本發(fā)明涉及終端應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算方法、裝置、射頻電路及終端。

背景技術(shù)：

隨著現(xiàn)代社會科技的快速發(fā)展，人們對手機(jī)、平板電腦和筆記本電腦等終端的需求越來越大，使得終端的應(yīng)用技術(shù)具有非常好的市場前景，并且發(fā)展勢頭良好。終端在進(jìn)行無線通信過程中，往往采用電磁波作為信號的傳輸載體，因此，射頻電路在終端的無線通信中居于十分重要的位置，射頻性能的好壞直接關(guān)系到信號的收、發(fā)能力和終端與基站通信能力的高低。

現(xiàn)有技術(shù)中，終端中的射頻電路的集成性越來越來高，對于射頻電路的射頻發(fā)射指標(biāo)測試的也越來越全面，通過對射頻發(fā)射指標(biāo)的把控，基本上已經(jīng)可以了解射頻電路的發(fā)射通路是否存在問題。但是對于射頻電路的接收通路來說，測試的指標(biāo)相對比較少，基本上就只有靈敏度和吞吐量的測試，所以有時(shí)射頻工程師并不能準(zhǔn)確的確定接收通路的問題點(diǎn)。

當(dāng)射頻電路的接收通路出現(xiàn)問題時(shí)，射頻工程師往往最先想到的就是判斷接收通路的插損是否滿足設(shè)計(jì)要求。由于現(xiàn)有技術(shù)中射頻電路的接收通路的電路如圖1所示，使得射頻工程師若想測試射頻電路的接收通路插損，需要在射頻收發(fā)器(WTR)處斷開通路將前端通路外接到網(wǎng)絡(luò)分析儀上進(jìn)行測試才能得到通路插損值，造成測試的過程時(shí)間長，且過程較為繁瑣；并且由于接收通路中的頻段比較多，如果要測試接收通路中每個(gè)頻段的插損的話，耗時(shí)過長，可行性不高。因此由于現(xiàn)有技術(shù)中接收通路插損的測量方法太過繁瑣，難以快速便捷的獲取接收通路插損，無形中增加了接收通路問題點(diǎn)確定的難度，使得射頻工程師發(fā)現(xiàn)接收通路問題點(diǎn)的時(shí)間和工作量過多，造成射頻調(diào)試的效率不高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算方法、裝置、射頻電路及終端，以快速便捷的計(jì)算出射頻電路的接收通路插損，提升射頻調(diào)試的效率。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算方法，包括：

接收第一耦合器反饋的接收通路功率P1和預(yù)定頻段中第二耦合器反饋的接收信號功率P2；

將所述P1分別與每個(gè)所述P2相減，得到所述第一耦合器和預(yù)定頻段中所述第二耦合器之間的插損值；

輸出所述插損值。

可選的，接收第一耦合器反饋的接收通路功率P1和預(yù)定頻段中第二耦合器反饋的接收信號功率P2，包括：

實(shí)時(shí)接收并存儲所述P1和所述P2；或

按預(yù)設(shè)時(shí)間間隔接收并存儲所述P1和所述P2；或

接收到查詢指令后，接收所述P1和所述P2。

可選的，將所述P1分別與每個(gè)所述P2相減，得到所述第一耦合器和預(yù)定頻段中所述第二耦合器之間的插損值，包括：

根據(jù)接收的插損查詢指令，將對應(yīng)的P1分別與對應(yīng)頻段的P2相減，得到所述第一耦合器和對應(yīng)頻段中的第二耦合器之間的插損值。

可選的，根據(jù)接收的插損查詢指令，將對應(yīng)的P1分別與對應(yīng)頻段的P2相減，得到所述第一耦合器和對應(yīng)頻段中的第二耦合器之間的插損值，包括：

根據(jù)接收的插損查詢指令，將所述插損查詢指令對應(yīng)時(shí)間點(diǎn)的P1分別與預(yù)定頻段的P2相減，得到所述時(shí)間點(diǎn)的所述第一耦合器和預(yù)定頻段中的第二耦合器之間的插損值。

此外，本發(fā)明提供了一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算裝置，包括：

接收模塊，用于接收第一耦合器反饋的接收通路功率P1和預(yù)定頻段中第二耦合器反饋的接收信號功率P2；

計(jì)算模塊，用于將所述P1分別與每個(gè)所述P2相減，得到所述第一耦合器和預(yù)定頻段中所述第二耦合器之間的插損值；

輸出模塊，用于輸出所述插損值。

可選的，所述接收模塊，包括：

實(shí)時(shí)接收單元，用于實(shí)時(shí)接收并存儲所述P1和所述P2；或

間隔接收單元，用于按預(yù)設(shè)時(shí)間間隔接收并存儲所述P1和所述P2；或

等待接收單元，用于接收到查詢指令后，接收所述P1和所述P2。

可選的，所述計(jì)算模塊，包括：

判斷計(jì)算單元，用于根據(jù)接收的插損查詢指令，將對應(yīng)的P1分別與對應(yīng)頻段的P2相減，得到所述第一耦合器和對應(yīng)頻段中的第二耦合器之間的插損值。

可選的，所述判斷計(jì)算單元，包括：

判斷計(jì)算子單元，用于根據(jù)接收的插損查詢指令，將所述插損查詢指令對應(yīng)時(shí)間點(diǎn)的P1分別與預(yù)定頻段的P2相減，得到所述時(shí)間點(diǎn)的所述第一耦合器和預(yù)定頻段中的第二耦合器之間的插損值。

本發(fā)明還提供了一種射頻電路，包括接收通路，所述接收通路包括：天線、第一耦合器、射頻開關(guān)、濾波器、第二耦合器、射頻收發(fā)器前端的匹配位和所述射頻收發(fā)器；

其中，所述第一耦合器，用于向所述射頻收發(fā)器反饋接收通路功率；所述第一耦合器的輸入端與天線接口相連，所述第一耦合器的輸出端與所述射頻開關(guān)的輸入端相連，所述第一耦合器的反饋端與所述射頻收發(fā)器對應(yīng)的功率檢測端口相連；

所述第二耦合器，用于向所述射頻收發(fā)器反饋預(yù)定頻段的接收信號功率；每個(gè)所述第二耦合器設(shè)置于各自對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段中，每個(gè)所述第二耦合器的輸入端與各自對應(yīng)預(yù)設(shè)頻段中的所述濾波器的輸出端相連，每個(gè)所述第二耦合器的輸出端與各自對應(yīng)預(yù)設(shè)頻段中的所述匹配位的輸入端相連，每個(gè)所述第二耦合器的反饋端與所述射頻收發(fā)器對應(yīng)的功率檢測端口相連。

本發(fā)明還提供了一種終端，包括：

如上一項(xiàng)所述射頻電路；

處理器，用于接收所述射頻電路中第一耦合器反饋的接收通路功率P1和預(yù)定頻段中第二耦合器反饋的接收信號功率P2；將所述P1分別與每個(gè)所述P2相減，得到所述第一耦合器和預(yù)定頻段中所述第二耦合器之間的插損值；輸出所述插損值。

本發(fā)明所提供的一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算方法，包括接收第一耦合器反饋的接收通路功率P1和預(yù)定頻段中第二耦合器反饋的接收信號功率P2；將所述P1分別與每個(gè)所述P2相減，得到所述第一耦合器和預(yù)定頻段中所述第二耦合器之間的插損值；輸出所述插損值；

可見，本發(fā)明通過接收通路功率P1和接收信號功率P2，可以便捷快速的獲取計(jì)算接收通路中預(yù)設(shè)頻段的插損值所需的P1和P2；通過將P1與每個(gè)P2分別相減，可以得到每個(gè)P2對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段的插損值，再將插損值輸出，使得射頻工程師可以快速便捷的測試射頻電路的接收通路插損，降低了確定接收通路問題點(diǎn)的難度，提高了射頻調(diào)試的效率。此外，本發(fā)明還提供了一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算裝置、射頻電路及終端，同樣具有上述有益效果。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。

