1.一種強光干擾下的光信號檢測方法，其特征在于，包括：
在陣列光探測器的前端設置光衰減模塊，以此來提高陣列光探測器響應光功率的線性范圍；
當進行光信號檢測時，若存在超過預定值的強光干擾時，在光衰減模塊的作用下，使陣列光探測器中的部分或全部探測單元輸出帶有有用信息的信號，然后再進行后級處理。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種強光干擾下的光信號檢測方法，其特征在于，所述光信號檢測檢測的光波段包括：可見光波段、紅色光波段與紫外光波段。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種強光干擾下的光信號檢測方法，其特征在于，所述陣列光探測器包括：PD、APD和PMT陣列光探測器。
4.根據(jù)權利要求1所述的一種強光干擾下的光信號檢測方法，其特征在于，所述光衰減模塊包括：可變系數(shù)衰減片，以及具有漸變孔徑尺寸或漸變微孔密度的微孔陣列板。
5.根據(jù)權利要求1所述的一種強光干擾下的光信號檢測方法，其特征在于，所述微孔陣列板的材質為二氧化硅玻璃或者亞克力，表面涂覆有黑色亞光漆；單個微孔直徑在50微米與1毫米范圍之內變化。
6.根據(jù)權利要求1所述的一種強光干擾下的光信號檢測方法，其特征在于，所述后級處理包括：
如果陣列光探測器為PD陣列光探測器，則對被光衰減模塊覆蓋的圖像區(qū)域進行提取和區(qū)域分割，根據(jù)光衰減模塊的衰減系數(shù)與圖像灰度的變化關系，設定不同的圖像灰度門限進行信號提取，同時根據(jù)不同光衰減模塊的衰減系數(shù)下數(shù)據(jù)單元之間的相關關系進行信號檢測分析，最后獲取有用的數(shù)據(jù)單元。