本發(fā)明涉及射頻通信領(lǐng)域，尤其涉及一種獲取射頻功放loadpull參數(shù)的方法。

背景技術(shù)：

目前獲取功放器件loadpull參數(shù)主要通過(guò)專用的儀器套件(以下統(tǒng)稱“專用測(cè)試系統(tǒng)”)來(lái)獲取。

專用測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)改變電路的偏壓(bias)及調(diào)整tuner所對(duì)應(yīng)的匹配阻抗值，觀察待測(cè)器件(dut)的輸出功率、效率、信號(hào)質(zhì)量等電氣參數(shù)的變化，從而得到待測(cè)器件的loadpull參數(shù)。

專用測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試之前，需要首先對(duì)高頻導(dǎo)線、轉(zhuǎn)接頭、輸入輸出阻抗調(diào)諧器(inputtuner\outputtuner)等組件進(jìn)行s參數(shù)(s-parameter)進(jìn)行測(cè)量，再將相關(guān)數(shù)據(jù)輸入到測(cè)量系統(tǒng)的軟件中。此后接著完成整個(gè)系統(tǒng)的s參數(shù)校準(zhǔn)、功率校準(zhǔn)等一系列校準(zhǔn)工作，才能夠進(jìn)行測(cè)試。

測(cè)試時(shí)，系統(tǒng)在選定的阻抗區(qū)域內(nèi)進(jìn)行掃描，改變輸入輸出阻抗調(diào)諧器的阻抗值，記錄待測(cè)物理量(如powerconsumption、evm等)的對(duì)應(yīng)變化，即得到了dut的loadpull參數(shù)。為了找到性能最佳的阻抗值，可能需要進(jìn)行多次的掃描。

上述自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的不足點(diǎn)在于：

1、專用測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電氣參數(shù)需要使用系統(tǒng)自身的信號(hào)源產(chǎn)生信號(hào)，而絕大多數(shù)產(chǎn)品成品不會(huì)預(yù)留給外界注入信號(hào)的測(cè)試接口，因此通常需要為每個(gè)射頻功放定制一個(gè)測(cè)試印制電路板，除了占用一個(gè)印制電路板的設(shè)計(jì)周期外，還會(huì)造成一定的資源浪費(fèi)及額外環(huán)境污染。

2、要將專用測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試到的loadpull數(shù)據(jù)應(yīng)用到任何一個(gè)產(chǎn)品上，都必須要經(jīng)過(guò)這樣的步驟：(1)選取loadpull數(shù)據(jù)點(diǎn)；(2)反復(fù)調(diào)整匹配網(wǎng)絡(luò)參數(shù)，將射頻功放的負(fù)載阻抗調(diào)到該數(shù)據(jù)點(diǎn)的阻抗值上；(3)確認(rèn)電氣參數(shù)是否滿足要求，如果滿足要求則結(jié)束，否則回去執(zhí)行步驟(2)。因此專用測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試到的loadpull參數(shù)不能直接應(yīng)用在測(cè)試中使用的產(chǎn)品成品上，loadpull參數(shù)應(yīng)用到產(chǎn)品時(shí)的調(diào)試時(shí)間較長(zhǎng)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對(duì)上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的在于提供一種獲取射頻功放loadpull參數(shù)的方法，使用產(chǎn)品成品測(cè)試，無(wú)需為每個(gè)dut定制一個(gè)測(cè)試印制電路板，縮短了測(cè)試周期，節(jié)約了資源，避免了額外的環(huán)境污染。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種獲取射頻功放loadpull參數(shù)的方法，包括：

s1，判斷配置有相同的射頻功放的n個(gè)產(chǎn)品成品中，是否有至少一個(gè)產(chǎn)品成品屬于確定優(yōu)良產(chǎn)品，若是則執(zhí)行s2，否則執(zhí)行s4；所述確定優(yōu)良產(chǎn)品是指配置有已經(jīng)調(diào)試到滿足預(yù)設(shè)的電氣參數(shù)性能要求的射頻功放的產(chǎn)品成品；

s2，用阻抗參數(shù)系統(tǒng)獲取其中每個(gè)確定優(yōu)良產(chǎn)品的射頻功放的負(fù)載阻抗值，以及用電氣參數(shù)系統(tǒng)測(cè)量每個(gè)確定優(yōu)良產(chǎn)品的射頻功放在有源條件下的電氣參數(shù)；

s3，整合測(cè)量得到的每個(gè)確定優(yōu)良產(chǎn)品的負(fù)載阻抗值和電氣參數(shù)，得到所述射頻功放的loadpull參數(shù)；

s4，從所述n個(gè)產(chǎn)品成品中選取一個(gè)產(chǎn)品成品作為待測(cè)產(chǎn)品成品，并為所述待測(cè)產(chǎn)品成品選取一組網(wǎng)絡(luò)匹配參數(shù)；

s5，將選取的網(wǎng)絡(luò)匹配參數(shù)配置到所述待測(cè)產(chǎn)品成品的匹配器，并在配置完成后用阻抗參數(shù)系統(tǒng)獲取所述待測(cè)產(chǎn)品成品的射頻功放的負(fù)載阻抗值及傳輸系數(shù)s21，以及用電氣參數(shù)系統(tǒng)測(cè)量所述待測(cè)產(chǎn)品成品的射頻功放在有源條件下的電氣參數(shù)，保存本次獲取到的負(fù)載阻抗值、傳輸系數(shù)s21與電氣參數(shù)；

s6，判斷本次通過(guò)s5獲取的傳輸系數(shù)s21與電氣參數(shù)是否同時(shí)滿足使用要求；

s7，當(dāng)本次通過(guò)s5獲取的傳輸系數(shù)s21與電氣參數(shù)同時(shí)滿足使用要求時(shí)，將本次通過(guò)s5獲取的負(fù)載阻抗值與電氣參數(shù)整合得到所述射頻功放的loadpull參數(shù)；

s8，當(dāng)本次通過(guò)s5獲取的傳輸系數(shù)s21與電氣參數(shù)至少有一個(gè)不滿足使用要求時(shí)，判斷獲取到的關(guān)于所述待測(cè)成品產(chǎn)品的所有負(fù)載阻抗值是否已充分覆蓋阻抗圓圖的主要區(qū)域，若是則退出測(cè)試，否則重新選取一組網(wǎng)絡(luò)匹配參數(shù)并再次執(zhí)行s5。

優(yōu)選地，s6具體包括：

判斷本次通過(guò)s5獲取的傳輸系數(shù)s21是否大于預(yù)設(shè)的第一閾值；當(dāng)所述傳輸系數(shù)s21大于所述第一閾值時(shí)，判定所述傳輸系數(shù)s21不滿足使用要求，否則判定所述傳輸系數(shù)s21滿足使用要求；

判斷本次通過(guò)s5獲取的電氣參數(shù)中的誤差向量幅度是否大于預(yù)設(shè)的第二閾值；當(dāng)所述誤差向量幅度大于所述第二閾值時(shí)，判定所述負(fù)載阻抗值不滿足使用要求，否則判定所述負(fù)載阻抗值滿足使用要求。

優(yōu)選地，所述第一閾值為loss+1db；所述第二閾值為1.8％；loss為匹配器輸出端口到射頻接口之間的衰減值。

優(yōu)選地，判斷獲取到的關(guān)于所述待測(cè)成品產(chǎn)品的所有負(fù)載阻抗值是否已充分覆蓋阻抗圓圖的主要區(qū)域的方法包括：

將所述阻抗圓圖的主要區(qū)域劃分成若干個(gè)子區(qū)域；

將獲取到的關(guān)于所述待測(cè)成品產(chǎn)品的所有負(fù)載阻抗值導(dǎo)入所述阻抗圓圖，判斷是否每個(gè)子區(qū)域都包含了一個(gè)負(fù)載阻抗值；若是則判定已充分覆蓋阻抗圓圖的主要區(qū)域，否則判定未充分覆蓋阻抗圓圖的主要區(qū)域。

優(yōu)選地，所述將所述阻抗圓圖的主要區(qū)域劃分成若干個(gè)子區(qū)域，包括：

在所述阻抗圓圖上以所述阻抗圓圖的中心為圓心，形成m個(gè)不同半徑的圓；

將所述圓心分別連接到所述阻抗圓圖上的n等分點(diǎn)，得到n條等分線；

通過(guò)所述m個(gè)不同半徑的圓以及所述n條等分線將所述阻抗圓劃分成若干個(gè)子區(qū)域。

優(yōu)選地，所述阻抗參數(shù)系統(tǒng)包括矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀；在步驟s1之前還包括：將兩根射頻同軸線連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一端口和第二端口，測(cè)量出第一端口和第二端口的反射系數(shù)后，再通過(guò)校準(zhǔn)件控制矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)。

相比于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明實(shí)施例的有益效果在于：本發(fā)明公開(kāi)了一種獲取射頻功放loadpull參數(shù)的方法，采用產(chǎn)品成品測(cè)試，包括判斷配置有相同的射頻功放的n個(gè)產(chǎn)品成品中是否有至少一個(gè)產(chǎn)品成品屬于確定優(yōu)良產(chǎn)品；若是則用阻抗參數(shù)系統(tǒng)獲取其中每個(gè)確定優(yōu)良產(chǎn)品的射頻功放的負(fù)載阻抗值，以及用電氣參數(shù)系統(tǒng)測(cè)量每個(gè)確定優(yōu)良產(chǎn)品的射頻功放在有源條件下的電氣參數(shù)，作為射頻功放的loadpull參數(shù)；否則選取其中一個(gè)產(chǎn)品成品作為待測(cè)產(chǎn)品成品，并通過(guò)改變改待測(cè)產(chǎn)品成品的匹配網(wǎng)絡(luò)參數(shù)來(lái)找到一組符合使用要求的loadpull參數(shù)。該方法具有以下效果：

1、通過(guò)本方案獲取到的參數(shù)與專用測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果接近，有同樣的實(shí)用價(jià)值；

2、相對(duì)于專用測(cè)試系統(tǒng)，本方案所用的儀器和系統(tǒng)軟件都是行業(yè)內(nèi)普遍使用的通用、必備儀器以及儀器自帶軟件，因而系統(tǒng)成本幾乎可視為零；

3、相對(duì)于專用測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試前一系列的校準(zhǔn)操作，本方案只需要一步校準(zhǔn)(電氣參數(shù)系統(tǒng)是通用的，無(wú)需為本測(cè)試進(jìn)行專門校準(zhǔn))。校準(zhǔn)步驟大大簡(jiǎn)化，出錯(cuò)的概率小；

4、本方案使用產(chǎn)品成品測(cè)試，無(wú)需為每個(gè)dut定制一個(gè)測(cè)試印制電路板，縮短了測(cè)試周期，節(jié)約了資源，避免了額外的環(huán)境污染；

5、本方案魯棒性良好，適用頻帶覆蓋大部分的射頻頻段(已經(jīng)實(shí)踐證明的可應(yīng)用頻率高達(dá)6ghz),能夠應(yīng)用在大部分射頻產(chǎn)品的研發(fā)調(diào)試中；

6本方案中的匹配網(wǎng)絡(luò)參數(shù)能夠直接應(yīng)用在測(cè)試中使用的產(chǎn)品成品上，作為最終的產(chǎn)品匹配方案，使loadpull數(shù)據(jù)應(yīng)用到產(chǎn)品時(shí)的調(diào)試時(shí)間縮短到幾乎為零，而專用測(cè)試系統(tǒng)方案不具備這樣的條件和效果。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施方式中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施方式，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種獲取射頻功放loadpull參數(shù)的方法的流程示意圖；

圖2是圖1所述電氣參系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為圖1所述阻抗參數(shù)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4和圖5分別為相同應(yīng)用條件下對(duì)某型號(hào)射頻功放通過(guò)專業(yè)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果圖以及通過(guò)本方法的測(cè)試結(jié)果圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

請(qǐng)參閱圖1，其是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種獲取射頻功放loadpull參數(shù)的方法的流程示意圖，包括步驟s1～s8：

s1，判斷配置有相同的射頻功放的n個(gè)產(chǎn)品成品中，是否有至少一個(gè)產(chǎn)品成品屬于確定優(yōu)良產(chǎn)品，若是則執(zhí)行s2，否則執(zhí)行s4；所述確定優(yōu)良產(chǎn)品是指配置有已經(jīng)調(diào)試到滿足預(yù)設(shè)的性能要求的射頻功放的產(chǎn)品成品；

s2，用阻抗參數(shù)系統(tǒng)獲取其中每個(gè)確定優(yōu)良產(chǎn)品的射頻功放的負(fù)載阻抗值，以及用電氣參數(shù)系統(tǒng)測(cè)量每個(gè)確定優(yōu)良產(chǎn)品的射頻功放在有源條件下的電氣參數(shù)；

s3，整合測(cè)量得到的每個(gè)確定優(yōu)良產(chǎn)品的負(fù)載阻抗值和電氣參數(shù)，得到所述射頻功放的loadpull參數(shù)；

s4，從所述n個(gè)產(chǎn)品成品中選取一個(gè)產(chǎn)品成品作為待測(cè)產(chǎn)品成品，并為所述待測(cè)產(chǎn)品成品選取一組網(wǎng)絡(luò)匹配參數(shù)；

s5，將選取的網(wǎng)絡(luò)匹配參數(shù)配置到所述待測(cè)產(chǎn)品成品的匹配器，并在配置完成后用阻抗參數(shù)系統(tǒng)獲取所述待測(cè)產(chǎn)品成品的射頻功放的負(fù)載阻抗值及傳輸系數(shù)s21，以及用電氣參數(shù)系統(tǒng)測(cè)量所述待測(cè)產(chǎn)品成品的射頻功放在有源條件下的電氣參數(shù)，保存本次獲取到的負(fù)載阻抗值與電氣參數(shù)；

s6，判斷本次通過(guò)s5獲取的傳輸系數(shù)s21與電氣參數(shù)是否同時(shí)滿足使用要求；

s7，當(dāng)本次通過(guò)s5獲取的傳輸系數(shù)s21與電氣參數(shù)同時(shí)滿足使用要求時(shí)，將本次通過(guò)s5獲取的負(fù)載阻抗值與電氣參數(shù)整合得到所述射頻功放的loadpull參數(shù)；

s8，當(dāng)本次通過(guò)s5獲取的傳輸系數(shù)s21與電氣參數(shù)至少有一個(gè)不滿足使用要求時(shí)，判斷獲取到的關(guān)于所述待測(cè)成品產(chǎn)品的所有負(fù)載阻抗值是否已充分覆蓋阻抗圓圖的主要區(qū)域，若是則退出測(cè)試，否則重新選取一組網(wǎng)絡(luò)匹配參數(shù)并再次執(zhí)行s5。

相對(duì)于當(dāng)前行業(yè)內(nèi)的專用測(cè)試系統(tǒng)，本發(fā)明實(shí)施例使用常見(jiàn)的儀器和拓?fù)鋪?lái)實(shí)現(xiàn)loadpull參數(shù)測(cè)量，拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)上和測(cè)試流程上也不相同，而且定制的測(cè)試印制電路板在本方案中并不是必要的。在系統(tǒng)構(gòu)成上，本方案由兩個(gè)子系統(tǒng)組成：一個(gè)子系統(tǒng)負(fù)責(zé)測(cè)試射頻功放的電氣參數(shù)，即“電氣參數(shù)系統(tǒng)”；另一個(gè)系統(tǒng)負(fù)責(zé)測(cè)試dut射頻功放的負(fù)載阻抗參數(shù)，即“阻抗參數(shù)系統(tǒng)”。測(cè)試所用的印制電路板直接采用已經(jīng)包含待測(cè)功放的射頻產(chǎn)品成品，即“產(chǎn)品成品”。

電氣參數(shù)系統(tǒng)由常規(guī)的測(cè)量設(shè)備組成，與常規(guī)的測(cè)試拓?fù)湟恢?。我們以射頻行業(yè)中最常見(jiàn)的電氣參數(shù)——誤差向量幅度為例，下述圖2所示即為電氣參系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。測(cè)試的時(shí)候使用控制pc來(lái)控制產(chǎn)品成品處于發(fā)送狀態(tài)，則射頻功放工作起來(lái)，從iqxel測(cè)試儀可以測(cè)試到當(dāng)前的誤差向量幅度參數(shù)。更換產(chǎn)品成品中的匹配器元件，即可以獲取不同的負(fù)載阻抗下的誤差向量幅度參數(shù)。需要說(shuō)明的是，本發(fā)明中的電氣參數(shù)系統(tǒng)不限于所述iqxel測(cè)試儀，還可以采用其他等同功能的儀器。