圖1為現(xiàn)有技術(shù)中射頻電路的接收通路的電路圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算方法的流程圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例所提供的另一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算方法的流程圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算裝置的流程圖；

圖5為本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種射頻電路的接收通路的電路圖；

圖6為本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種終端的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

請參考圖2，圖2為本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算方法的流程圖。該方法可以包括：

步驟101：接收第一耦合器反饋的接收通路功率P1和預(yù)定頻段中第二耦合器反饋的接收信號功率P2。

其中，接收通路功率P1可以為處理器從射頻收發(fā)器接收的射頻電路的接收通路中第一耦合器反饋的功率，該功率為未經(jīng)過接收通路的每個(gè)頻段的初始信號功率。接收信號功率P2可以為處理器從射頻收發(fā)器接收的接收通路的預(yù)設(shè)頻段中第二耦合器反饋的功率，該功率為依次經(jīng)過射頻開關(guān)、預(yù)設(shè)頻段中射頻開關(guān)后端的匹配位和濾波器的預(yù)設(shè)頻段的最終信號功率。

對于預(yù)設(shè)頻段的設(shè)置，可以為設(shè)計(jì)人員或射頻工程師根據(jù)使用需求和實(shí)用場景設(shè)置的存在第二耦合器的射頻電路的接收通路中的頻段，預(yù)設(shè)頻段可以為接收通路中的全部頻段，也可以為其中一個(gè)或幾個(gè)頻段，本實(shí)施例對此不受任何限制。

需要說明的是，接收通路功率P1和接收信號功率P2，可以為處理器實(shí)時(shí)或按預(yù)設(shè)時(shí)間間隔接收P1和P2，并將P1和P2存儲到存儲器，如處理器實(shí)時(shí)或按每分鐘接收一次的間隔接收P1和P2，并將全部時(shí)間點(diǎn)的P1和P2存儲到存儲端，射頻工程師可以根據(jù)需求選擇某個(gè)時(shí)間點(diǎn)的P1和P2進(jìn)行接下來的插損值計(jì)算；也可以為處理器接收到查詢指令后，再接收一次或多次P1和P2，如射頻工程師在接收通路出現(xiàn)問題后，向處理器發(fā)送查詢指令，處理器再接收此時(shí)P1和P2，進(jìn)行接下來的插損值計(jì)算。本實(shí)施例對此不受任何限制。

可以理解的是，獲取接收通路功率P1和接收信號功率P2，可以為處理器直接從射頻收發(fā)器接收P1和P2；也可以為處理器從存儲器接收射頻收發(fā)器發(fā)送到存儲器存儲的P1和P2，如射頻收發(fā)器實(shí)時(shí)或按預(yù)設(shè)時(shí)間間隔將P1和P2發(fā)送到存儲器進(jìn)行存儲，處理器可以在接收到查詢指令后，根據(jù)查詢指令的信息選擇某個(gè)時(shí)間點(diǎn)和此時(shí)間點(diǎn)下的一個(gè)或多個(gè)P2與P1進(jìn)行計(jì)算，獲取此時(shí)間點(diǎn)下P2對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段的插損值。只要處理器可以獲取P1和P2，本實(shí)施例對于獲取的方式不做任何限制。

步驟102：將所述P1分別與每個(gè)所述P2相減，得到所述第一耦合器和預(yù)定頻段中所述第二耦合器之間的插損值。

其中，將P1分別與每個(gè)P2相減可以為處理器將此時(shí)刻接收到的P1與每個(gè)預(yù)設(shè)頻段對應(yīng)的P2分別相減，獲取此時(shí)刻接收通路中每個(gè)預(yù)設(shè)頻段的插損值。

