技術(shù)特征:1.一種面向SATD的拉格朗日因子計(jì)算方法,其特征在于,具體包括如下步驟:
步驟1,根據(jù)高碼率條件下熵受限標(biāo)量量化的編碼器的率失真模型R(D):
推導(dǎo)出基于SSE的拉格朗日因子λmode:
其中R表示碼率,D表示失真,δ2表示DCT域殘差的方差;
步驟2,哈達(dá)瑪變換具有能量集中的特性,主要將能量集中在二維矩陣的左上角,由于哈達(dá)瑪變換與DCT具有類似的特性,因此哈達(dá)瑪變換殘差也被描述為高斯分布:
其中x表示哈達(dá)瑪變換后的殘差,δh為哈達(dá)瑪變換后殘差的標(biāo)準(zhǔn)差;
在失真測度為SATD的情況下,得率失真模型:
則得面向SATD的拉格朗日因子λpre:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的面向SATD的拉格朗日因子計(jì)算方法,其特征在于,步驟2中公式(9)中參數(shù)δ的計(jì)算方法如下:
對于M×M大小的殘差塊系數(shù)r,經(jīng)DCT變換后得變換矩陣T:
其中A為DCT矩陣,則:
其中[·]u,u表示矩陣中位于(u,u)位置出的系數(shù)值,符號R'定義為:
參數(shù)ρ用于度量水平方向和垂直方向上像素值之間的相關(guān)性,其值設(shè)置為0.6;參數(shù)δp用于表示殘差塊內(nèi)像素的標(biāo)準(zhǔn)差,該值可通過平均絕對差值MAD近似:
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的面向SATD的拉格朗日因子計(jì)算方法,其特征在于,步驟2中公式(9)中參數(shù)δh的計(jì)算方法如下:
哈達(dá)瑪變換域的預(yù)測殘差服從均值為零方差為δh2的高斯分布,則根據(jù)期望值E的定義,得:
同時得到:
則哈達(dá)瑪變換域的標(biāo)準(zhǔn)差δh: