來的數(shù)據(jù)進行一定的處理，轉(zhuǎn)換為符合內(nèi)存接口控制單元要求的格式，在讀取操作時把從內(nèi)存接口控制單元讀出來的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為滿足arm上總線要求的時序。

(2)所述內(nèi)存接口控制單元完成外部內(nèi)存顆粒和內(nèi)部用戶讀取/寫入控制單元之間數(shù)據(jù)、命令交互。

(3)所述讀取/寫入控制單元接收arm發(fā)送的配置命令，并通過一定的優(yōu)先級來判斷當前時刻是讀取基帶源數(shù)據(jù)還是進行數(shù)據(jù)采集操作。

(4)所述數(shù)據(jù)緩沖/轉(zhuǎn)換單元則對發(fā)出的基帶數(shù)據(jù)和采集到的射頻信號進行一定的緩沖及轉(zhuǎn)換，以保證在采數(shù)的同時能夠進行基帶數(shù)據(jù)更新發(fā)源。

(5)所述寄存器控制單元用來實現(xiàn)arm對發(fā)源，采數(shù)的一些參數(shù)存儲配置。

(6)所述載波選擇單元用于實現(xiàn)單載波或多載波數(shù)據(jù)輸出，且能夠配置為發(fā)射各個帶寬多載波基帶信號。

本發(fā)明中，不論是在測試和老化的情況下，通過控制射頻拉遠單元進行自行發(fā)送無線幀基帶信號到下行以及采集上行射頻調(diào)制信號進行上下行射頻指標分析，不需要額外的模擬bbu或其他測試板卡設(shè)備支持，自身就可以完成上下行鏈路測試，提高調(diào)試效率，簡化平臺環(huán)境，降低操作復(fù)雜度和測試成本，靈活性好，不僅適用于單盤調(diào)試自測，也適用于整機的批量測試和老化。而通過老化模式光纖將上下行鏈路環(huán)回就可以老化完整的上下行鏈路，進一步降低平臺操作復(fù)雜度。此外，射頻拉遠單元通fpga的資源來實現(xiàn)控制發(fā)射各個帶寬多載波基帶信號，在占用資源少的同時提高了系統(tǒng)測試的有效性和多樣性。

以上對本發(fā)明所提供的一種用于rru整機測試、老化方法及系統(tǒng)進行了詳細介紹，本文中應(yīng)用了具體實施例對本發(fā)明的原理及實施方式進行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想，并不用以限制本發(fā)明，同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實施方式及應(yīng)用范圍上所做的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明保護的范圍之內(nèi)。