可以理解的是，將P1分別與每個(gè)P2相減可以為處理器根據(jù)接收的插損查詢指令，將對應(yīng)的P1分別與對應(yīng)頻段的P2相減。如處理器實(shí)時(shí)或按預(yù)設(shè)時(shí)間間隔接收并存儲P1和P2后，可以根據(jù)射頻工程師輸入的插損查詢指令，選擇某個(gè)時(shí)間點(diǎn)的P1和此時(shí)間點(diǎn)下的一個(gè)或多個(gè)P2分別進(jìn)行相減，獲取此時(shí)間點(diǎn)下P2對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段的插損值；又如處理器接收到查詢指令后，接收一次P1和P2，若此時(shí)接收的P2為多個(gè)，可以根據(jù)射頻工程師輸入的插損查詢指令，選擇多個(gè)P2中的一個(gè)或幾個(gè)分別進(jìn)行相減，獲取此時(shí)選擇的P2對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段的插損值。本實(shí)施對此不受任何限制。

需要說明的是，將P1分別與每個(gè)P2相減可以為處理器根據(jù)接收的插損查詢指令，將對應(yīng)的P1分別與對應(yīng)頻段的P2相減，也可以為處理器直接將接收到的P1和P2相減，如處理器接收到查詢指令后，接收一次由P1和P2，直接將P1和P2相減，獲取接收通路中全部預(yù)設(shè)頻段的插損值；或者處理器接收到查詢指令后，從存儲器接收查詢指令對應(yīng)的時(shí)間點(diǎn)的P1和對應(yīng)的P2，直接將P1和P2相減，獲取查詢指令對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段在此時(shí)間點(diǎn)的插損值。本實(shí)施例對此不做任何限制。

步驟103：輸出所述插損值。

其中，輸出插損值可以為處理器只輸出預(yù)設(shè)頻段插損的數(shù)值，也可以為處理器輸出預(yù)設(shè)頻段的信息及每個(gè)預(yù)設(shè)頻段的插損值，還可以為處理器輸出插損值及插損值對應(yīng)的P1和P2。本實(shí)施例對此不受任何限制。

本實(shí)施例中，本發(fā)明實(shí)施例通過接收通路功率P1和接收信號功率P2，可以便捷快速的獲取計(jì)算接收通路中預(yù)設(shè)頻段的插損值所需的P1和P2；通過將P1與每個(gè)P2分別相減，可以得到每個(gè)P2對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段的插損值，再將插損值輸出，使得射頻工程師可以快速便捷的測試射頻電路的接收通路插損，降低了確定接收通路問題點(diǎn)的難度，提高了射頻調(diào)試的效率。

請參考圖3，圖3為本發(fā)明實(shí)施例所提供的另一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算方法的流程圖。該方法可以包括：

步驟201：接收到查詢指令后，接收一次射頻收發(fā)器發(fā)送的第一耦合器反饋的接收通路功率P1和預(yù)定頻段中第二耦合器反饋的接收信號功率P2。

其中，接收一次射頻收發(fā)器發(fā)送的接收通路功率P1和接收信號功率P2，可以為處理器在接收到查詢指令后，接收此時(shí)射頻收發(fā)器發(fā)送一個(gè)P1和與預(yù)設(shè)頻段對應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)P2。

可以理解是，本實(shí)施提供的方法應(yīng)用的處理器可以對應(yīng)一個(gè)用于測量接收通路插損的終端的應(yīng)用程序。如射頻工程師在開啟此應(yīng)用程序后可以通過點(diǎn)擊插損測試按鍵向處理器發(fā)送查詢指令，處理器在再接收此查詢指令后可以接收此時(shí)射頻收發(fā)器發(fā)送P1和P2，并通過此應(yīng)用程序顯示給射頻工程師。