阻抗參數(shù)系統(tǒng)由同軸電纜和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀組成，下述圖3所示即為所述阻抗參數(shù)系統(tǒng)的系統(tǒng)構(gòu)成。測(cè)試前對(duì)同軸電纜進(jìn)行校準(zhǔn)，即可以用于測(cè)試負(fù)載阻抗值。具體為在s1之前，將兩根射頻同軸線連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一端口和第二端口，測(cè)量出第一端口和第二端口的反射系數(shù)后，再通過(guò)校準(zhǔn)件控制矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)。

在本發(fā)明實(shí)施例中，將產(chǎn)品成品分成兩種，一種是確定優(yōu)良產(chǎn)品，另一種是未確定優(yōu)良產(chǎn)品。確定優(yōu)良產(chǎn)品是指配置有已經(jīng)調(diào)試到滿足預(yù)設(shè)的電氣參數(shù)性能要求的射頻功放的產(chǎn)品成品。對(duì)確定優(yōu)良產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量得到的一組loadpull參數(shù)，一般來(lái)說(shuō)是符合使用要求的，通過(guò)對(duì)多個(gè)確定優(yōu)良產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試可以得到多組符合使用要求的loadpull參數(shù)，有助于在應(yīng)用時(shí)把產(chǎn)品性能調(diào)試得更好，達(dá)到精益求精的效果。當(dāng)不存在確定優(yōu)良產(chǎn)品，即所有產(chǎn)品成品都是未確定優(yōu)良產(chǎn)品時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例的做法是選取其中一個(gè)產(chǎn)品成品作為待測(cè)產(chǎn)品成品進(jìn)行測(cè)試。通過(guò)改變匹配器的網(wǎng)絡(luò)匹配參數(shù)來(lái)獲取至少一組負(fù)載阻抗值、傳輸系數(shù)s21與電氣參數(shù)，只要有一組傳輸系數(shù)s21與電氣參數(shù)能夠同時(shí)滿足使用要求時(shí)，即將其中的負(fù)載阻抗值與電氣參數(shù)整合為射頻功放的loadpull參數(shù)。當(dāng)獲取到的關(guān)于所述待測(cè)產(chǎn)品成品的所有負(fù)載阻抗值已充分覆蓋阻抗圓圖的主要區(qū)域時(shí)，說(shuō)明獲取到的傳輸系數(shù)s21與電氣參數(shù)均不能同時(shí)滿足使用要求，所述射頻功放本身性能不理想。

在一種實(shí)施方式中，s6具體包括：

判斷本次通過(guò)s5獲取的傳輸系數(shù)s21是否大于預(yù)設(shè)的第一閾值；當(dāng)所述傳輸系數(shù)s21大于所述第一閾值時(shí)，判定所述傳輸系數(shù)s21不滿足使用要求，否則判定所述傳輸系數(shù)s21滿足使用要求；

判斷本次通過(guò)s5獲取的電氣參數(shù)中的誤差向量幅度是否大于預(yù)設(shè)的第二閾值；當(dāng)所述誤差向量幅度大于所述第二閾值時(shí)，判定所述負(fù)載阻抗值不滿足使用要求，否則判定所述負(fù)載阻抗值滿足使用要求。

優(yōu)選地，所述第一閾值為loss+1db；所述第二閾值為1.8％；loss為匹配器輸出端口到射頻接口之間的衰減值。該衰減值可以用這一段電路經(jīng)過(guò)的元件插入損耗(元件規(guī)格書上有該參數(shù))加權(quán)得到。如果傳輸系數(shù)s21絕對(duì)值大于所述第一閾值，指示當(dāng)前的匹配網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的插入損耗過(guò)大，則該組匹配網(wǎng)絡(luò)參數(shù)可能存在不適宜應(yīng)用在實(shí)際產(chǎn)品中的風(fēng)險(xiǎn)，需要重新選取一組匹配網(wǎng)絡(luò)參數(shù)。

在一種實(shí)施方式中，判斷獲取到的關(guān)于所述待測(cè)成品產(chǎn)品的所有負(fù)載阻抗值是否已充分覆蓋阻抗圓圖的主要區(qū)域的方法包括：

將所述阻抗圓圖的主要區(qū)域劃分成若干個(gè)子區(qū)域；

將獲取到的關(guān)于所述待測(cè)成品產(chǎn)品的所有負(fù)載阻抗值導(dǎo)入所述阻抗圓圖，判斷是否每個(gè)子區(qū)域都包含了一個(gè)負(fù)載阻抗值；若是則判定已充分覆蓋阻抗圓圖的主要區(qū)域，否則判定未充分覆蓋阻抗圓圖的主要區(qū)域。

優(yōu)選地，所述將所述阻抗圓圖的主要區(qū)域劃分成若干個(gè)子區(qū)域，包括：

在所述阻抗圓圖上以所述阻抗圓圖的中心為圓心，形成m個(gè)不同半徑的圓；

將所述圓心分別連接到所述阻抗圓圖上的n等分點(diǎn)，得到n條等分線；

通過(guò)所述m個(gè)不同半徑的圓以及所述n條等分線將所述阻抗圓劃分成若干個(gè)子區(qū)域。通過(guò)這種方式，可以更精確地判斷獲取到的關(guān)于所述待測(cè)成品產(chǎn)品的所有負(fù)載阻抗值是否已充分覆蓋阻抗圓圖的主要區(qū)域。

請(qǐng)同時(shí)參閱圖4和圖5，圖4和圖5分別為相同應(yīng)用條件下對(duì)某型號(hào)射頻功放通過(guò)專業(yè)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果圖以及通過(guò)本方法的測(cè)試結(jié)果圖。對(duì)比圖4和圖5可知，兩組數(shù)據(jù)基本吻合。

相比于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明實(shí)施例的有益效果在于：

本發(fā)明公開(kāi)了一種獲取射頻功放loadpull參數(shù)的方法，采用產(chǎn)品成品測(cè)試，包括判斷配置有相同的射頻功放的n個(gè)產(chǎn)品成品中是否有至少一個(gè)產(chǎn)品成品屬于確定優(yōu)良產(chǎn)品；若是則用阻抗參數(shù)系統(tǒng)獲取其中每個(gè)確定優(yōu)良產(chǎn)品的射頻功放的負(fù)載阻抗值，以及用電氣參數(shù)系統(tǒng)測(cè)量每個(gè)確定優(yōu)良產(chǎn)品的射頻功放在有源條件下的電氣參數(shù)，作為射頻功放的loadpull參數(shù)；否則選取其中一個(gè)產(chǎn)品成品作為待測(cè)產(chǎn)品成品，并通過(guò)改變改待測(cè)產(chǎn)品成品的匹配網(wǎng)絡(luò)參數(shù)來(lái)找到一組符合使用要求的loadpull參數(shù)。該方法具有以下效果：

1、通過(guò)本方案獲取到的參數(shù)與專用測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果接近，有同樣的實(shí)用價(jià)值；

2、相對(duì)于專用測(cè)試系統(tǒng)，本方案所用的儀器和系統(tǒng)軟件都是行業(yè)內(nèi)普遍使用的通用、必備儀器以及儀器自帶軟件，因而系統(tǒng)成本幾乎可視為零；

3、相對(duì)于專用測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試前一系列的校準(zhǔn)操作，本方案只需要一步校準(zhǔn)(電氣參數(shù)系統(tǒng)是通用的，無(wú)需為本測(cè)試進(jìn)行專門校準(zhǔn))。校準(zhǔn)步驟大大簡(jiǎn)化，出錯(cuò)的概率??；

4、本方案使用產(chǎn)品成品測(cè)試，無(wú)需為每個(gè)dut定制一個(gè)測(cè)試印制電路板，縮短了測(cè)試周期，節(jié)約了資源，避免了額外的環(huán)境污染；

5、本方案魯棒性良好，適用頻帶覆蓋大部分的射頻頻段(已經(jīng)實(shí)踐證明的可應(yīng)用頻率高達(dá)6ghz),能夠應(yīng)用在大部分射頻產(chǎn)品的研發(fā)調(diào)試中；

6本方案中的匹配網(wǎng)絡(luò)參數(shù)能夠直接應(yīng)用在測(cè)試中使用的產(chǎn)品成品上，作為最終的產(chǎn)品匹配方案，使loadpull數(shù)據(jù)應(yīng)用到產(chǎn)品時(shí)的調(diào)試時(shí)間縮短到幾乎為零，而專用測(cè)試系統(tǒng)方案不具備這樣的條件和效果。

以上所揭露的僅為本發(fā)明一種較佳實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來(lái)限定本發(fā)明之權(quán)利范圍，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例的全部或部分流程，并依本發(fā)明權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬于發(fā)明所涵蓋的范圍。