步驟202：根據(jù)接收的插損查詢指令，將P1分別與對應(yīng)頻段的P2相減，得到所述第一耦合器和對應(yīng)頻段中的第二耦合器之間的插損值。

其中，插損查詢指令可以包含射頻工程師在接收到的多個(gè)P2中選擇的一個(gè)或幾個(gè)P2的信息，也就是預(yù)設(shè)頻段為多個(gè)時(shí)，射頻工程師可以根據(jù)實(shí)際情況從多個(gè)預(yù)設(shè)頻段中選擇一個(gè)或幾個(gè)頻段進(jìn)行插損計(jì)算。

也就是說，射頻工程師可以通過上述應(yīng)用程序，從顯示的多個(gè)預(yù)設(shè)頻段對應(yīng)的P2中選擇一個(gè)或幾個(gè)P2作為插損查詢指令，將P1與選擇的P2分別進(jìn)行相減，獲取選擇的P2對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段的插損值。

步驟203：輸出所述插損值。

其中，輸出插損值可以為處理器只輸出插損查詢指令對應(yīng)頻段插損的數(shù)值，也可以為處理器輸出對應(yīng)頻段的信息及每個(gè)對應(yīng)頻段的插損值，還可以為處理器輸出對應(yīng)頻段的插損值及此插損值對應(yīng)的P1和P2。本實(shí)施例對此不受任何限制。

需要說明的是，如上述應(yīng)用程序，處理器在計(jì)算出射頻工程師選擇的P2對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段的插損值之后，也就是處理器計(jì)算出射頻工程師從預(yù)設(shè)頻段中選擇出的頻段的插損值之后，可以直接將選擇出的頻段的插損值輸出，也可以將選擇出的頻段信息和對應(yīng)的插損值輸出，如輸出射頻工程師選擇的頻段B1和B1對應(yīng)的插損值；還可以將選擇的頻段的P1、P2和插損值均輸出。具體的輸出方式可以根據(jù)射頻工程師的需求設(shè)定，本實(shí)施對此不做任何限制。

本實(shí)施例中，本發(fā)明實(shí)施例通過查詢指令和插損查詢指令的加入，可以使射頻工程師更加方便快速的選擇測試接收通路插損的時(shí)間和接收通路中需要測試插損的頻段，進(jìn)一步提高了射頻調(diào)試的效率。

請參考圖4，圖4為本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種射頻電路的接收通路插損計(jì)算裝置的流程圖。該裝置可以包括：

接收模塊100，用于接收第一耦合器反饋的接收通路功率P1和預(yù)定頻段中第二耦合器反饋的接收信號功率P2；

計(jì)算模塊200，用于將所述P1分別與每個(gè)所述P2相減，得到所述第一耦合器和預(yù)定頻段中所述第二耦合器之間的插損值；

輸出模塊300，用于輸出所述插損值。

可選的，所述接收模塊100，包括：

實(shí)時(shí)接收單元，用于實(shí)時(shí)接收并存儲所述P1和所述P2；或

間隔接收單元，用于按預(yù)設(shè)時(shí)間間隔接收并存儲所述P1和所述P2；或

等待接收單元，用于接收到查詢指令后，接收所述P1和所述P2。

可選的，所述計(jì)算模塊200，包括：

判斷計(jì)算單元，用于根據(jù)接收的插損查詢指令，將對應(yīng)的P1分別與對應(yīng)頻段的P2相減，得到所述第一耦合器和對應(yīng)頻段中的第二耦合器之間的插損值。

可選的，所述判斷計(jì)算單元，包括：

判斷計(jì)算子單元，用于根據(jù)接收的插損查詢指令，將所述插損查詢指令對應(yīng)時(shí)間點(diǎn)的P1分別與預(yù)定頻段的P2相減，得到所述時(shí)間點(diǎn)的所述第一耦合器和預(yù)定頻段中的第二耦合器之間的插損值。

本實(shí)施例中，本發(fā)明實(shí)施例通過接收模塊100接收通路功率P1和接收信號功率P2，可以便捷快速的獲取計(jì)算接收通路中預(yù)設(shè)頻段的插損值所需的P1和P2；通過計(jì)算模塊200將P1與每個(gè)P2分別相減，可以得到每個(gè)P2對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段的插損值，再通過輸出模塊300將插損值輸出，使得射頻工程師可以快速便捷的測試射頻電路的接收通路插損，降低了確定接收通路問題點(diǎn)的難度，提高了射頻調(diào)試的效率。

請參考圖5，圖5為本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種射頻電路的接收通路的電路圖。該射頻電路，包括接收通路，所述接收通路可以包括：天線、第一耦合器、射頻開關(guān)、濾波器、第二耦合器、射頻收發(fā)器前端的匹配位和所述射頻收發(fā)器；

其中，所述第一耦合器，用于向所述射頻收發(fā)器反饋接收通路功率；所述第一耦合器的輸入端與天線接口相連，所述第一耦合器的輸出端與所述射頻開關(guān)的輸入端相連，所述第一耦合器的反饋端與所述射頻收發(fā)器對應(yīng)的功率檢測端口相連；所述第二耦合器，用于向所述射頻收發(fā)器反饋預(yù)定頻段的接收信號功率；每個(gè)所述第二耦合器設(shè)置于各自對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段中，每個(gè)所述第二耦合器的輸入端與各自對應(yīng)預(yù)設(shè)頻段中的所述濾波器的輸出端相連，每個(gè)所述第二耦合器的輸出端與各自對應(yīng)預(yù)設(shè)頻段中的所述匹配位的輸入端相連，每個(gè)所述第二耦合器的反饋端與所述射頻收發(fā)器對應(yīng)的功率檢測端口相連。

具體的，與天線、射頻開關(guān)和射頻收發(fā)器分別相連的第一耦合器，可以將從天線接收到的接收通路功率中的一小部分反饋到射頻收發(fā)器，大部分傳送到射頻開關(guān)；預(yù)設(shè)頻段中與濾波器、射頻收發(fā)器前端的匹配位和射頻收發(fā)器分別相連的第二耦合器，將從濾波器接收到的由大部分接收通路功率依次經(jīng)過射頻開關(guān)、射頻開關(guān)后端的匹配位和濾波器的接收信號功率的一小部分反饋到射頻收發(fā)器。反饋到的射頻收發(fā)器的接收通路功率和接收信號功率的差值可以為射頻單路的接收通路的各預(yù)設(shè)頻段的差值。

可以理解的是，第一耦合器和第二耦合器與射頻收發(fā)器的功率檢測端口的連接方式，可以為如圖5所示的第一耦合器和第二耦合器各自連接一個(gè)射頻收發(fā)器的功率檢測端口，也可以為第一耦合器和第二耦合器共同連接一個(gè)射頻收發(fā)器的功率檢測端口。只要可以將接收通路功率和接收信號功率反饋到射頻收發(fā)器，對于第一耦合器和第二耦合器與射頻收發(fā)器的功率檢測端口的具體連接方式，本實(shí)施例不做任何限制。

需要說明的是，預(yù)設(shè)頻段可以為一個(gè)或多個(gè)設(shè)置了第二耦合器的接收通路中的頻段，也可以將接收通路中全部頻段均設(shè)置為預(yù)設(shè)頻段，也就是在接收通路中的每個(gè)頻段內(nèi)均設(shè)置一個(gè)第二耦合器，本實(shí)施例對此不做任何限制。

通過圖5與圖1可以看出，圖5中的射頻電路將圖1中的耦合器換為第一耦合器，對應(yīng)的與射頻收發(fā)器連接的端口也由高功率檢測(HDET)端口變?yōu)榱斯β蕶z測(PDET)端口，具體實(shí)施中，可以如圖5所示設(shè)置第一耦合器，也可以不改變圖1中的耦合器，在天線后端和射頻開關(guān)前端的位置增加一個(gè)第一耦合器，具體連接關(guān)系可以根據(jù)實(shí)際情況設(shè)置，本實(shí)施例對此不做任何限制。

本實(shí)施例中，本發(fā)明實(shí)施例通過第一耦合器和第二耦合器，可以向射頻收發(fā)器反饋計(jì)算接收通路中預(yù)設(shè)頻段的插損值所需的接收通路功率和接收信號功率，使得射頻工程師測試射頻電路的接收通路插損時(shí)，不需要再使用其他儀表測量就可以直接通過接收通路功率和接收信號功率計(jì)算出接收通路的插損，減少了射頻工程師發(fā)現(xiàn)接收通路中問題點(diǎn)的時(shí)間和工作量，提高了射頻調(diào)試的效率。

請參考圖6，圖6為本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種終端的結(jié)構(gòu)示意圖。該終端可以包括：

如上一實(shí)施例所述射頻電路10；

處理器20，用于接收所述射頻電路10中第一耦合器反饋的接收通路功率P1和預(yù)定頻段中第二耦合器反饋的接收信號功率P2；將所述P1分別與每個(gè)所述P2相減，得到所述第一耦合器和預(yù)定頻段中所述第二耦合器之間的插損值；輸出所述插損值。

其中，所述終端具體為手機(jī)和平板電腦等具有無線通訊功能的設(shè)備。

可選的，處理器20還可以用于接收到查詢指令后，接收一次第一耦合器反饋的接收通路功率P1和預(yù)定頻段中第二耦合器反饋的接收信號功率P2；根據(jù)接收的插損查詢指令，將P1分別與對應(yīng)頻段的P2相減，得到所述第一耦合器和對應(yīng)頻段中的第二耦合器之間的插損值；輸出所述插損值。

本實(shí)施例中，本發(fā)明實(shí)施例通過處理器20接收射頻電路10中射頻收發(fā)器發(fā)送接收通路功率P1和接收信號功率P2，并將P1與每個(gè)P2分別相減，可以得到每個(gè)P2對應(yīng)的預(yù)設(shè)頻段的插損值，再將插損值輸出，使得射頻工程師可以快速便捷的測試射頻電路的接收通路插損，降低了確定接收通路問題點(diǎn)的難度，提高了射頻調(diào)試的效率。

說明書中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似部分互相參見即可。對于實(shí)施例公開的裝置、射頻電路和終端而言，由于其與實(shí)施例公開的方法相對應(yīng)，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法部分說明即可。

專業(yè)人員還可以進(jìn)一步意識到，結(jié)合本文中所公開的實(shí)施例描述的各示例的單元及算法步驟，能夠以電子硬件、計(jì)算機(jī)軟件或者二者的結(jié)合來實(shí)現(xiàn)，為了清楚地說明硬件和軟件的可互換性，在上述說明中已經(jīng)按照功能一般性地描述了各示例的組成及步驟。這些功能究竟以硬件還是軟件方式來執(zhí)行，取決于技術(shù)方案的特定應(yīng)用和設(shè)計(jì)約束條件。專業(yè)技術(shù)人員可以對每個(gè)特定的應(yīng)用來使用不同方法來實(shí)現(xiàn)所描述的功能，但是這種實(shí)現(xiàn)不應(yīng)認(rèn)為超出本發(fā)明的范圍。

結(jié)合本文中所公開的實(shí)施例描述的方法或算法的步驟可以直接用硬件、處理器執(zhí)行的軟件模塊，或者二者的結(jié)合來實(shí)施。軟件模塊可以置于隨機(jī)存儲器(RAM)、內(nèi)存、只讀存儲器(ROM)、電可編程ROM、電可擦除可編程ROM、寄存器、硬盤、可移動(dòng)磁盤、CD-ROM、或技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)所公知的任意其它形式的存儲介質(zhì)中。

以上對本發(fā)明所提供的射頻電路的接收通路插損計(jì)算方法、裝置、射頻電路及終端進(jìn)行了詳細(xì)介紹。本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想。應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以對本發(fā)明進(jìn)行若干改進(jìn)和修飾，這些改進(jìn)和修飾也落入本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。